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[实用新型]用于检测弧面区域表面缺陷的装置-CN202020272226.8有效
发明人：林义雄;卢廷星;昌昆;张刚伟;陈世泽 -专利权人：捷普电子(新加坡)公司
申请日： 2020-03-06 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供一种用于检测弧面区域表面缺陷的装置，属于检测领域。所述装置包括摄像机和光源结构，所述光源结构包括至少第一光源、第二光源，其中所述第一光源和所述第二光源位于所述摄像机的同一侧，所述第一光源与所述第二光源与产品的被测弧面区域的高度不同，所述第一光源照射所述被测弧面区域形成第一照亮带、所述第二光源照射所述被测弧面区域形成第二照亮带，所述摄像机用于对所述第一照亮带和所述第二照亮带进行拍摄。其能够快速确定被测弧面区域的表面是否存在缺陷，并且能够确保检测结果的客观、准确。
用于检测区域表面缺陷装置

[实用新型]用于检测弧面区域内部缺陷的装置-CN202020272195.6有效
发明人：林义雄;邱胜郁;昌昆;张刚伟;陈世泽 -专利权人：捷普电子(新加坡)公司
申请日： 2020-03-06 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供一种用于检测弧面区域内部缺陷的装置，属于检测领域。所述装置包括摄像机和光源结构，所述光源结构包括至少第一光源、第二光源，其中所述第一光源和所述第二光源位于摄像机的一侧，所述第一光源和所述第二光源与产品的被测弧面区域的高度不同，其中所述第一光源的光线出口侧设置有第一光栅，所述第二光源的光线出口侧设置有第二光栅，所述第一光栅和所述第二光栅使得所述第一光源照射所述被测弧面区域形成的第一照亮带和所述第二光源照射所述被测弧面区域形成的第二照亮带相互垂直，所述摄像机用于对所述第一照亮带和所述第二照亮带进行拍摄。其能够快速确定被测弧面区域的内部是否存在缺陷，并且能够确保检测结果的客观、准确。
用于检测区域内部缺陷装置

[实用新型]AOI检测装置-CN202020284592.5有效
发明人：陈世泽;林义雄;陈琨;昌昆;张刚伟 -专利权人：捷普电子（新加坡）公司
申请日： 2020-03-10 - 公布日： 2020-10-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型公开一种AOI检测装置，适用于工件的缺陷检测，该AOI检测装置包括机架组件、承载台和信息采集机构，所述信息采集机构设置于所述机架组件，而可沿所述工件的第一侧边进行图像信息采集；所述承载台设置于所述机架组件，而包括用以设置所述工件且可转动的承载单元，所述承载单元可带动所述工件转动，使所述信息采集机构可对所述工件的第一转角进行图像信息采集。上述方案能够解决目前的AOI检测装置存在的生产成本过高、多摄像头导致的空间布局受限的问题。
aoi 检测装置

[实用新型]AOI检测装置以及检测系统-CN202020340810.2有效
发明人：陈世泽;林义雄;陈琨;昌昆;张刚伟 -专利权人：捷普电子（新加坡）公司
申请日： 2020-03-18 - 公布日： 2020-10-23 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型公开一种AOI检测装置以及检测系统，该AOI检测装置包括机架组件、转运机构和信息采集机构，机架组件包括第一承载台和第二承载台，转运机构可移动地设置于机架组件，信息采集机构设置于机架组件；AOI检测装置具有第一状态和第二状态，在AOI检测装置处于第一状态时，转运机构接近第一承载台而在第一承载台就第一工件进行上料；在AOI检测装置处于第二状态时，信息采集机构在第一承载台就第一工件采集信息，且转运机构接近第二承载台而在第二承载台就第二工件进行上料。上述方案能够解决目前的AOI检测装置存在的工作效率偏低的问题。
aoi 检测装置以及系统