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[发明专利]一种蔗糖产品全生命周期碳排放测算方法-CN202310263299.9在审
发明人：罗立霄;冯冬冬;朱锡山;旷运坤;罗贞;张微;陈伟崇;陈思诗;唐晖迪;覃英参;陈荣坚 -专利权人：广西壮族自治区特种设备检验研究院
申请日： 2023-03-17 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01N33/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种蔗糖产品全生命周期碳排放测算方法，所述方法包括如下步骤：S1、确定蔗糖产品的碳排放测算的目标和碳足迹测算的功能单位；S2、绘制蔗糖产品的生产工艺流程图并确定其碳排放边界；S3、确定蔗糖生产加工各个环节CO2排放源并进行相应数据的采集，整理获得的投入产出的数据信息；S4、选取蔗糖产品全生命周期各个项目的碳排放因子；S5、构建蔗糖产品全生命周期的碳排放测算模型；S6、利用碳排放测算模型对各个环节的碳排放数据进行计算，得到蔗糖产品的碳足迹。本发明可以科学、客观、综合的核算蔗糖产品全生命周期的碳排放量，帮助蔗糖企业分析碳排放关键点，识别碳减排方向，达到保护环境的目的。
一种蔗糖产品生命周期排放测算方法

[发明专利]多叶法拉第筒、多叶法拉第筒测量系统及其应用-CN202110010455.1有效
发明人：肖舒颜;郭刚;张艳文;覃英参;殷倩;杨新宇 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2021-01-05 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本公开提供一种多叶法拉第筒、多叶法拉第筒测量系统及其应用。该多叶法拉第筒适用于大气环境测量，其包括多个交替排列的导体和绝缘体，导体和绝缘体通过绝缘的紧固件紧密连接；其中，导体用于沉积被测束流中被测粒子所带的电荷，绝缘体用于阻挡导体上产生的二次电子在相邻导体间扩散。上述多叶法拉第筒结构简单、占用空间小，其紧凑型结构可以将装置中的空气排出，较大幅度地降低多叶法拉第筒在大气环境下测量的本底噪声，提高了测试精确度和准确度。基于上述多叶法拉第筒，本公开的多叶法拉第筒测量系统能够在大气环境下实现对不同能量范围质子束流自动化测量，保证了测量过程的安全性，且操作方便快捷。
法拉第测量系统及其应用

[发明专利]质子注量率测量装置及系统-CN202011419740.0有效
发明人：张艳文;郭刚;刘建成;覃英参;殷倩;肖舒颜;杨新宇 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2020-12-07 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本公开提供了一种质子注量率测量装置及系统，其中该装置包括吸收结构和补偿结构，吸收结构用于吸收入射的质子束流；补偿结构沿质子束流的入射方向设置于吸收结构之前，在测量质子束流注量率过程中为吸收结构提供二次电子发射补偿；其中，吸收结构和补偿结构采用的材料均为石墨。通过本公开实施例的质子注量率测量装置，可以通过二次电子发射补偿，避免高压电源的使用，在方便操作的同时，还确保了测量的准确率。同时，由于补偿结构和吸收结构的材料均采用石墨，使得该装置在大气下即可以实现质子注量率的测量，同时极大地降低了残余伽马辐射剂量，降低了探测过程中的电离辐射，确保试验人员的安全。
质子注量率测量装置系统

[发明专利]光阑结构及质子束流辐照装置-CN202110010149.8有效
发明人：隋丽;郭刚;覃英参;庞郁静;刘建成;龚毅豪 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2021-01-05 - 公布日： 2021-11-23 - 主分类号： G21K1/04 文献下载
摘要：本公开提供了一种光阑结构及质子束流辐照装置。其中，光阑结构包括通束件和支撑件，通束件具有通束光阑，用于使得入射的质子束流具有准直特性；支撑件在垂直于质子束流的入射路径的方向上，与通束件相互交错设置；其中：通束光阑的中心线与质子束流的束斑中心线重合；以及通束件与支撑件之间具有可拆装关系。因此，通过本公开的光阑结构，可以实现在光阑结构上对不同孔径的通束件的快速拆装切换，使得光阑的切换更为快捷，极大地缩短了光阑切换的时间，减少了实验人员的辐射暴露时间，降低辐射影响，同时也提高了实验效率。
光阑结构质子辐照装置

[发明专利]确定待测器件倾角辐照注量的方法、装置及电子设备-CN202110010346.X有效
发明人：殷倩;郭刚;刘建成;张艳文;覃英参;肖舒颜;杨新宇 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2021-01-05 - 公布日： 2021-11-23 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明公开了一种确定待测器件倾角辐照注量的方法、装置及电子设备，上述方法包括：确定当前位置的待测器件的水平位置坐标；获取注量率与位置坐标的函数关系；以及根据注量率与位置坐标的函数关系以及当前位置的待测器件的水平位置坐标确定当前位置的待测器件的注量率，进而确定辐照至待测器件表面的总注量。上述方法可以实时输出较为准确的注量率/注量结果。
确定器件倾角辐照方法装置电子设备

[发明专利]重离子微束辐照装置、系统及控制方法-CN202011419739.8在审
发明人：张艳文;郭刚;刘建成;覃英参;殷倩;肖舒颜;杨新宇 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2020-12-07 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G21K5/10 文献下载
摘要：本公开提供了一种重离子微束辐照装置、系统及控制方法。其中，重离子微束辐照装置包括调节平台，调节平台沿重离子束流的入射路径设置；调节平台包括针孔架，针孔架沿入射路径设置于调节平台上，针孔架的针孔轴线与入射路径共轴平行，以形成高质量微束；调节平台用于控制针孔架的位置，以实现针孔轴线与入射路径共轴平行。通过调节平台的控制，实现针孔轴线与重离子束流的入射路径共轴平行，使得针孔架的针孔实现了对束径的限制，对重离子质量和能量的影响较小，得到了亚微米级高质量微束，成本低、周期短，同时还实现了高质量微束的精准控制，控制操作更加智能，自动化程度更高。
离子辐照装置系统控制方法

[发明专利]一种重离子微束定位方法及用于该方法的芯片-CN201610880420.2有效
发明人：柳卫平;欧阳晓平;史淑廷;郭刚;陈泉;惠宁;蔡莉;沈东军;张艳文;刘建成;韩金华;覃英参;郭红霞;李丽丽 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2016-10-09 - 公布日： 2019-05-24 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明属于重离子微束辐照技术领域，具体涉及一种重离子微束定位方法及用于该方法的芯片。包括在芯片内设定一个具有至少一对竖直边缘、水平边缘的定位测试电路，定位测试电路的边缘内部为敏感区域，重离子微束入射到敏感区域都能够产生单粒子瞬态脉冲信号；所述方法包括：通过放大设备确定定位测试电路的位置；使其位于重离子微束的束斑附近；分别使定位测试电路的竖直边缘和水平边缘通过束斑；得到X轴方向、Y轴方向的脉冲计数与位置图像；得到坐标(X₀，Y₀)，根据芯片上的其他待测位置相对于定位测试电路的位置为(ΔX，ΔY)得到其他待测位置的坐标(X₀+ΔX，Y₀+ΔY)。该方法的优点是减少定位步骤和误差，对其他待测位置定位快速、精确。
一种离子定位方法用于芯片

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