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[发明专利]片材检查装置及检查系统-CN201810139060.X在审
发明人：宫田佳昭;松下明 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-02-09 - 公布日： 2018-11-02 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种片材检查装置及检查系统。片材检查装置(1)是检查片材状的被检查物(9)的片材检查装置，包括：照明构件(31)、照明构件(32)，对所述被检查物照射光；拍摄构件(4)，利用从所述照明构件照射至所述被检查物的光的反射光和/或透射光拍摄所述被检查物的图像；异常检测构件(5)，根据对所述拍摄构件所拍摄到的图像的图像数据进行处理而获得的特征量的分布状况，检测所述被检查物中所含的异常；以及存储构件(6)，保持表示所述被检查物的无异常的部分及异常部分的所述特征量的分布状况，作为类型图；并且所述异常检测构件根据所述类型图，检测所述被检查物的异常。
被检查物检查装置片材照明构件异常检测构件分布状况检查系统拍摄构件特征量图像存储构件图像数据反射光片材状透射光照射光拍摄检测照射检查

[发明专利]片材检查装置-CN201810133158.4在审
发明人：宫田佳昭;松下明 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-02-09 - 公布日： 2018-10-23 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供一种片材检查装置，在利用片材状的被检查物的外观图像的片材检查装置中，即使在被检查物的种类、检查环境等已发生变化时，也可以根据所述变化后的初始状态进行高精度的检查。片材检查装置(1)包括：照明构件(31)、(33)，对片材状的被检查物(2)照射光；拍摄构件(4)，用以拍摄所述被检查物；以及异常检测构件(5)，根据对所述拍摄构件所拍摄的图像的图像数据进行处理而获得的特征量，检测所述被检查物中所含的异常；所述异常检测构件是将从合格品的图像数据获得的所述特征量的分布设为成为检查的基准的基准分布，根据所述基准分布与从所述被检查物的图像数据获得的所述特征量的分布的相对关系，来检测异常。
被检查物检查装置片材图像数据特征量异常检测构件拍摄构件片材状合格品外观图像照明构件检查拍摄照射光检测图像

[发明专利]片材检查装置-CN201710822228.2在审
发明人：江川弘一;中田雅博;松下明;宫田佳昭;林信二郎 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-09-13 - 公布日： 2018-04-10 - 主分类号： G01N21/892 文献下载
摘要：本发明提供一种能够检测片状被检查物中所含异常部位和判别异常种类的技术的片材检查装置。该片材检查装置具有光源，对被检查物的第1面照射光；摄像传感器，被配置成，能够通过从光源照射并透射过被检查物的光来拍摄所述被检查物；处理部，基于由所述摄像传感器所获得的被检查物的图像，检测所述被检查物中所含的异常部位，并且判别在检测出的异常部位所产生的异常种类；以及输出部，输出与异常部位相关的信息，所述信息至少包含表示由处理部所判别的异常种类的信息，所述光源的光量和/或所述摄像传感器的增益经调整为，在未配置被检查物的状态下从光源直接入射至摄像传感器的光的亮度达到与摄像传感器的可计测范围的上限相同或实质上相同。
检查装置

[发明专利]基板检查系统-CN201110342992.2有效
发明人： 松下明;森弘之;川田哲博;吉田政臣 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2011-10-25 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明提供基板检查系统，针对每个检查对象基板的部件及针对每个需要实施的检查项目选择检查的单元，基于选择结果在各检查机中生成检查信息。部件确定处理部根据处理对象基板的设计信息确定各部件位置及部件种类。检查项目识别部参照部件种类表对确定的部件识别需要的检查项目，检查单元选择部参照检查机能力表选择对各检查项目实施检查的检查单元。通过这些处理生成检查菜单信息，检查菜单信息指，针对每个部件，将表示对部件实施的检查项目和检查单元的信息与部件的部件种类及位置信息建立关联的信息。各检查机输入检查菜单信息，识别定义为由自身装置实施检查的部件，并根据该部件种类将检查程序与部件的位置信息建立关联，以生成检查信息。
检查系统

[发明专利]信息处理装置及信息处理方法-CN200610125628.X无效
发明人：森弘之;松下明;相马宏司;谷上昌伸 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2006-08-24 - 公布日： 2007-02-28 - 主分类号： G06Q10/00 文献下载
摘要：提供一种信息处理装置，不会增加检查项目，即可进行精度更高的不良原因的推定，且可将推定的不良原因通知给用户。其包括：工序状态收集部，从检查装置取得印刷基板制造时的检查结果；不良位置确定部，根据取得的检查结果，按照各个不良的种类确定不良的产生场所；偏重方判断部，判断同种不良产生的产生场所有无偏重；不良原因确定部，参照预先存储于存储部中的、至少表示了不良的产生场所有无偏重的偏重信息、和表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当存储部中存储有与判断结果对应的偏重信息时，从存储部取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；和显示控制部，使取得的不良原因信息显示在显示部上。
信息处理装置方法

[发明专利]信息处理装置、信息处理方法-CN200610089970.9有效
发明人：中嶋康晓;岸本真由子;松下明 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2006-05-30 - 公布日： 2006-12-06 - 主分类号： G06F17/30 文献下载
摘要：提供一种信息处理装置，使得用户可以理解什么原因以什么顺序阶段性地积累而产生异常、以及各原因以怎样的依据由各原因的直接原因产生。具有：推断部(22)，在由制造设备制造的制品产生异常、且异常由多个原因的阶段性积累产生的情况下，至少利用预先存储的推断用数据阶段性地指定上述原因、且至少在某个阶段从使该阶段的原因产生的两个以上的直接原因中选择性地指定一个原因，由此推断异常的根本原因；依据取得部(23)，按照各个阶段性指定的原因，从存储装置中取得与产生原因的依据相关的数据；以及显示控制部(24)，使与各依据相关的数据对应于与各依据相关的关联原因，并按照各个依据显示在显示部(14)上。
信息处理装置方法

[发明专利]工序管理装置及工序管理方法-CN200610089971.3无效
发明人： 松下明;森弘之;古贺纯平 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2006-05-30 - 公布日： 2006-12-06 - 主分类号： G06Q10/00 文献下载
摘要：提供一种工序管理装置，在对被对象物进行处理的处理系统中，当因处理的不良导致被对象物产生不良时，即使熟练度低的用户也能准确且迅速地推断不良要因。推断处理部(21)，从推断知识记录部(23)读出与直至不良要因为止的条件相关的信息，并顺次将该条件作为问题向用户提示。使各条件与分析ID相对应，数据处理部(32)接收与问题对应的条件的分析ID信息，由此从数据收集加工表(35)读出与该ID对应的数据收集方法信息和数据加工方法信息，并根据其进行分析，将分析结果向用户提示。
工序管理装置方法

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