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[发明专利]玻璃熔融炉监视方法及玻璃物品制造方法-CN202180081171.X在审
发明人：樫原勇一;樱井聪;铃木信吾;爱内孝介 -专利权人：日本电气硝子株式会社
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： C03B5/027 文献下载
摘要：本发明提供一种玻璃熔融炉监视方法，其对构成玻璃熔融炉(1)的耐火物(111)的熔损进行监视，该玻璃熔融炉使用浸渍于熔融玻璃(Gm)中的电极(14)对玻璃原料(Gr)进行加热使其熔解，所述玻璃熔融炉监视方法具备：第一温度传感器(191)，其配置于所述电极(14)之间的通电区域(17)；以及第二温度传感器(192)，其配置于远离所述通电区域的非通电区域(18)，使用所述第一温度传感器(191)的测定温度和所述第二温度传感器(192)的测定温度来检测所述耐火物(111)的异常发热。由此，在玻璃熔融炉中，能够在构成玻璃熔融炉的耐火物发生熔损之前检测出其异常发热。
玻璃熔融监视方法物品制造

[发明专利]玻璃物品的制造方法及制造装置以及粉末-CN201880056515.X有效
发明人：天山和幸;樱井聪 -专利权人：日本电气硝子株式会社
申请日： 2018-09-03 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： C03B5/167 文献下载
摘要：玻璃物品的制造方法包括：填充工序(S1)，在该工序中，使移送容器(7、16)与耐火砖(8a、8b、17a、17b)之间夹设通过加热而扩散接合的粉末(P)；预热工序(S2)，其在填充工序(S1)后，在该工序中，对移送容器(7、16)进行加热；以及熔融玻璃供给工序(S5)，其在预热工序(S2)后，在该工序中，对移送容器(7、16)进行加热且使熔融玻璃(GM)通过移送容器(7、16)的内部。本方法在熔融玻璃供给工序(S5)中，通过使粉末(P)扩散接合而形成将移送容器(7、16)固定于耐火砖(8a、8b、17a、17b)的接合体(10、20)。
玻璃物品制造方法装置以及粉末

[发明专利]比较器迟滞电路-CN202080058751.2在审
发明人： 樱井聪 -专利权人：德州仪器公司
申请日： 2020-08-20 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： H03K5/08 文献下载
摘要：一种比较器电路包含第一晶体管(206)、第二晶体管(208)、第一开关(210)、第二开关(212)及时序电路。所述第一晶体管(206)及所述第二晶体管(208)耦合为差分对且经配置以比较输入信号与迟滞电压。所述第一开关(210)耦合到所述第一晶体管(206)且经配置以可选择地启用所述第一晶体管(206)。所述第二开关(212)耦合到所述第二晶体管(208)且经配置以可选择地启用所述第二晶体管(208)。所述时序电路耦合到所述第一开关(210)及所述第二开关(212)且经配置以响应于所述比较器电路的输出处的信号转变而闭合所述第一开关(210)且在所述第一开关(210)闭合之后的预定延迟时间闭合所述第二开关(212)。
比较迟滞电路

[发明专利]用于高频信号相位调整的线性化电路-CN201580011568.6有效
发明人： 樱井聪 -专利权人：德州仪器公司
申请日： 2015-03-30 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： H03F1/32 文献下载
摘要：本发明涉及一种电路，其包含相位调整电容器PAC(110)，其耦合到信号路径且经配置以调整所述信号路径上的信号的相位。晶体管开关装置(120)与所述PAC(110)串联耦合以提供与所述信号路径并联的电路支路。所述晶体管开关装置(120)经配置以选择性地断开或闭合所述信号路径的所述电路支路以分别启用或禁用经由所述PAC(110)对所述信号路径上的所述信号的所述相位的调整。非线性电容(130)耦合到使所述PAC(110)与所述晶体管开关装置(120)互连的节点。所述非线性电容(130)经配置以相对于所述信号路径上的所述信号与所述晶体管开关装置(120)的电容成反比而变化，且在所述电路支路断开的情况下线性化由所述电路支路提供的总电容。
用于高频信号相位调整线性化电路

[发明专利]触摸屏面板上的位置检测方法、触摸屏面板及初始化方法-CN201610914805.6有效
发明人：藤田宪一;樱井聪;长谷川洋;羽山正伸 -专利权人：富士通电子零件有限公司
申请日： 2011-07-15 - 公布日： 2019-12-27 - 主分类号： G06F3/045 文献下载
摘要：本公开涉及触摸屏面板上的位置检测方法、触摸屏面板及初始化方法。触摸屏面板包括第一电阻膜和第二电阻膜，第一电阻膜具有设置在其沿着第一方向的相应端处的第一电极和第二电极，第二电阻膜具有设置在其沿着与第一方向垂直的第二方向的相应端处的第三电极和第四电极。检测触摸屏面板上的位置的方法包括通过将电源电压施加于与第一电极连接的第一电阻器并将第二电极接地，测量第一电极处的电位；通过将电源电压施加于与第三电极连接的第二电阻器并将第四电极接地，测量第三电极处的电位；通过将电源电压施加于第一电极并将第二电极接地，测量第三和第四电极处的电位；通过将电源电压施加于第三电极并将第四电极接地，测量第一和第二电极处的电位。
触摸屏面板位置检测方法初始化

[发明专利]触控面板及位置检测方法-CN201610858561.4有效
发明人：关沢光洋;樱井聪;清水信吉;仓岛茂美 -专利权人：富士通电子零件有限公司
申请日： 2013-02-08 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：一种触控面板，包含第1导电膜，其具有多个沿一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；第2导电膜，其具有多个沿与所述一个方向大致直交的另一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；以及第3导电膜，所述第1导电膜的分离区域沿所述另一个方向排列，所述第2导电膜的分离区域沿所述一个方向排列，其中，通过所述第1导电膜和所述第2导电膜，进行基于静电电容耦合的坐标位置的位置检测，并且通过检测所述第2导电膜和所述第3导电膜的接触位置的电位，进行所述接触的坐标位置的位置检测。
面板位置检测方法

[发明专利]触摸屏面板上的位置检测方法、触摸屏面板及初始化方法-CN201610913772.3有效
发明人：藤田宪一;樱井聪;长谷川洋;羽山正伸 -专利权人：富士通电子零件有限公司
申请日： 2011-07-15 - 公布日： 2019-08-30 - 主分类号： G06F3/045 文献下载
摘要：本公开涉及触摸屏面板上的位置检测方法、触摸屏面板及初始化方法。触摸屏面板包括第一电阻膜和第二电阻膜，第一电阻膜具有设置在其沿着第一方向的相应端处的第一电极和第二电极，第二电阻膜具有设置在其沿着与第一方向垂直的第二方向的相应端处的第三电极和第四电极。检测触摸屏面板上的位置的方法包括通过将电源电压施加于与第一电极连接的第一电阻器并将第二电极接地，测量第一电极处的电位；通过将电源电压施加于与第三电极连接的第二电阻器并将第四电极接地，测量第三电极处的电位；通过将电源电压施加于第一电极并将第二电极接地，测量第三和第四电极处的电位；通过将电源电压施加于第三电极并将第四电极接地，测量第一和第二电极处的电位。
触摸屏面板位置检测方法初始化

[发明专利]触摸面板-CN201910094313.0在审
发明人： 樱井聪;上野丰 -专利权人：富士通电子零件有限公司
申请日： 2019-01-31 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G06F3/045 文献下载
摘要：提供一种具有静电消除功能、并且能够以无段差的方式齐平地对装置壳体的框架部和触摸面板的操作面进行设置的触摸面板。触摸面板(10)包括触摸面板主体部(100)，触摸面板主体部(100)具有形成有第一透明导电膜(112)的下部基板(110)、及形成有第二透明导电膜(132)的上部片(130)；静电消除薄膜(170)，静电消除薄膜(170)设置在触摸面板主体部(100)上，并且具有导电膜(172a)；以及拉出部(175)，拉出部(175)具有与导电膜(172a)导通的导电部(172b)，其中，触摸面板主体部(100)具有用于设置拉出部(175)的凹口部(180)。
触摸面板主体部拉出透明导电膜静电消除导电膜薄膜静电消除功能下部基板装置壳体凹口部操作面导电部框架部导通段差平地

[发明专利]触摸面板装置-CN201810799919.X在审
发明人：上野丰;樱井聪;滨野龙朗;片山正彦 -专利权人：富士通电子零件有限公司
申请日： 2018-07-20 - 公布日： 2019-02-12 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：提供一种能够减轻输入感的触摸面板装置。该触摸面板装置具有上部电极层，该触摸面板装置包括：装饰片，安装在上部电极层的上表面侧，并且具有装饰部；以及黏结层，设在装饰片与上部电极层之间的装饰部的范围内，并且黏结装饰片和上部电极层。由此，能够改善经由装饰片进行触摸面板操作时的输入感，能够实现更顺畅的输入操作。
触摸面板装置上部电极层装饰片装饰部触摸面板操作输入操作上表面黏结层

[发明专利]封孔剂、封孔剂涂布液、耐腐蚀性包膜、高温部件以及高温部件的制造方法-CN201680072626.0在审
发明人：高濑宽典;大下浩之;樱井聪 -专利权人：日本电气硝子株式会社
申请日： 2016-11-10 - 公布日： 2018-08-03 - 主分类号： C03C8/16 文献下载
摘要：提供一种能够长期对耐腐蚀性包膜的气孔进行封孔而且不会使基材腐蚀的封孔剂。其特征在于，是用于对耐腐蚀性包膜的气孔进行封孔的封孔剂，并且包含碱金属氧化物在组成中所占的比例为20质量％以下且氧化铅的比例为2质量％以上的玻璃。
封孔剂耐腐蚀性包膜高温部件封孔碱金属氧化物基材腐蚀涂布液氧化铅玻璃制造

[发明专利]触摸屏面板上的位置检测方法、触摸屏面板及初始化方法-CN201410286226.2有效
发明人：藤田宪一;樱井聪;长谷川洋;羽山正伸 -专利权人：富士通电子零件有限公司
申请日： 2011-07-15 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： G06F3/045 文献下载
摘要：本公开涉及触摸屏面板上的位置检测方法、触摸屏面板及初始化方法。触摸屏面板包括第一电阻膜和第二电阻膜，第一电阻膜具有设置在其沿着第一方向的相应端处的第一电极和第二电极，第二电阻膜具有设置在其沿着与第一方向垂直的第二方向的相应端处的第三电极和第四电极。检测触摸屏面板上的位置的方法包括通过将电源电压施加于与第一电极连接的第一电阻器并将第二电极接地，测量第一电极处的电位；通过将电源电压施加于与第三电极连接的第二电阻器并将第四电极接地，测量第三电极处的电位；通过将电源电压施加于第一电极并将第二电极接地，测量第三和第四电极处的电位；通过将电源电压施加于第三电极并将第四电极接地，测量第一和第二电极处的电位。
触摸屏面板位置检测方法初始化

[发明专利]触控面板及位置检测方法-CN201380008855.2在审
发明人：关沢光洋;樱井聪;清水信吉;仓岛茂美 -专利权人：富士通电子零件有限公司
申请日： 2013-02-08 - 公布日： 2014-10-15 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：一种触控面板，包含第1导电膜，其具有多个沿一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；第2导电膜，其具有多个沿与所述一个方向大致直交的另一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；以及第3导电膜，所述第1导电膜的分离区域沿所述另一个方向排列，所述第2导电膜的分离区域沿所述一个方向排列，其中，通过所述第1导电膜和所述第2导电膜，进行基于静电容量结合的坐标位置的位置检测，并且通过检测所述第2导电膜和所述第3导电膜的接触位置的电位，进行所述接触的坐标位置的位置检测。
面板位置检测方法

[发明专利]输入装置和输入方法-CN201110418064.X有效
发明人： 樱井聪;中岛孝;远藤孝夫 -专利权人：富士通电子零件有限公司
申请日： 2011-12-15 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G06F3/045 文献下载
摘要：本公开涉及输入装置和输入方法。所公开的输入装置包括：由用户按压的操作部件；彼此面对的第一电阻膜和第二电阻膜；测量单元，被配置成测量接触电阻的第一端的第一电位和接触电阻的第二端的第二电位之间的差别；以及检测单元，被配置成基于电位差获得指示由操作部件的按压而引起的压力负荷的压力信息。
输入装置方法

[发明专利]触摸屏面板上的位置检测方法、触摸屏面板及初始化方法-CN201110197703.4有效
发明人：藤田宪一;樱井聪;长谷川洋;羽山正伸 -专利权人：富士通电子零件有限公司
申请日： 2011-07-15 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： G06F3/045 文献下载
摘要：本公开涉及触摸屏面板上的位置检测方法、触摸屏面板及初始化方法。触摸屏面板包括第一电阻膜和第二电阻膜，第一电阻膜具有设置在其沿着第一方向的相应端处的第一电极和第二电极，第二电阻膜具有设置在其沿着与第一方向垂直的第二方向的相应端处的第三电极和第四电极。检测触摸屏面板上的位置的方法包括通过将电源电压施加于与第一电极连接的第一电阻器并将第二电极接地，测量第一电极处的电位；通过将电源电压施加于与第三电极连接的第二电阻器并将第四电极接地，测量第三电极处的电位；通过将电源电压施加于第一电极并将第二电极接地，测量第三和第四电极处的电位；通过将电源电压施加于第三电极并将第四电极接地，测量第一和第二电极处的电位。
触摸屏面板位置检测方法初始化

[发明专利]触摸板和触摸板中的坐标检测方法-CN201010600000.7有效
发明人： 樱井聪;吉房和幸;一川大辅;羽山正伸 -专利权人：富士通电子零件有限公司
申请日： 2010-12-17 - 公布日： 2011-06-22 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：本发明提供一种触摸板和触摸板中的坐标检测方法，触摸板包括：第一导电膜，被分割成彼此绝缘的多个区域；第二导电膜，与第一导电膜相对并且与第一导电膜分离；彼此相对的一对电极，设置在第二导电膜上；彼此相对的另一对电极，设置在第二导电膜上；和控制单元，在每个区域中判定第一导电膜是否与第二导电膜接触，在第一导电膜与第二导电膜接触的情况下，通过向所述一对电极施加电压，检测第一导电膜与第二导电膜接触的点的X坐标和Y坐标中的一个，在每个区域中检测了X坐标和Y坐标中的一个之后，释放向所述一对电极施加的电压，并且在释放了电压之后，通过向所述另一对电极施加电压，在每个区域中检测X坐标和Y坐标中的另一个。
触摸中的坐标检测方法

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