专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种光学检测装置及方法-CN202210298714.X在审
  • 田依杉;兰艳平 - 上海御微半导体技术有限公司
  • 2022-03-22 - 2023-09-29 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种光学检测装置及方法,该光学检测装置包括用于承载待测对象的载物台和用于向所述待测对象发射检测光束的照明模块,以及对焦模块,用于通过光学组件将所述检测光束经分光分别射入待测对象和参考焦面,并通过光学组件汇聚至光谱记录仪;数据处理模块,用于获取所述干涉光束的相位信息和光谱波长,并根据所述干涉光束的相位信息和光谱波长计算,当所述待测对象的待测面置于最佳焦面时所述载物台相对于成像物镜之间的最佳相对距离;控制模块,用于控制驱动部驱动所述载物台在垂直于所述载物台所在平面的方向上运动,使载物台相对于成像物镜之间的相对距离达到所述最佳相对距离。该装置用以在保证光学检测准确度的基础上提高检测效率。
  • 一种光学检测装置方法
  • [发明专利]LED背光结构-CN202010830087.0有效
  • 孟宪芹;彭玮婷;田依杉;凌秋雨;郭宇娇;王维;王飞;陈小川 - 京东方科技集团股份有限公司
  • 2020-08-18 - 2023-07-14 - G02F1/13357
  • 本申请涉及一种LED背光结构,包括:透明衬底;LED阵列,其设置在透明衬底上;透明封装层,其位于透明衬底的具有LED阵列的一侧,用于封装LED阵列。其中,LED背光结构还包括:反射层,所述反射层能够向所述LED背光结构的出光侧反射入射的LED光线;第一微结构层,所述第一微结构层相对于所述LED阵列靠近所述LED背光结构的出光侧,能够使入射的LED光线发散,同时入射的LED光线一部分可透过所述第一微结构层,一部分被所述第一微结构层反射。该LED背光结构使得LED阵列入射到基板内的光反复在背光结构中震荡传输实现光程的倍数级增长,达到更好的匀光效果的同时,且无需减小LED阵列中的LED间距。
  • led背光结构
  • [发明专利]一种曲面检测装置-CN202210022328.8有效
  • 田依杉;兰艳平 - 合肥御微半导体技术有限公司
  • 2022-01-10 - 2023-06-23 - G01N21/88
  • 本发明实施例公开了一种曲面检测装置,该装置包括光源、椭球镜和成像系统,通过设计椭球镜为空心结构且其表面包括一狭槽,利用椭球反光碗从一个焦点出射的光经过椭球碗内表面反射之后在另一个焦点会聚的特点,将光源设置在椭球镜的长轴的第一焦点上,将待测物穿过狭槽的开口区域且设置在长轴的第二焦点上,利用光源发射的检测光线经椭球镜的内反射面反射后到达待测物的检测区域被反射后形成反射光线经狭槽出射,成像系统接收反射光线并生成检测区域表面所成的像,进而对表面缺陷进行识别,该结构具有光源能量集中、利用率高的特点,可以实现待测物的边缘弧面的明场照明,便于识别待测物的边缘表面缺陷。
  • 一种曲面检测装置
  • [发明专利]一种缺陷检测装置和方法-CN202211624199.6在审
  • 田依杉;兰艳平;江周周;李志明 - 合肥御微半导体技术有限公司
  • 2022-12-16 - 2023-03-28 - G01N21/95
  • 本发明公开了一种缺陷检测装置和方法。缺陷检测装置包括:载物平面、离轴照明模块、成像模块和分析处理模块。所述载物平面用于承载待测物。所述离轴照明模块用于产生并发出离轴照明光束。所述成像模块用于根据所述离轴照明光束经所述待测物的待检测面反射后形成的成像光束,对所述待检测面进行成像,以生成图像信号,其中,所述离轴照明光束的主光线与所述成像模块的轴线之间的夹角不为0。所述分析处理模块与所述成像模块连接,用于根据所述图像信号识别所述待检测面的缺陷区域。本发明方案增加了待检测面上不同倾斜度之间的成像亮度差,方便对浅缺陷的识别,提高检测精度。
  • 一种缺陷检测装置方法
  • [发明专利]近眼显示装置和虚拟/增强现实设备-CN201911301184.4有效
  • 凌秋雨;王维;孟宪东;孟宪芹;闫萌;田依杉;郭宇娇;陈小川 - 京东方科技集团股份有限公司
  • 2019-12-17 - 2023-02-28 - G02B27/01
  • 本发明实施例提供一种近眼显示装置和虚拟/增强现实设备。近眼显示装置包括基底、设置在所述基底上的组合微透镜阵列以及位于所述基底远离眼睛一侧的像素岛阵列,所述组合微透镜阵列包括多个间隔设置的组合微透镜,所述像素岛阵列包括多个间隔设置的像素岛,每个像素岛对应于一个组合微透镜,所述像素岛设置在所对应的组合微透镜的焦点处;所述组合微透镜包括设置在所述基底朝向眼睛一侧表面上的第一微透镜和设置所述第一微透镜与像素岛之间的附加微透镜。本发明通过设置组合微透镜阵列,使得像素岛边缘部分的像素点能够形成有效视场,提高了每个透镜视场角下像素点的个数,在满足近眼显示轻薄化要求的前提下提高显示分辨率。
  • 显示装置虚拟增强现实设备
  • [发明专利]一种缺陷检测系统及缺陷检测方法-CN202211165738.4在审
  • 田依杉;兰艳平 - 上海御微半导体技术有限公司
  • 2022-09-23 - 2022-12-23 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种缺陷检测系统及缺陷检测方法,包括光线输出模块、光线调节模块、探测模块和处理控制模块;光线输出模块用于输出探测光束;光线调节模块位于探测光束的传输路径上,用于调节探测光束入射至待探测物,待探测物反射探测光束形成成像光束,成像光束携带探测物的缺陷信息;探测模块位于成像光束的传播路径上,形成探测图像;处理控制模块与探测模块连接,用于根据探测图像确定待探测物的缺陷信息;处理控制模块还与光线调节模块连接,用于根据探测需求选择照明模式,照明模式包括明场照明模式、暗场照明模式以及眀场暗场混合照明模式。处理控制模块通过对光线调节模块的调节,实现探测光束完成不同的照明模式,满足更多样化的需求。
  • 一种缺陷检测系统方法
  • [发明专利]一种光场显示器件以及光场显示系统-CN202110587427.6在审
  • 田依杉;薛高磊;凌秋雨;高健;王维;彭玮婷;孟宪芹;陈小川 - 京东方科技集团股份有限公司
  • 2021-05-27 - 2022-11-29 - G02B30/27
  • 本发明涉及3D显示技术领域,具体涉及一种光场显示器件以及光场显示系统。该光场显示器件包括:显示组件,沿着所述显示组件的出光方向依次设置有透镜阵列以及至少一个主透镜,其中,所述透镜阵列的最高点到所述显示组件之间的距离等于所述透镜阵列的焦距;所述透镜阵列的最高点到所述主透镜之间的距离小于或等于所述主透镜的焦距;使用时,经由显示组件发出的光线首先经由透镜阵列进行一次偏折以及发散角收束,之后再经过主透镜进行二次偏折以及发散角收束,最终进入人眼相应的视点;综上所述,本申请通过透镜阵列和主透镜的配合对光线的发散角进行两次收束调制,以提高进入人眼相应视点的分辨率,进而提高显示分辨率。
  • 一种显示器件以及系统

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