专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]连续旋转旋进电子衍射断层扫描的方法-CN202111657062.6在审
  • 孙俊良;沈弈寒;孙文甲;刘扬;周钲洋 - 苏州青云瑞晶生物科技有限公司
  • 2021-12-30 - 2022-05-06 - G01N23/207
  • 三维电子衍射已逐渐成为人们探索微观世界的强有力的工具,本文中,我们展示了一种新的三维电子衍射数据收集方法,命名为连续旋转旋进电子衍射断层扫描(Continuous Precession Electron Diffraction Tomography,cPEDT),该方法是旋进电子衍射断层扫描(Precession Electron Diffraction Tomography,PEDT)与连续旋转电子衍射(Continuous Rotation Electron Diffraction,cRED)的结合。使用cPEDT的方法,可以避免PEDT方法中步进式的过程引入的不必要的电子剂量,同时利用cPEDT收集到的数据也可以进行动力学精修从而确定材料的精确结构。该方法可以促进三维电子衍射在一些电子束敏感材料上的应用,如,金属‑有机框架材料(Metal‑Organic Frameworks,MOFs)、共价有机框架材料(Covalence Organic Frameworks,COFs)及一些有机物、无机物晶体等。
  • 连续旋转电子衍射断层扫描方法
  • [发明专利]结构模型确定方法、装置、计算机设备及可存储介质-CN202010808663.1在审
  • 孙俊良;沈弈寒 - 北京大学
  • 2020-08-12 - 2020-11-20 - G16C60/00
  • 本发明适用于物质科学计算机技术领域,提供了一种结构模型确定方法、装置、计算机设备及可存储介质,包括:获取待测物质的初始结构模型;根据预设的对称性偏离的容忍因子,确定与初始结构模型对应的对称晶胞;获取对称晶胞对应晶系中的对称操作组;获取初始结构模型在所述对称操作组下的第一目标结构模型;根据第一目标结构模型的单晶衍射强度,从第一目标结构模型中确定第二目标结构模型。本发明可快速地从已有初始结构模型中确定出其他可能的新结构模型,且该新结构模型与已有结构模型具有相同的X射线/中子/电子粉末衍射或单晶衍射,提高了结构解析过程中合理结构模型的确定效率,在物质的结构确定中具有广泛的用途,对后继开发提供极大的便利。
  • 结构模型确定方法装置计算机设备存储介质

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