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[发明专利]阵列基板、阵列基板的修复方法及显示面板-CN201911147557.7有效
发明人： 胡婷平 -专利权人：合肥维信诺科技有限公司
申请日： 2019-11-21 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： H01L27/32 文献下载
摘要：本发明公开了一种阵列基板、阵列基板的修复方法及显示面板，阵列基板包括：衬底；器件层，设置在衬底上，器件层包括第一导体层，第一导体层包括间隔设置的第一导线和第二导线；以及测试组件，设置在衬底上，测试组件包括第一测试垫、第二测试垫以及待切割结构，第一测试垫与第一导线电连接，第二测试垫与第二导线电连接，待切割结构将第一导线和第二导线电连接，第一测试垫、第一导线、待切割结构、第二导线以及第二测试垫形成第一测试支路，根据第一测试支路的第一电阻信息得到待切割结构的第一切割深度信息。本发明提供的阵列基板，能够对阵列基板上的待切割结构的修复效果进行检测。
阵列修复方法显示面板

[发明专利]阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板-CN201911134051.2有效
发明人：曹婷婷;施文峰;胡婷平;雷权 -专利权人：合肥维信诺科技有限公司
申请日： 2019-11-19 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本发明公开了一种阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板。阵列基板线路检测结构包括：多个测试单元，每个测试单元包括m个测试线组，每个测试线组包括n条测试线，其中m为大于等于2的整数，n为大于等于2的整数，每个测试单元的各测试线依次排列，按照各测试线的排列顺序，每间隔m‑1条的测试线属于同一个测试线组，测试线用于与阵列基板的信号线电连接；测试焊盘，对应每个测试线组设置有一个测试焊盘，每个测试线组的测试线电连接至同一个测试焊盘，测试焊盘用于通过对应的测试线组的各测试线向对应的信号线输入测试信号以及接收对应的信号线的反馈信号。通过本发明公开的阵列基板线路检测结构能够对信号线短路进行检测。
阵列线路检测结构及其方法

[发明专利]阵列基板的修补方法、修补系统-CN201911192532.9有效
发明人：曹婷婷;施文峰;胡婷平 -专利权人：合肥维信诺科技有限公司
申请日： 2019-11-28 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： G09F9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种阵列基板的修补方法、修补系统。阵列基板的修补方法包括：通过检测装置获取阵列基板的待测区域的第一图像；通过修补装置获取阵列基板的待测区域的第二图像；根据第二图像，对第一图像校准，得到校准图像；通过检测装置在校准图像上标注缺陷位置；以及根据包含缺陷位置的校准图像，通过修补装置对阵列基板进行修补。根据本发明实施例的阵列基板的修补方法，根据修补装置获取的第二图像，对检测装置获取的第一图像校准，得到校准图像，使得该校准图像能够被修补装置直接识别，进一步地，修补装置能够直接根据包含缺陷位置的校准图像对阵列基板进行修补，提升对阵列基板修补的效率。
阵列修补方法系统

[发明专利]缺陷检测方法和装置、存储介质-CN201911165457.7在审
发明人： 胡婷平 -专利权人：合肥维信诺科技有限公司
申请日： 2019-11-25 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明公开一种缺陷检测方法和装置、存储介质。该方法通过获取待测电子器件在N种光源下的N个灰度图像；获取第i个灰度图像中的缺陷占用的像素信息形成第i个缺陷位置信息；根据第i个灰度图像的各线路的线路位置信息及第i个缺陷位置信息，确定第i个灰度图像中缺陷的缺陷类型；根据第1个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型至第N个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型，得到待测电子器件的缺陷汇总结果。根据本发明实施例，能够提高缺陷类型判断的准确性。
缺陷检测方法装置存储介质

[发明专利]一种自动光学检测聚焦定位方法-CN201610481569.3有效
发明人： 胡婷平 -专利权人：昆山国显光电有限公司
申请日： 2016-06-27 - 公布日： 2019-06-04 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请公开了一种玻璃基板的自动光学检测聚焦定位方法，包括：在玻璃基板下表面设置标准片，所述标准片反射率大于所述玻璃基板反射率；使用自动光学检测设备聚焦定位至标准片，获得第一焦距，所述第一焦距为自动光学检测设备聚焦定位至标准片时的焦距；依据所述第一焦距，调整所述自动光学检测设备聚焦定位至第二焦距；其中，所述第二焦距为第一焦距减去修正值。通过使用本申请中公开的方法，可以避免自动光学检测仪器聚焦到玻璃基板下表面或无法聚焦的情况，从而提高了自动光学检测仪器的工作范围。
一种自动光学检测聚焦定位方法