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[发明专利]一种电池片立式花篮视觉检测系统-CN202311006225.3有效
发明人：杨中明;杨美娟;肖凯 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-08-10 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种电池片立式花篮视觉检测系统，具体涉及视觉检测技术领域，包括图像采集模块：面帧相机通过电动滑台进行滑动，对立式花篮中的电池片进行轮询采集；图像处理模块：对采集到的图像数据利用局部二维高斯函数对背景光照进行拟合；缺陷筛选模块：对隐裂缺陷进行筛选，对花篮中电池片的漏片、斜插，以及粘片情况进行计算；缺陷检测模块：预设不同的缺陷类型特征，通过卷积神经网络进行电池片缺陷的检测；功能模块：汇总本次系统运行监测的所有花篮中电池片的缺陷与质量等级的汇总数据。通过机器视觉技术进行电池片的自动检测，采用高分辨率相机，可在短时间内获取花篮中所有电池片的图像，提高检测效率和准确性。
一种电池立式花篮视觉检测系统

[发明专利]一种电池片测试装置-CN202310838237.6在审
发明人：杨美娟;杨中明;肖凯 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-07-10 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明公开一种电池片测试装置，包括一横向设置的旋转单元，该旋转单元上安装有横向设置的旋转轴，所述旋转轴上安装有一竖向的旋转座，该旋转座随旋转轴对应旋转，而所述的旋转座上则设置有若干个间隔均匀的长条状的工位板，而每一工位板内均设置有外侧端开口的工位槽，且工位槽的尺寸设置与电池片大小尺寸相适配。本发明整体是利用圆盘旋转工位的工作方式实现电池片的整体测试工作，首先通过送料机构实现送料，然后通过测试机构实现电池片的测试工作，判断测试结果，然后通过剔料机构将有质量瑕疵的电池片剔除，并且将好的电池片码放收集整体，非常适合工业化连续生产测试，有效的提升了测试效率，节省了测试时间。
一种电池测试装置

[发明专利]太阳能成品电池片的检测装置及其检测方法-CN202310944458.1在审
发明人：杨中明;杨美娟;肖凯 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-07-31 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N3/307 文献下载
摘要：本发明涉及太阳能电池片生产技术领域，具体为一种太阳能成品电池片的检测装置，包括工作台，工作台上设有转盘，工作台内设有步进式电机，转盘上设有多个置放治具，围绕转盘依次设有第一搬运机械手、纠偏装置、抚平装置、第一冲击装置、第二冲击装置、弯曲检测装置、第二搬运机械手和第三搬运机械手，第一搬运机械手、第二搬运机械手和第三搬运机械手的旁侧分别设有第一输送带、第二输送带和第三输送带，第一冲击装置包括第一侧架、上冲击机构和下定位机构，第二冲击装置包括第二侧架、上定位机构和下冲击机构。本发明不仅实现了电池片的自动上下料，还提高了检测的效率以及检测的质量，提高了电池片的生产效率。
太阳能成品电池检测装置及其方法

[发明专利]一种电池片缺陷检测及颜色分选机构-CN202310929405.2在审
发明人：杨中明;杨美娟;肖凯 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-07-27 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及电池片检测技术领域，具体是一种电池片缺陷检测及颜色分选机构，包括基板，所述基板的顶部一侧设有底盘，所述底盘的顶部转动安装有旋转轴，所述旋转轴的顶部设有旋转盘，所述旋转盘的顶部绕其圆心依次设置有四个治具组件，所述基板的顶部绕旋转盘的圆心依次设有上下料组件、第一检测机构、翻转组件和第二检测机构，所述第一检测机构和第二检测机构的结构相同，所述底盘的顶部设有转动电机，所述转动电机的输出轴上设有主动齿轮，所述旋转轴上设有从动齿轮，所述从动齿轮与主动齿轮啮合，本发明第一检测机构和第二检测机构自动对其中的视觉检测摄像头进行自动降温操作，避免视觉检测摄像头高温烧毁，整个检测工作的正常。
一种电池缺陷检测颜色分选机构

[发明专利]一种接触式电池片方阻测量方法及系统-CN202311193100.6在审
发明人：杨中明;杨美娟 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-09-15 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01R31/389 文献下载
摘要：本发明公开了一种接触式电池片方阻测量方法及系统，属于方阻测量技术领域，方法包括：在待测电池片的边缘选取四个接触点A、B、C、D，其中，第一接触点A与第三接触点C之间的连线和第二接触点B与第四接触点D之间的连线的夹角在85°至95°之间；在四个接触点A、B、C、D上分别连接探针；在相邻的所述第一接触点A与所述第二接触点B之间通入电流IAB，测量所述第三接触点C与所述第四接触点D之间的电压值VCD，计算第一电阻R1；S104：在相邻的所述第一接触点A与所述第四接触点D之间通入电流IAD，测量所述第二接触点B与所述第三接触点C之间的电压值VBC，计算第二电阻R2；根据所述第一电阻R1和所述第二电阻R2，计算所述待测电池片的方阻。
一种接触电池片方阻测量方法系统

[发明专利]一种电池片在线方阻检测系统-CN202311194795.X在审
发明人：杨中明;杨美娟 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-09-15 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01R31/389 文献下载
摘要：本发明涉及电池片检测的技术领域，公开了一种电池片在线方阻检测系统，包括在皮带处于运动状态下，对承载皮带上的电池片进行交变压信号的采集，对电池片的光敏电阻的阻值进行计算，将计算的光敏电阻的阻值结果返回至工控机中；通过传感器得到电池片的导电栅格图像，在电池片中，导电片层的厚度是均匀的，导线具有相同的厚度，在导线厚度相同的情况下，对导线电阻进行计算；将第一状态值与第二状态值进行关联，得到综合安全系数；将计算数据通过电信连接的方式返回工控机中，通过对计算数据进行读取，判断电池方阻的健康状态，电池健康状态通过高斯混合模型的重叠部分计算得出。
一种电池在线检测系统

[发明专利]一种非接触式硅片电阻率在线测量方法及系统-CN202311167087.7在审
发明人：杨中明;杨美娟;肖凯 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-09-12 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01R27/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种非接触式硅片电阻率在线测量方法及系统，属于电阻率测量技术领域，方法包括：将待测硅片放置于电极阵列中，向电极阵列通入激励电流以形成敏感场域；测量待测硅片的边缘处的各个电极的电压值，作为敏感场域的边界条件；以已知待测硅片的内部电阻率分布以及敏感场域的边界条件为前提，构建正问题模型；结合有限元法以及边界元法求解正问题模型；以已知敏感场域内的电压分布以及敏感场域的边界条件为前提，构建逆问题模型；求解逆问题模型，推导出待测硅片的内部电阻率分布；根据待测硅片的内部每个点位的电阻率，构建电阻率灰度图。可以提升整个硅片的电阻率测量精度，减少计算量，提升了硅片电阻率的测量效率。
一种接触硅片电阻率在线测量方法系统

[发明专利]基于石墨舟视觉图像的太阳能电池片缺陷检测方法及系统-CN202311031443.2有效
发明人：杨中明;杨美娟;肖凯 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-08-16 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于石墨舟视觉图像的太阳能电池片缺陷检测方法及系统，属于图像数据处理技术领域，方法包括：获取石墨舟图像；对石墨舟图像进行预处理；计算石墨舟图像的最优分割阈值；根据最优分割阈值，从石墨舟图像中分割出多个电池片图像；根据分割出的多个电池片图像的位置，当某个位置的舟槽中不存在电池片时，确定舟槽存在空片情况；提取电池片图像中的电池片轮廓；对电池片轮廓进行线性拟合；当电池片轮廓的线性拟合结果为直线时，确定电池片无缺陷；当电池片轮廓的线性拟合结果为曲线时，计算曲线的曲率；当曲线的曲率大于预设曲率时，确定电池片存在翘边缺陷。本发明可以提升对于大规模电池片外观缺陷的检测效率。
基于石墨视觉图像太阳能电池缺陷检测方法系统

[发明专利]一种太阳能电池片丝网印刷缺陷检测方法及系统-CN202311042831.0在审
发明人：杨中明;杨美娟;肖凯 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-08-18 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种太阳能电池片丝网印刷缺陷检测方法及系统，属于图像数据处理技术领域，方法包括：获取太阳能电池片图像；对太阳能电池片图像进行灰度化处理；对灰度化处理后的太阳能电池片图像进行滤波降噪处理；对滤波降噪处理后的太阳能电池片图像进行亮度均衡处理；对亮度均衡处理后的太阳能电池片图像进行对比度均衡处理；对对比度均衡处理后的太阳能电池片图像进行配准处理；对配准处理后的太阳能电池片图像进行双线性插值处理；通过卷积神经网络检测是否存在丝网印刷缺陷，并输出丝网印刷缺陷的类型；构建卷积神经网络的损失函数，以最小化损失函数为目标，确定卷积神经网络的最优参数并更新模型参数。
一种太阳能电池丝网印刷缺陷检测方法系统

[发明专利]一种基于显著图的电池片缺陷检测方法及系统-CN202310681619.2有效
发明人：肖凯;杨美娟;杨中明 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-06-09 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及电池片检测技术领域，尤其是涉及一种基于显著图的电池片缺陷检测方法及系统。所述方法包括以下步骤：获取热处理操作数据集，其中热处理操作数据集包括热循环次数、热处理温度以及热处理持温时间，基于热处理操作数据集进行双重序列数据提取操作，生成像素点位显著性分析数据，利用像素点位显著性分析数据进行点位数据对比分析，生成强显著性位点数据以及弱显著性位点数据，对于强显著性位点数据，生成二维拓扑光学显著性图；对于弱显著性位点数据，基于热处理持温时间对电池片进行环境等待处理；本发明通过对热处理操作数据集进行数据处理，提高电池片缺陷检测的效率以及隐私安全性。
一种基于显著电池缺陷检测方法系统

[发明专利]一种光伏太阳能电池片的隐裂检测方法及系统-CN202310937946.X在审
发明人：杨中明;杨美娟;肖凯 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-07-28 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光伏太阳能电池片的隐裂检测方法及系统，属于图像数据处理技术领域，方法包括：通过线阵相机获取经红外光源照射的光伏太阳能电池片的红外图像；对红外图像进行预处理；从预处理后的红外图像中确定感兴趣区域；对感兴趣区域进行预处理；对预处理后的感兴趣区域进行初步检测，分割出潜在缺陷区域；确定潜在缺陷区域的置信度，当潜在缺陷区域的置信度大于预设置信度时，将潜在缺陷区域确定为正式缺陷区域；对各个正式缺陷区域进行栅线去除处理；提取图像特征，并组成图像特征向量；构建隐裂检测模型，确定隐裂检测模型的最优超平面；根据图像特征向量与最优超平面的位置关系，确定正式缺陷区域为隐裂缺陷区域或者显裂缺陷区域。
一种太阳能电池检测方法系统

[发明专利]基于计算机视觉的硅片缺陷检测方法及系统-CN202310521596.9有效
发明人：周振宇;肖凯;杨美娟;杨中明 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2023-05-10 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及人工智能技术，揭露了一种基于计算机视觉的硅片缺陷检测方法及系统，该方法包括：对硅片图片进行分割，得到缺陷分割图，对缺陷分割图进行双边降噪以及维纳降噪，得到降噪优化图；生成初级候选框，提取初级候选框的候选特征，将候选特征映射到预设的概率空间，得到缺陷类别以及缺陷概率值；选取目标缺陷，将候选特征对应的初级候选框映射到向量空间，得到偏移向量；对初级候选框进行位置调整，得到初级候选框的标准位置信息，对调整后的初级候选框进行优化，得到标准候选框，将标准候选框以及对应的标准位置信息和目标缺陷作为硅片的缺陷分析结果。本发明可以提高硅片缺陷检测的精确度。
基于计算机视觉硅片缺陷检测方法系统

[发明专利]无损方阻及绒面测量装置-CN202210338435.1在审
发明人：贺小勇;张长青;胡冬来;张禧照 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2022-04-01 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01R27/14 文献下载
摘要：本发明提供的无损方阻及绒面测量装置，属于半导体检测技术领域，包括激光发射器、反射率检测片、电容线圈组、第一放大器板和采样测量装置；激光发射器发射激光至半导体上产生光电压；电容线圈组接收光电压产生的静电荷；反射率检测片接收半导体反射的激光，将光信号转换为电信号；第一放大器板接收静电荷和电信号，并进行预处理得到第一中间数据和反射率检测片接收功率；采样测量装置接收第一中间数据和反射率检测片接收功率，并计算得到待测半导体的方阻值和绒面反射率。本发明在不损伤半导体绒面进行方阻测量的同时实时对绒面反射率进行检测，既规避了现有的方阻测量给绒面带来的损伤，也能实时在线检测绒面的质量，提高了半导体质量检测效率。
无损测量装置

[实用新型]一种用于半导体方阻检测的非接触式测量装置-CN202120870024.8有效
发明人：贺小勇;胡冬来;张长青 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2021-04-25 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于半导体方阻检测的非接触式测量装置，涉及半导体检测领域，包括电压检测单元、电荷放大器、主控单元和电源单元，电压检测单元包括支撑壳体、激光发射器、至少两个电容线圈和连接线，激光发射器安装在支撑壳体中，每个电容线圈的内径大小不同且每个电容线圈依次间隔嵌套安装在支撑壳体的底端，激光发射器发射的激光穿过每个电容线圈，每个电容线圈的底面处于的同一平面作为电荷接收平面，电荷接收平面与待测半导体之间的距离大于0且小于预定距离，每个电容线圈通过连接线连接至电荷放大器，电荷放大器连接至主控单元，采用非接触式的设计，能够避免在对待测半导体进行检测时造成损伤。
一种用于半导体检测接触测量装置

[发明专利]一种太阳能电池片色斑检测的方法、系统及存储介质-CN202110805107.3在审
发明人：肖凯;杨中明;杨美娟;刘伟 -专利权人： 江苏森标科技有限公司
申请日： 2021-07-16 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种太阳能电池片色斑检测的方法、系统及存储介质，本发明通过对太阳能电池片图像进行采集后，分别提取太阳能电池片的横向栅线区域以及纵向栅线区域后对色斑检测进行预处理，预处理后在剔除太阳能电池片的横向栅线区域以及纵向栅线区域对色斑区域的影响后完成对太阳能电池片的色斑检测，本发明只需输入采集的太阳能电池片图像即可完成对太阳能电池片上色斑的检测，无需人工通过观察一片片太阳能电池片进行分选进行分选，实现了色斑检测，极大地提高了色斑的检测效率，减少了工作量，降低人工成本。
一种太阳能电池片色斑检测方法系统存储介质

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