专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光电探测器频率响应测量方法及装置-CN201710950882.1有效
  • 薛敏;潘时龙;衡雨清;余彩云 - 南京航空航天大学
  • 2017-10-13 - 2019-06-14 - G01R23/16
  • 本发明公开了一种光电探测器频率响应测量方法。该方法将光载波分为上、下两路;然后将微波信号强度调制于上路光载波上,生成载波抑制的光双边带调制信号,对下路光载波进行频移操作,同时测出载波抑制的光双边带调制信号的光功率PM以及频移后的下路光载波的光功率PA;将载波抑制的光双边带调制信号与频移后的下路光载波合束后输入待测光电探测器,并测出待测光电探测器输出信号中所包含的两个频率分量中任意一个的功率;最后根据所测量功率,计算出待测光电探测器在ωe‑Δω或ωe+Δω频率处的频率响应R(ωe‑Δω)、R(ωe+Δω)。本发明还公开了一种光电探测器频率响应测量装置。相比现有技术,本发明可有效拓展测量范围,提高测量精度,降低实现成本。
  • 光电探测器频率响应测量方法装置
  • [发明专利]一种电光调制器频率响应测量方法及测量系统-CN201610958264.7有效
  • 薛敏;潘时龙;衡雨清 - 南京航空航天大学
  • 2016-11-03 - 2019-04-05 - G01R23/02
  • 本发明公开了一种电光调制器频率响应测量方法及测量系统,采用光分束器将光载波信号分成上下两路,上路采用马赫‑曾德尔调制器将微波源1输出的微波信号调制到光载波上,生成抑制载波的双边带信号,并在放大后用作泵浦信号;下路通过待测电光调制器将微波源2输出的微波信号调制到光载波上,生成双边带信号。调节微波源1与微波源2的频率,使得布里渊介质中待测电光调制器所输出的双边带信号形成单边带信号。光电探测器将单边带信号转换为电信号,并由幅相接收机提取该电信号的幅度和相位信息,从而获取待测电光调制器和光电探测器的联合响应;移除光电探测器的频率响应即获得待测电光调制器的频率响应。
  • 一种电光调制器频率响应测量方法测量系统
  • [发明专利]光器件频响测量方法及测量装置-CN201710591672.8有效
  • 薛敏;卿婷;潘时龙;李树鹏;衡雨清 - 南京航空航天大学
  • 2017-07-19 - 2019-01-29 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种光器件频响测量方法。步骤如下:对双音微波信号进行光单边带调制,生成双音光探测信号,所述双音微波信号由频率差为固定值Δω的两个微波信号分量构成;将经由待测光器件传输后的双音光探测信号转换为电信号;从所述电信号中提取待测光器件与测量系统在双音光探测信号中的两个频率分量的均值频率处的联合幅度响应和联合相位响应;从联合幅度响应和联合相位响应中去除测量系统的幅度响应和相位响应,即得待测光器件在双音光探测信号中的两个频率分量的均值频率处的幅度响应和相位响应。本发明还公开了一种光器件频响测量装置。本发明能够消除接收机的频率依赖性及其引起的测量不确定度,实现光器件的高精确度测量,并降低实现成本。
  • 器件测量方法测量装置
  • [发明专利]超高分辨率光矢量分析方法及装置-CN201710048394.1有效
  • 薛敏;潘时龙;李树鹏;卿婷;衡雨清 - 南京航空航天大学
  • 2017-01-20 - 2019-01-08 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种超高分辨率的光器件光矢量分析方法及装置,本发明方法将单波长光探测信号分为两路,一路以固定的频移量进行移频操作,另一路直接通过光纤,然后对两路光进行耦合;光耦合器输出的两路光探测信号,一路直接进光探测模块,得到参考信号;另一路经过待测器件再输进光探测模块,得到测量信号;提取所述参考信号与测量信号的幅度相位信息,经信号处理得到待测光器件在光探测信号频率处的幅频响应与相频响应;改变单波长光探测信号的波长并重复上述过程,得到待测光器件的光谱矢量响应信息。本发明还公开了一种光器件光谱响应测量系统。本发明能够在实现光器件幅频响应和相频响应的高精度测量的同时,提高测量速度,大幅降低成本。
  • 超高分辨率矢量分析方法装置
  • [发明专利]一种光电探测器频率响应测量方法及测量系统-CN201610958263.2有效
  • 薛敏;潘时龙;衡雨清 - 南京航空航天大学
  • 2016-11-03 - 2019-01-04 - G01R23/02
  • 本发明公开了一种光电探测器频率响应测量方法及测量系统,属于光电器件测量和微波光子学技术领域。本发明采用强度调制器将微波信号调制到光载波上,加以适当的直流偏置,生成抑制载波的光双边带探测信号;光分束器将上述光信号分成两路,一路输入光功率计检测光功率,另一路输入待测光电探测器;微波功率计测量待测光电探测器输出微波信号的功率。对微波信号进行频率扫描,即可获取光探测信号光功率和光电探测器输出微波信号功率随频率的变化曲线。根据光电探测器频率响应定义,可得到待测光电探测器的频率响应曲线。本发明还公开了一种光电探测器频率响应测量系统。相比现有技术,拓展了测量范围,提高了测量精度和效率。
  • 一种光电探测器频率响应测量方法测量系统

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