专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种相变存储器、制作方法及存储器系统-CN202310863863.0在审
  • 周凌珺;杨红心;匡睿;刘峻 - 长江先进存储产业创新中心有限责任公司
  • 2023-07-13 - 2023-09-29 - H10N70/20
  • 本申请实施例公开一种相变存储器、制作方法及存储器系统。其中,相变存储器包括第一导电线、第二导电线及第一导电线和第二导电线之间的第一相变存储单元;第一导电线和第二导电线平行于同一平面且相互垂直;第一相变存储单元与第一导电线和第二导电线均垂直并且第一相变存储单元包括:依次层叠的第一电极层、第一选通层、第二电极层、第一相变存储层、第三电极层;第一相变存储单元还包括以下至少之一:层叠在第一电极层前的第一漏电势垒层、层叠在第二电极层与第一相变存储层之间的第二漏电势垒层及层叠在第三电极层后的第三漏电势垒层;第一漏电势垒层、第二漏电势垒层及第三漏电势垒层用于降低第一选通层被开启时形成的瞬态涌入电流。
  • 一种相变存储器制作方法系统
  • [发明专利]半导体结构及其形成方法和三维存储结构-CN202310850670.1在审
  • 周凌珺;杨红心;刘峻 - 长江先进存储产业创新中心有限责任公司
  • 2023-07-11 - 2023-09-22 - H10B63/10
  • 本公开涉及一种半导体结构及其形成方法和三维存储结构,其中,半导体结构包括:存储结构、开关结构、第一电极、第二电极和钝化层;存储结构,通过第一电极连接至开关结构;开关结构,通过第二电极连接至对应的位线或字线;在开关结构导通时,开关结构将对应的位线或字线连接至存储结构;其中,第二电极、开关结构、第一电极和存储结构沿第一方向依次设置;第一电极和/或第二电极的侧壁被钝化层包围。这样,第一电极和第二电极的侧壁上形成了钝化层,从而,能够避免半导体结构的导通区域集中于第一电极和第二电极的侧壁,进一步提高半导体结构的耐久性。
  • 半导体结构及其形成方法三维存储
  • [发明专利]相变存储器-CN202210798628.5在审
  • 周凌珺;杨红心;刘峻 - 长江先进存储产业创新中心有限责任公司
  • 2022-07-06 - 2022-09-30 - H01L27/24
  • 本公开实施例提供一种相变存储器,包括:相变存储阵列,包括分别沿第一方向和第二方向并列排布的多个相变存储单元,第一方向与第二方向相交;预设位置,位于相变存储阵列沿第一方向的第一边缘与相变存储阵列沿第二方向的第二边缘的交汇处;多条沿第一方向延伸的字线和多条沿第二方向延伸的位线;多个字线接触单元,与多条字线电连接,沿第二方向,相对远离预设位置的字线接触单元的尺寸,大于相对接近预设位置的字线接触单元的尺寸;和/或,多个位线接触单元,与多条位线电连接,沿第一方向,相对远离预设位置的位线接触单元的尺寸,大于相对接近预设位置的位线接触单元的尺寸。
  • 相变存储器
  • [发明专利]一种相变存储器及其制备方法-CN202210638962.4在审
  • 杨红心;周凌珺;李沙沙;刘峻 - 长江先进存储产业创新中心有限责任公司
  • 2022-06-07 - 2022-09-02 - H01L27/24
  • 本申请提供一种相变存储器及其制备方法,所述方法包括:形成选通层以及与所述选通层串联的相变存储层;所述选通层包括第一子层和第二子层;其中,所述第一子层的元素选自第一类元素集中至少一种选通层元素,所述第二子层的元素选自第二类元素集中至少一种选通层元素;所述第一类元素集中各个选通层元素的迁移率小于所述第二类元素集中各个选通层元素的迁移率。本申请提供的方法中,形成包括第一子层和第二子层的选通层,使得第一子层中各个元素的迁移率小于第二子层中各个元素的迁移率,利用第一子层和第二子层之间的界面效应,缓解由于材料扩散引发的局部分相甚至结晶,以提高选通层的高温稳定性,从而提高相变存储器的高温稳定性。
  • 一种相变存储器及其制备方法
  • [发明专利]相变存储器及其制备方法-CN202210590403.0在审
  • 周凌珺;杨红心;刘峻 - 长江先进存储产业创新中心有限责任公司
  • 2022-05-26 - 2022-08-02 - H01L27/24
  • 本公开实施例提供了一种相变存储器及其制备方法,所述相变存储器包括:沿第一方向依次堆叠设置的第一导电线、相变存储单元和第二导电线,所述第一导电线沿第二方向延伸,所述第二导电线沿第三方向延伸,所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向相互垂直;所述相变存储单元包括相变存储层,所述相变存储层的组成材质包括A‑Ga‑Sb‑Te材料,其中,A的含量为a mol%,且0<a≤20,Ga的含量为b mol%,且0<b≤50,Sb的含量为c mol%,且20≤c≤90,Te的含量为(100‑a‑b‑c)mol%;所述A元素用于调控所述相变存储单元的循环能力。
  • 相变存储器及其制备方法
  • [发明专利]半导体器件及形成方法-CN202210317157.1在审
  • 杨红心;周凌珺;刘峻 - 长江先进存储产业创新中心有限责任公司
  • 2022-03-28 - 2022-07-29 - H01L27/24
  • 本申请实施例提供一种半导体器件及形成方法,其中,半导体器件包括:沿第一方向延伸的位线驱动和沿第二方向延伸的字线驱动;第一方向与第二方向互相垂直;多条位线,位于字线驱动两侧,且与字线驱动平行;其中,多条位线在第一方向上间隔排布,且在第一方向上,靠近字线驱动的位线的尺寸参数小于远离字线驱动的位线的尺寸参数;多条字线,位于位线驱动两侧,且与位线驱动平行;其中,多条字线在第二方向上间隔排布,且在第二方向上,靠近位线驱动的字线的尺寸参数小于远离位线驱动的字线的尺寸参数;多个存储单元叠层,分别位于所述字线与相应的所述位线的交叉处,分别与所述字线和相应的所述位线连接。
  • 半导体器件形成方法

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