专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]经光提取特征的空间分布补偿背光显示组件的非均匀亮度-CN201910399090.9有效
  • 陈东;沈诗哲 - 脸谱科技有限责任公司
  • 2019-05-14 - 2021-08-20 - G02B27/01
  • 本发明涉及经由光提取特征的空间分布补偿背光显示组件的非均匀亮度。一种头戴式设备,包括显示块和光学块。显示块包括:波导,被配置为接收来自光源组件的光;多个提取特征,其具有跨越波导的一个或多个表面的空间分布,其中,多个提取特征将来自波导的光向外耦合,并且空间分布使得向外耦合的光具有第一非均匀亮度分布;以及显示面板,被配置为调制外耦合光以形成图像光,其中,图像光具有部分基于第一非均匀亮度分布的亮度分布。光学块包括被配置为将图像光引导到眼罩的光学元件,并且光学块添加被第一非均匀亮度分布补偿的第二非均匀亮度分布,使得引导到眼罩的图像光具有目标亮度分布。
  • 提取特征空间分布补偿背光显示组件均匀亮度
  • [发明专利]基于线对的全场清晰度测试方法和系统-CN201310435062.0有效
  • 吴斐;M·N·加玛迪亚;沈诗哲 - 苹果公司
  • 2013-06-28 - 2017-02-22 - H04N17/00
  • 本发明公开涉及基于线对的全场清晰度测试方法和系统。使用包括两组或更多组平行线对的叠加的测试图表,可以测试用于大量制造消费者电子设备的光学部件的光学特性,其中所有各组平行线对都以不同的倾角被定向。各组线对可被定向成使得它们彼此垂直。测试系统能够快速且客观地评估例如横贯成像系统的全图像视场的光学部件在不同方向上的清晰度,该成像系统使用用于透镜成像的光学部件来捕获图表的数字图像。其他实施例也被描述且要求保护。
  • 基于全场清晰度测试方法系统
  • [发明专利]相机瑕疵缺陷检测-CN201310130108.8有效
  • 张红勤;沈诗哲;I·A·麦卡里斯特 - 苹果公司
  • 2013-03-05 - 2013-10-23 - H04N17/00
  • 缩放数字相机模块捕获的数字图像到一个较小的尺寸,并且利用一维空域滤波器分别进行水平方向滤波和垂直方向滤波。组合水平方向滤波后的图像和垂直方向滤波后的图像,其中组合后的滤波图像的边缘区域和角落区域与它的中间区域是以不同方式生成的。然后对组合后的滤波图像进行阈值处理,标记从阈值化图像中选择出来的像素为瑕疵区域。还描述并且请求保护了其它实施例。
  • 相机瑕疵缺陷检测
  • [发明专利]全场锐度测试-CN201210552924.3有效
  • M·N·加玛迪亚;吴斐;沈诗哲;J·鲁克斯 - 苹果公司
  • 2012-09-28 - 2013-04-24 - H04N17/00
  • 本发明涉及全场锐度测试。提出了一种测试图,该测试图可以通过具有由不留间隙地彼此邻接从而形成镶嵌图案的多个相同的视觉元素形成的锐度检查区域,而被用来测试成像系统的全像场的锐度性能。每个视觉元素可以是多组不同取向的对比线。该镶嵌图案可充满由成像系统的成像器捕获的整个图像。因此,测试系统可对测试图成像,以在捕获的图像的整个空间范围上的一定水平的图像质量(例如,锐度、倾斜度等)的方面来客观地评价成像系统的性能。可以选择测试图的尺寸与视觉元素线的空间频率(例如,间隔)以测试在选择的空间频率处的成像系统的全场锐度。全场锐度结果可被用于更快速且精确地确定给定成像系统及其组件的图像质量的不同方面。
  • 全场测试
  • [实用新型]保护盖-CN201220177050.3有效
  • 周创业;张红勤;沈诗哲;M·迪文森特 - 苹果公司
  • 2011-09-20 - 2012-12-26 - G03B11/04
  • 本实用新型涉及保护盖。本实用新型要解决的一个技术问题是避免用于具有朝后的照相机组件的电子设备的保护盖不利地影响所捕获图像的质量。提供了一种适用于保护电子设备的保护盖,所述电子设备至少具有朝后的照相机组件,所述照相机组件具有布置成捕获从对象反射的光中的至少一些的透镜组件和靠近所述透镜组件并被布置成发射用于照射所述对象的光的光源,其中从所述对象反射的光中的一部分是由所述光源提供的,所述保护盖包括:外壳,所述外壳具有符合所述电子设备、适于围住所述电子设备的后部的至少一部分的形状,所述外壳包括:大小和形状符合所述光源的光源开口。通过本实用新型改善了由朝后的照相机组件捕获的图像质量。
  • 保护
  • [实用新型]保护盖和系统-CN201120351744.X有效
  • 周创业;张红勤;沈诗哲;M·迪文森特 - 苹果公司
  • 2011-09-20 - 2012-06-06 - G03B11/04
  • 本实用新型涉及保护盖和系统。本实用新型要解决的一个技术问题是避免用于具有朝后的照相机组件的电子设备的保护盖不利地影响所捕获图像的质量。提供了一种用于电子设备的保护盖,电子设备至少具有朝后的照相机组件,照相机组件具有透镜组件和靠近透镜组件的光源,保护盖包括:外壳,外壳具有符合电子设备、适于围住电子设备的后部的至少一部分的形状,外壳包括:关于照相机组件适当地确定大小和位置、允许来自光源的光照射对象然后反射回透镜组件用于图像捕获的开口;以及防止由光源发射并由除被照射对象之外的其它任何物体反射的光到达透镜组件的阻光机构。通过本实用新型改善了由朝后的照相机组件捕获的图像质量。
  • 保护系统
  • [实用新型]用于产生均匀光强分布的半导体激光光束线的光学器件-CN200420081663.2无效
  • 沈诗哲;张全 - 浙江大学
  • 2004-07-23 - 2006-02-08 - G02B27/10
  • 本实用新型公开了一种用于产生均匀光强分布的半导体激光光束线的光学器件。它的入射面具有左凹圆柱面、右凹圆柱面,以及与左凹圆柱面相连接的左平面和与右凹圆柱面相连接的右平面,左凹圆柱面、右凹圆柱面中心轴平行并互相连接构成尖角,出射面为一凸圆柱面,左凹圆柱面、右凹圆柱面的中心轴与凸圆柱面中心轴相互垂直,与凸圆柱面相连接的上表面和下表面垂直于左凹圆柱面、右凹圆柱面并相互平行。本实用新型与半导体激光器组成可以产生半导体激光光束线的系统有成本低、光束线光强分布均匀性好、工作距离可以任意改变、结构紧凑、系统简单的优点。可以广泛用于工业加工中的校准,光学照排,光学数据记录等领域。
  • 用于产生均匀分布半导体激光光束光学器件
  • [实用新型]一种热扩展芯径微透镜多模光纤-CN200420023915.6无效
  • 张全;沈诗哲 - 浙江大学
  • 2004-06-10 - 2005-08-31 - G02B6/32
  • 本实用新型公开了一种热扩展芯径微透镜多模光纤。它是在多模光纤端头部分热扩展芯径,热扩展芯径部分端头具有楔形光纤端面以及圆弧面与楔形光纤端面相切的圆柱状光纤微透镜。其优点是:对多模光纤进行比较简便的芯径热扩展和光纤研磨工艺处理,可制作出耦合效率高且耦合容忍度高的用于耦合大功率半导体激光器的微透镜光纤。通过针对不同发光区域的半导体激光器,选择不同芯径的热扩展芯径微透镜光纤,可以获得结构紧凑、高耦合效率、高亮度的光纤耦合大功率半导体激光器。此外,由于此热扩展芯径微透镜光纤的加工简单,以及较高耦合容忍度所带来的简便封装,使整体激光器耦合器件的成本降低。可以广泛用于固体激光器泵浦、工业激光加工、光纤激光器等领域。
  • 一种扩展芯径微透镜光纤

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