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[发明专利]一种注塑机注射成形过程异常的监控方法及设备-CN202310371995.1在审
发明人：张云;贺鉴;周华民;应泽辰;李思宏;沈关成;黄志高 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2023-04-03 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： B29C45/76 文献下载
摘要：本发明属于注塑机监控相关技术领域，其公开了一种注塑机注射成形过程异常的监控方法及设备，包括离线训练和在线监控两个阶段，离线训练阶段采集多种不同工艺条件下的特征数据和压力‑位置数据；特征数据组合为特征数据集合，压力‑位置数据用于构建特征提取模型，实现对压力‑位置数据的特征提取；使用特征提取模型输出的降维向量构建工艺识别模型。在线监控阶段将特征提取模型输出的降维向量、误差向量和采集的特征数据组合为特征向量；将降维向量输入到工艺识别模型中获取所属工艺类别，并依据工艺类别获取对应工艺的历史特征向量，复用历史特征向量并基于异常检测方法计算异常因子，进而依据异常因子进行异常监控。本发明提高了准确率。
一种注塑注射成形过程异常监控方法设备

[发明专利]用于测量聚合物成型过程中分子结晶度的装置及测量方法-CN202211506570.9在审
发明人：周华民;李茂源;沈关成;张云;王云明;黄志高;周何乐子;周孟源;李龙辉 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-11-28 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明属于聚合物分子结晶测量相关技术领域，其公开了一种用于测量聚合物成型过程中分子结晶度的装置及测量方法，装置包括叉指电极、与叉指电极连接的复介电常数测量模块以及与复介电常数测量模块连接的结晶度计算模块，其中，所述结晶度计算模块根据以下公式获得所述叉指电极检测处对应的聚合物的结晶度Δχi：其中，Δνi为晶体区域的体积分数，εr为复介电常数测量模块测量得到的待测聚合物的相对介电常数，εri为聚合物完全结晶时的相对介电常数，εrj为聚合物完全非结晶时的相对介电常数；ρi为结晶区密度，ρj为非结晶区密度，本申请可以实现多个方向上结晶度的测量，抗干扰能力强，非常适用于工业化应用。
用于测量聚合物成型过程分子结晶度装置测量方法

[发明专利]用于测量聚合物成型过程中分子取向的装置及测量方法-CN202110739032.3有效
发明人：周华民;王云明;张云;沈关成;李茂源;余文劼;周晓伟 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2021-06-30 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01N27/22 文献下载
摘要：本发明属于聚合物分子取向测量相关技术领域，其公开了一种用于测量聚合物成型过程中分子取向的装置及测量方法，装置包括：同轴圆筒探针，包括屏蔽层、绝缘层以及2n个电极，n≥2，2n个电极间隔镶嵌于绝缘层的一圆周面上，圆周面上同一直径上的两电极为一组，所述2n个电极生成至少2组电极；复介电常数测量单元与所述2n个电极连接，用于通过每组电极检测对应方向上聚合物分子的介电常数；取向计算模块与所述复介电常数测量单元连接，用于根据每组电极的介电常数获得该组电极检测处对应的聚合物分子的取向值。本申请可以实现多个方向上取向张量的准确测量，抗干扰能力强，非常适用于工业化制备和应用。
用于测量聚合物成型过程分子取向装置测量方法