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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]分析装置及其控制方法、分析系统-CN202210305483.0在审
发明人： 深津元;宫坂哲也 -专利权人：株式会社基恩士
申请日： 2022-03-25 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G05B19/05 文献下载
摘要：一种分析装置及其控制方法、分析系统。本发明的目的在于，利用基本单元所保持的器件或变量以外的信息，基于庞大的数据高效地进行分析。另外，作为其它目的，以从庞大的数据的分析结果中提取重要的数据来进行报告为目的。一种分析装置，具备：存储部件，其存储对与可编程逻辑控制器有关的信息中的不同于码元值的PLC信息进行解析而决定的与器件有关的属性信息；执行引擎，其重复执行用户程序；获取部件，其获取通过执行所述用户程序而收集到的、包含时间序列的多个码元值的运转记录数据；以及处理部件，其基于存储在所述存储部件中的PLC信息来输出针对获取到的所述运转记录数据分析不满足正常条件的非正常码元而得到的分析报告。
分析装置及其控制方法系统

[发明专利]半导体集成电路器件的设计方法-CN200510088200.8无效
发明人：西川亮太;深津元 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2005-07-22 - 公布日： 2006-01-25 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：是一种半导体集成电路器件的设计方法。对半导体集成电路器件内路径中的超过所要求的信号传递时间的路径，分离路径使与属于该路径的构成要素的输出连接的其他的构成要素的数量减少。通过这样，提供可以实现提高半导体集成电路器件的性能和速度的设计方法，同时提供与利用现有的EDA工具的自动化设计流程融合，可以进行比现有技术性能更高和速度更快的设计方法。
半导体集成电路器件设计方法

[发明专利]半导体集成电路-CN200410042944.1无效
发明人：柄谷康治;深津元;岛村秋光 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2004-06-04 - 公布日： 2005-02-02 - 主分类号： G06F1/10 文献下载
摘要：例如触发器等同步电路单元，一些组成模块，其它保持不组成模块。在根据本发明的半导体集成电路中，向多个不组成模块的同步电路单元的每一个同步电路单元独立提供时钟产生电路，用于时钟输入，以控制时钟时滞，并且实现更低的功耗。时钟产生电路独立地连接到多个功能模块的每一个功能模块，以用于时钟输入，并且这些多个功能模块每一个都包括多个组成模块的同步电路单元。
半导体集成电路

[发明专利]半导体设备-CN200410036894.6无效
发明人：松田源一郎;岛村秋光;深津元 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2004-04-21 - 公布日： 2004-10-27 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：一种半导体设备，包括：其内部具有指令寄存器的处理器；响应测试操作而激活并产生伪随机数的伪随机数发生装置；输入切换装置，用于在正常操作中的数据输入和测试操作中的来自伪随机数发生装置的伪随机数的输入之间切换，从而将数据或伪随机数输出到指令寄存器。将在伪随机数发生装置中产生的伪随机数经过输入切换装置输入指令寄存器，以便执行随机指令，并以与正常操作相同的激活速率来执行随机测试。
半导体设备

[发明专利]半导体装置-CN200310123271.8有效
发明人： 深津元 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2003-12-23 - 公布日： 2004-07-07 - 主分类号： H01L27/00 文献下载
摘要：在一种利用存储器BIST过程进行半导体存储器检测的方法中，当难以在一个周期内执行比较时，将流水线过程用于期望值比较，在此情况下，为了减少触发器的数量并减少所占的区域，在进行存储器BIST过程时，共享地使用了流水线用触发器以及扫描观测用触发器和/或扫描/控制用触发器。
半导体装置

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