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[发明专利]一种基于概率物理的MOS场效应管寿命快速预测方法-CN202211651016.X在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-12-21 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06F30/39 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于概率物理的MOS场效应管寿命快速预测方法，通过MOS场效应管高温加速试验，缩短试验时间，定时获取MOS场效应管的导通阻抗数据，为MOS场效应管使用寿命的评估提供充足的数据，针对数据特点，分别采用加速退化建模和加速寿命建模的方法，对导通阻抗数据进行数学分析，预测MOS场效应管在正常工作应力下的使用寿命，为集成电路生产商的元器件选型提供数据支撑。在保证集成电路整体的可靠性水平的前提下控制集成电路的生产成本。
一种基于概率物理 mos 场效应寿命快速预测方法

[发明专利]基于概率物理的稳压二极管使用寿命快速预测方法-CN202211651009.X在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-12-21 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于概率物理的稳压二极管使用寿命快速预测方法，利用概率物理办法依据加速退化试验和加速寿命建模快速预测电源产品中稳压二极管使用寿命。将产品置于比额定工作应力水平更高的环境中进行试验，然后对试验数据进行建模分析，通过合适的加速模型进行外推得到产品在额定工作应力下的寿命分布。应力不同则产品性能的退化轨道也会随之变化，退化轨道的形式与应力参数是相关的，在高应力下确定退化轨道的表达式后，通过加速模型可以得到额定工作应力水平下产品性能的退化轨道，依靠可靠度函数进行寿命预测。
基于概率物理稳压二极管使用寿命快速预测方法

[发明专利]一种锂电池可靠性状态快速检测方法-CN202211651017.4在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-12-21 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01R31/367 文献下载
摘要：本发明公开了一种锂电池可靠性状态快速检测方法，包括以下步骤：S1、通过多种充放电方式，获取锂电池充放电曲线，基于充放电曲线定义性能特征参数；S2、分析性能特征参数与电池健康状态SOH的相关性，得到相关系数，对相关系数排序，基于排序，获得关键性能特征；S3、基于关键性能特征，对电池健康状态SOH进行建模，基于主成分分析法对性能特征参数进行降维，得到综合性能特征；S4、定义判断锂电池健康状态的指标，对锂电池健康状态进行判断。
一种锂电池可靠性状态快速检测方法

[发明专利]一种基于产品售后故障文本挖掘的故障分析方法及系统-CN202211634624.X在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-12-19 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G06F16/2455 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于产品售后故障文本挖掘的故障分析方法及系统，该方法包括以下步骤：S1.采集结构化故障文本的新样本；S2.将新样本输入多维度故障文本相似分析模型，获取知识库中的标准样本，将新样本与标准样本进行相似度分析输出最匹配的标准样本，根据最匹配的标准样本获得失效知识链条；该系统包括结构化故障文本采集模块和多维度故障文本相似分析模型；本发明建立了产品售后历史样本、标准样本和新样本的关联关系，实现快速故障分析。
一种基于产品售后故障文本挖掘分析方法系统

[发明专利]一种基于零失效的开关型器件加速寿命试验设计方法-CN202211600352.1在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-12-13 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于零失效的开关型器件加速寿命试验设计方法，包括：获取目标开关型器件在额定应力下所需的最小样本量n0；获取目标开关型器件在加速应力下的定时截尾试验时间tS0；根据最小样本量n0和定时截尾试验时间tS0，开展试验进行验证。通过该方法能够根据开关型器件Weibull分布的特点，给出零失效情形下可靠寿命的验证方案，并提供理论依据作为支撑，从而有效降低对高可靠性开关型器件的可靠性试验验证所需的时间，提高算法的适用性。
一种基于失效开关器件加速寿命试验设计方法

[发明专利]基于失效物理分析的铝电解电容器寿命快速预测方法-CN202211644050.4在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-12-20 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于失效物理分析的铝电解电容器寿命快速预测方法，包括：对铝电解电容器失效机理进行分析，结合加速性能退化试验数据，确定铝电解电容器的性能退化参数；基于铝电解电容器的性能退化参数确定威布尔分布参数估计，得到性能退化模型和加速模型；基于性能退化模型、加速模型和参数失效阈值计算可靠度，实现对铝电解电容器寿命预测。本发明通过对产品的机理分析，结合加速性能退化试验数据，确定性能退化参数，针对关键性能退化参数建立退化模型和加速模型，求取退化模型和加速模型的模型参数，外推得到产品正常使用环境下的寿命，提升铝电解电容寿命预测的精度和速度。
基于失效物理分析铝电解电容器寿命快速预测方法

[发明专利]一种PCBA电路失效模式及影响分析方法-CN202211312740.X在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-10-25 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种PCBA电路失效模式及影响分析方法，包括：获取待分析PCBA电路各级的输入端、输出端和接地端，作为各级功能接口；将各级功能接口作为分析对象，根据参考标准，完全列举输出各级功能接口的失效模式；从待分析PCBA电路最底层级开始，建立每一层级功能接口到上一层级功能接口的失效模式映射，直至最高层级；将每一层级功能接口到上一层级功能接口的相同失效模式进行合并，得到待分析PCBA电路由内部电路失效导致的故障模式；根据故障模式，对待分析PCBA电路进行影响分析。该方法保证了PCBA电路失效模式表达的统一性，提高了失效模式量化的可操作性，进而显著提高了PCBA电路失效模式及影响分析实际应用的有效性。
一种 pcba 电路失效模式影响分析方法

[发明专利]基于图像数据和加速退化建模的焊点热疲劳寿命预测方法-CN202211641831.8在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-12-20 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于图像数据和加速退化建模的焊点热疲劳寿命预测方法，包括：通过电路板焊点热疲劳寿命加速试验获取焊点疲劳裂纹长度图像数据,计算得到各试验应力不同时刻焊点疲劳裂纹长度；对各试验应力下不同时刻焊点疲劳裂纹长度进行焊点热疲劳性能加速退化建模分析，计算各试验应力的焊点热疲劳可靠寿命；通过各个试验应力的焊点热疲劳可靠寿命求解加速模型，推导出焊点在正常工作应力下的焊点热疲劳可靠寿命；拟合焊点的热疲劳寿命模型，得到焊点在正常工作应力热疲劳寿命分布。本发明加速应力试验能够预测电路板焊点在正常工作应力下的热疲劳寿命，为电路板生产商制定切实有效的售后方案提供数据支撑。
基于图像数据加速退化建模焊点热疲劳寿命预测方法

[发明专利]BMS产品线束接触不良故障在线监测的安全修复方法-CN202211478006.0在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-11-23 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01R31/67 文献下载
摘要：本发明公开了BMS产品线束接触不良故障在线监测的安全修复方法，包括：根据预设条件判断BMS产品是否发生线束接触不良故障；确定发生所述线束接触不良故障的起始时刻，以及出现线束断开故障时刻；采集接触不良故障的起始时刻到断开故障时刻之间对应的单体电池出现异常的测量数据；通过电池工作机理，分析电池电压、电流与电池荷电状态之间的关系，并建立关系模型；计算所述关系模型中的未知参数，并计算和补充被剔除值。该方法利用电池工作原理以及单体电池数据的相关关系，对缺失数据进行插补。相比于直接的拟合函数插补，基于电池工作原理和参数相关关系模型的插补方法的理论依据更加充分，完善后的数据可有助于准确评估BMS产品可靠性。
bms 产品线接触不良故障在线监测安全修复方法

[发明专利]一种基于可靠性要求的PCBA电路板产品筛选方法-CN202211476872.6在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-11-23 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G06F16/9035 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于可靠性要求的PCBA电路板产品筛选方法，包括：评估PCBA电路板产品的早期故障率；根据所述PCBA电路板产品的早期故障率与预设条件，生成产品的可靠性目标值；建立所述可靠性目标值与产品的所述早期故障率、筛选所用的应力强度大小和筛选时间的函数关系，并结合所述预设条件，确定最优的筛选应力强度和筛选时间。该方法有助于PCBA生产商确筛选结果和筛选成本；保证PCBA电路板产品在可靠性水平的前提下控制筛选成本；有助于PCBA电路板生产商准确筛选出存在故障隐患的产品，提高产品的可靠性，优化生产效率。
一种基于可靠性要求 pcba 电路板产品筛选方法

[发明专利]一种温度传感器使用寿命快速验证方法及装置-CN202211517535.7在审
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01K15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种温度传感器使用寿命快速验证方法及装置，该方法包括：建立温度传感器的加速寿命试验模型；获取目标温度传感器实际使用环境的相关参数；将相关参数代入加速寿命试验模型中计算得到加速因子，通过加速因子计算试验的循环次数；根据循环次数对目标温度传感器进行温度循环试验，试验后对目标温度传感器的结构和性能进行检测，通过失效阈值对比获取目标温度传感器使用寿命的验证结果；本发明方法通过建立加速寿命试验模型，计算得到加速因子，进而求出试验的循环次数；在对比温度传感器的性能指标之后可以快速验证温度传感器的使用寿命，避免了常规试验时间过长，试验成本过高，效率低下的问题，有助于保证轨道车辆的安全运行。
一种温度传感器使用寿命快速验证方法装置

[发明专利]一种性能退化模型预测精度验证方法-CN201811053996.7有效
发明人：冯静;孙权 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2018-09-11 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：一种性能退化模型预测精度验证方法，其步骤如下：1）采集数据；2）确定备选模型形式；3）计算备选模型的预测误差；4）建立数据量、预测时长以及备选模型预测误差的关系模型；5）确定各数据量下的最优模型。本发明从预测误差角度全面的、完整的评价性能退化模型的优劣。为工程研究关于模型验证和选择的方面提供一种新的思路。同时，也解决了在有限的训练数据下，如何选取最优模型的工程难题。
一种性能退化模型预测精度验证方法

[发明专利]一种加速贮存与自然贮存退化数据一致性检验方法-CN201811049762.5有效
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2018-09-10 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G06F17/10 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于Kendall相关系数的加速贮存与自然贮存退化数据一致性检验方法。方法是对来自加速贮存试验的数据进行回归拟合，得到与自然贮存数据等退化量水平下所需经历的试验时间序列。通过计算各加速应力水平与自然贮存下所对应的试验时间间隔序列的Kendall相关系数，判断两组序列的相关性，从而推断加速贮存与自然贮存下的失效机理是否保持一致。该一致性检验方法对加速试验的实施方案及其试验数据的有效性进行验证，以保证产品寿命预测与验证的有效性。
一种加速贮存自然退化数据一致性检验方法

[发明专利]基于留一交叉验证的性能退化模型精度验证方法-CN201811053679.5有效
发明人：冯静;孙权 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2018-09-11 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：一种基于留一交叉验证的性能退化模型精度验证方法，其步骤如下：1）采集数据；2）确定备选模型形式；3）拟合得到备选模型方程；4）计算备选模型拟合误差；5）计算备选模型的预测误差；6）利用预测误差值评价模型；7）确定最优模型。本发明从拟合误差、预测误差两个角度全面的、完整的评价性能退化模型的优劣，为工程研究关于模型验证和选择的方面提供一种新的思路。
基于交叉验证性能退化模型精度方法

[发明专利]面向预测精度要求的性能退化建模数据量优化方法-CN201811053807.6有效
发明人：孙权;冯静 -专利权人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
申请日： 2018-09-11 - 公布日： 2021-01-01 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：一种面向预测精度要求的性能退化建模数据量优化方法，其步骤如下：1）采集数据；2）确定备选模型形式；3）计算备选模型的预测误差；4）建立数据量、预测时长以及备选模型预测误差的关系模型；5）确定各预测时长目标下的最优模型；6）确定最优训练数据量要求。本发明从预测误差角度全面的、完整的评价性能退化模型的优劣。为工程研究关于模型验证和选择的方面提供一种新的思路。同时，也解决了在指定预测时长下，如何选取最优模型，以及在给定预测精度范围内，如何确定最优训练数据量要求的工程难题。
面向预测精度要求性能退化建模数据量优化方法

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