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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]基于单光子探测器的重叠物厚度检测方法、装置及其应用-CN202310293165.1有效
发明人： 潘仁奇;沈炜;沈锴;沈昕嘉;马宁 -专利权人：杭州宇称电子技术有限公司
申请日： 2023-03-24 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本申请提出了基于单光子探测器的重叠物厚度检测方法、装置及其应用，包括以下步骤：S00、利用单光子探测器将X射线的能量分为多个能量区间，并分别设置每个能量区间的阈值；S10、分别获取X射线在每个能量区间下无被检测物体时的计数以及X射线在每个能量区间下穿过检测物体时的计数；S20、根据S10步骤的结果，分别计算每个能量区间下X射线的透射率；S30、根据S20步骤的每个透射率、系统能谱D(E)以及重叠物的每层物体材料的线性吸收系数，求解重叠物的每层物体的厚度。本申请可方便地检测出重叠的多层物体的厚度。
基于光子探测器重叠厚度检测方法装置及其应用

[发明专利]基于X射线K-吸收边的书画文物颜料成像方法及其应用-CN202310564166.5在审
发明人： 潘仁奇;沈炜;丁帅斌;岳晓光;沈锴 -专利权人：杭州宇称电子技术有限公司
申请日： 2023-05-18 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本申请提出了基于X射线K‑吸收边的书画文物颜料成像方法及其应用，包括以下步骤S00、通过X射线照射待检测书画文物，进行扫描透射测量；S10、测量获取X射线在K‑吸收边上边缘和下边缘处的透射率；S20、重复S00‑S10步骤，直至完成对待检测书画文物全部面积的扫描测量；S30、根据扫描测量结果、所需检测的感兴趣元素以及每个感兴趣元素K‑吸收边对应的能量值，计算每个扫描点位的感兴趣元素的面密度；S40、根据每个扫描点位的感兴趣元素的面密度，以图片的形式展示所需检测的感兴趣元素在书画文物上的分布情况。本申请具有成像速度快、噪声小、图像分辨率高的优点。
基于射线吸收书画文物颜料成像方法及其应用

[发明专利]环境光干扰抑制方法、装置及其应用-CN202310340486.2有效
发明人：马宁;沈锴;何梦凡;丁卓龙;潘仁奇 -专利权人：杭州宇称电子技术有限公司
申请日： 2023-04-03 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：本申请提出了环境光干扰抑制方法、装置及其应用，包括以下步骤：S00、以固定的第一周期间隔发射设定数量的激光脉冲；S10、以固定的第二周期间隔开窗SPAD，以使得SPAD仅在使能时间段响应光子产生脉冲，并触发TDC输出时间信息；S20、将TDC的计时起始与激光脉冲的发射周期的起始同步，并使得TDC的计时终止时间由每个发射周期对应的首光子事件触发，同时将测得的时间差作为事件时间；S30、根据每个采样周期获得的事件到达时间做统计直方图并找到峰值时刻，通过该峰值时刻和光子飞行时间求得目标距离。本申请可优化信号处理和算法复杂度，实现更高精度、更远距离的单光子计数直接飞行时间测距。
环境干扰抑制方法装置及其应用

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共 3 条

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