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[发明专利]用于对折平的薄膜管打孔的打孔机和方法-CN201780089121.X有效
发明人：托马斯·埃格勒;弗洛里安·朗;约翰内斯·施特劳斯;贝恩德·布拉茨;罗伯特·克里格;马丁·库普卡 -专利权人：克朗斯股份公司
申请日： 2017-10-19 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： B26F1/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于对折平的薄膜管打孔的打孔机和方法。因此，打孔机包括可连续转动的磁滚筒和反压滚筒以及磁性地紧固在磁滚筒上的柔性的冲压板材，冲压板材具有用于对薄膜管打孔的切割线。此外由于存在用于磁滚筒的控制部，利用该控制部能够使切割线的圆周速度在与反压滚筒的作用区域内与薄膜管的运输速度匹配而与之相对地在作用区域以外改变，所以可以以灵活和经济的方式沿薄膜管以不同的间距制造不同的打孔部。冲压板材此外允许在打孔机上进行廉价的规格变换。
用于对折薄膜打孔打孔机方法

[实用新型]改换折叠楔形件和贴标签设备-CN201920363079.2有效
发明人：马丁·库普卡;罗伯特·克里格 -专利权人：克朗斯股份公司
申请日： 2019-03-21 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： B65C3/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及改换折叠楔形件和贴标签设备，所述改换折叠楔形件用于处理用以给物品配备从薄膜软管分离下来的标签套的贴标签设备的薄膜软管，所述改换折叠楔形件的离开侧的端部(105)具有至少一个滚动元件。
改换折叠楔形贴标签设备

[发明专利]用于供应标签套的设备-CN201710484786.2有效
发明人： 罗伯特·克里格 -专利权人：克朗斯股份公司
申请日： 2015-01-13 - 公布日： 2019-06-04 - 主分类号： B65C3/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种供应标签套的设备，其包括：用于从卷盘提供薄膜软管的开卷设施；用于将标签套与薄膜软管分离的供应设施；以及在开卷设施与供应设施之间构造出的张紧装置，利用该张紧装置可以使薄膜软管在输送时保持拉应力，其中，在张紧装置与供应设施之间构造出仅在与薄膜软管(5)的输送方向(8)相反的方向上持续地作用的用于薄膜软管的反向制动装置。本发明还涉及一种包括上述设备的贴标签设备。
用于供应标签设备

[发明专利]用于供应标签套的设备-CN201510064883.7有效
发明人： 罗伯特·克里格 -专利权人：克朗斯股份公司
申请日： 2015-01-13 - 公布日： 2017-07-28 - 主分类号： B65C3/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种将标签套供应给容器的设备，其包括用于从卷盘提供薄膜软管的开卷设施；用于将标签套与薄膜软管分离的供应设施；以及在开卷设施与供应设施之间构造出的张紧装置，利用该张紧装置可以使薄膜软管在输送时保持拉应力，其中，在张紧装置与供应设施之间构造出用于薄膜软管的反向制动装置。本发明还涉及一种包括上述设备的贴标签设备。
用于供应标签设备

[发明专利]用于施加收缩膜套筒的方法和装置-CN201580033017.X在审
发明人：弗罗里安·朗;斯特凡·舍尔;托马斯·埃格勒;贝恩德·布拉茨;罗伯特·克里格 -专利权人：克朗斯股份公司
申请日： 2015-01-12 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： B65C3/06 文献下载
摘要：本发明涉及用于将收缩膜套筒(1)施加于容器(9)的方法和装置。所述方法包括如下步骤：a)对收缩膜套筒(1)以预定距离穿孔；b)借助于张开装置、特别是张开芯轴(3)使穿孔的收缩膜套筒(1)张开；c)通过输送辊对(4a，4b)沿着张开装置(3)输送张开的收缩膜套筒(1)；d)利用下游分配辊对(5a，5b)使收缩膜套筒(1)在穿孔处撕断，分配辊对(5a，5b)的输送速度(V撕断)至少暂时地比输送辊对(4a，4b)的输送速度(V输送)高；以及e)将分离的收缩膜套筒(1)射送到容器(9)。
用于施加收缩套筒方法装置

[发明专利]用于机器的工作区域的锁定装置和保险装置-CN201110021003.X有效
发明人： 罗伯特·克里格;雷蒙德·霍夫 -专利权人：克罗内斯股份公司
申请日： 2011-01-13 - 公布日： 2011-08-03 - 主分类号： F16P3/08 文献下载
摘要：一种用于机器的工作区域的锁定装置和保险装置，锁定装置包括锁销，锁销布置在可摆动的活动盖板或门上，锁销可借助可手动操纵的杠杆、手柄或把手运动，锁销与布置在框架上的容纳开口共同作用，锁销沿着其纵向延伸方向具有多个用于与壳体固定的或框架固定的容纳元件共同作用的嵌接元件，纵向延伸方向近似地与锁销在可摆动的活动盖板或门打开或关闭时的运动方向相应，共同作用的嵌接元件和容纳元件迫使至少在活动盖板或门打开时在至少两个相反的运动方向、摆动方向或转动方向上多次手动操纵杠杆、手柄或把手，由此使每次打开运动在时间上延迟并因此给予转动的和/或运动的机器部件足够时间，以达到先前通过另一安全装置已开始进行或触发的静止状态。
用于机器工作区域锁定装置保险装置

[发明专利]能够证明生命体中的物质的传感器-CN200810144573.6有效
发明人：阿恩·亨格勒;罗伯特·克里格;塞巴斯蒂安·施米特;拉尔夫·斯特雷克 -专利权人：西门子公司
申请日： 2008-08-22 - 公布日： 2009-02-25 - 主分类号： A61B19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种能够证明生命体中的物质的传感器，包括探针分子，用于与待证明的物质结合，还包括标记元件，这些标记元件构成为，使得探针分子与待证明的物质的结合可以通过这些标记元件借助成像模件来证明。这使得例如能够采集仅存在于很小浓度中的抗原或病原体。
能够证明生命体中的物质传感器

[发明专利]测定身体部位的正电子发射测量信息的方法及所属装置-CN200710137980.X有效
发明人： 罗伯特·克里格;罗恩·格雷齐奥索 -专利权人：西门子公司
申请日： 2007-04-04 - 公布日： 2007-11-28 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：在正电子发射断层造影范畴内测定与至少一个周期性运动过程有关的身体区域的正电子发射测量信息的方法，包含步骤：在要检查的区域中进行正电子发射测量以测定功能的正电子发射测量信息，与正电子发射测量同时地用高时间分辨率的解剖成像方法、尤其计算机断层造影方法在至少一个测量时间段内将要检查的身体区域的解剖测量信息采集限制在一个拍摄面上，用解剖成像方法以高时间分辨率在至少一个运动过程周期内采集解剖参考测量信息的完整四维数据组并根据解剖成像方法的属于正电子发射测量的测量时间段的限制于拍摄面上的解剖测量信息与所述四维解剖参考测量信息的比较，使所述测量时间段的正电子发射测量信息与相应解剖参考测量信息对应。
测定身体部位正电子发射测量信息方法所属装置

[发明专利]组合的正电子发射断层造影设备和磁共振断层造影设备-CN200610074765.5有效
发明人： 罗伯特·克里格;雷纳·库思;拉尔夫·拉德贝克;拉尔夫·奥佩尔特;沃尔夫冈·伦兹;塞巴斯蒂安·施米特;马库斯·维斯特 -专利权人：西门子公司
申请日： 2006-04-03 - 公布日： 2006-10-04 - 主分类号： A61B6/02 文献下载
摘要：本发明涉及对检查对象进行图像显示的组合正电子发射断层造影和磁共振断层造影设备和方法。该设备具有对应于检查空间的设备部件和为检查对象的PET图像分析电信号的第一分析单元。该设备部件包括具有对应电子单元的Gamma射线检测器。该组合设备还包括MRT设备和用于为检查对象的MRT图像分析磁共振信号的第二分析单元。该MRT设备具有高频天线装置和梯度线圈系统，其中高频天线装置设置得比梯度线圈系统更接近检查空间，还具有设置在梯度线圈系统和高频天线装置之间的高频屏障。PET设备部件设置在高频屏障和高频天线装置之间，且至少在朝向高频天线装置的一侧具有由高频天线装置引起的高频射线无法穿透的屏蔽罩。
组合正电子发射断层造影设备磁共振

[发明专利]组合的正电子发射断层造影设备和磁共振断层造影设备-CN200610074764.0无效
发明人： 罗伯特·克里格;雷纳·库思;拉尔夫·拉德贝克;拉尔夫·奥佩尔特;沃尔夫冈·伦兹;塞巴斯蒂安·施米特;马库斯·维斯特 -专利权人：西门子公司
申请日： 2006-04-03 - 公布日： 2006-10-04 - 主分类号： A61B6/02 文献下载
摘要：本发明涉及对检查对象进行图像显示的组合正电子发射断层造影和磁共振断层造影设备和方法，该设备具有对应于检查空间的设备部件和对检查对象的正电子发射断层造影图像分析电信号的第一分析单元和具有对应电子单元的Gamma射线检测器。还包括磁共振断层造影设备，其具有高频天线装置和梯度线圈系统。高频天线装置为具有至少两个导体的带状导体天线装置，并比梯度线圈系统更接近检查空间，还具有梯度线圈系统和高频天线装置之间的高频屏障和第二分析单元。带状导体天线装置的每个导体各包括一个具有所属电子单元的Gamma射线检测器单元并为相应的Gamma射线检测器单元和电子单元构造成不能被高频天线装置引起的高频射线穿透的屏蔽罩。
组合正电子发射断层造影设备磁共振

[发明专利]失真校正的磁共振测量和磁共振设备-CN200410056679.2有效
发明人：瓦勒·坎达;罗伯特·克里格;奥利弗·施雷克 -专利权人：西门子公司
申请日： 2004-08-12 - 公布日： 2005-02-16 - 主分类号： G01R33/565 文献下载
摘要：本发明涉及利用磁共振设备(31)和失真校正算法(9)进行失真校正的磁共振检查方法和实施该方法的磁共振设备。该算法采用描述测量使用磁场的系数(11)。在选择检查区域(39，39’，39A)之后，利用失真校正算法(9)和描述磁场的系数(11)来确定校正所需的测量区域(27，49)。在该测量区域内(27，49)进行磁共振测量。借助失真校正算法产生检查区域(39，39’，39A)的失真校正的磁共振图像。在磁共振设备(31)显示器(47)上可以显示检查区域(39，39’，39A)和测量区域(27，49)及测量时间(T，T_K)。这种磁共振测量在磁共振图像中不包含由于失真而未能测量的图像元素(41，55)。
失真校正磁共振测量设备

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