专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基板检查方法-CN201180048854.1有效
  • 李贤基;权达颜;全廷悦 - 株式会社高永科技
  • 2011-10-13 - 2013-07-10 - G01N21/93
  • 本发明涉及形成有测量对象的基板检查方法,根据本发明,测量形成有测量对象的基板并生成对基板的平面方程式,求出在基板上形成的测量对象的区域。接着,考虑测量对象的高度,将测量对象的区域转换为根据平面方程式的基板面。接着,基于转换为根据平面方程式的基板面的测量对象的区域和根据基准数据的测量对象的区域,检查测量对象。如此,根据形成有测量对象的基板的倾斜姿势,求出测量对象的偏移量,由此补偿测量数据的失真,进而提高测量数据的可靠性。
  • 检查方法
  • [发明专利]DLP光学系统-CN200610112118.9有效
  • 李贤基 - LG电子株式会社
  • 2006-08-11 - 2007-02-14 - G03B21/14
  • 提供了一种DLP光学系统。该DLP光学系统包括一个灯单元、一个光学引擎单元、一个DMD、一个棱镜、一个投影透镜、以及一个挡光部件。所述灯单元提供光线,而所述光学引擎单元与灯单元光学地相连接,该光学引擎单元具有用于在其中将从所述灯单元射入的光线转换成图像信号的光学部件,并包括有用来透射所述图像信号的主透镜。所述DMD反射从所述主透镜透射出的图像信号,而所述棱镜靠近所述DMD形成以对光路进行调整。所述投影透镜将来自所述棱镜的、对形成图像作出贡献的光线的正光束投影到屏幕上。所述挡光部件设置在所述投影透镜的入射侧,用于仅仅透射正光束并遮蔽平状态区域的光线,该平状态区域介于正光束和偏光束之间。
  • dlp光学系统

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