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[发明专利]MRI指标的推算方法以及生物体测定装置-CN201580005032.3有效
发明人：岩田欧介;岩田幸子;仓田毅;小田元树;矢卷悦子 -专利权人：学校法人久留米大学;浜松光子学株式会社
申请日： 2015-01-16 - 公布日： 2019-02-05 - 主分类号： A61B10/00 文献下载
摘要：在该推算方法中，根据通过基于入射至被测定部位(B)且在被测定部位(B)的内部传播后的近红外光的检测结果的近红外分光测量法求出的、被测定部位(B)的散射系数(μ_s’)或与散射系数(μ_s’)具有相关的参数，推算MRI指标(ADC、FA等)。在该方法中，能够比MRI更简易地获知被测定部位的MRI指标。
mri 指标推算方法以及生物体测定装置

[发明专利]散射吸收体测量方法和装置-CN201180021484.2有效
发明人：矢卷悦子;山下丰;小田元树;铃木裕昭;铃木俊彦;渡边裕司;古贺俊策 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2011-03-29 - 公布日： 2013-01-09 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：从散射吸收体（B）的表面（Ba）所设定的一个光入射位置（I）入射规定波长的光（P），在散射吸收体（B）的表面（Ba）所设定的一个光检测位置（D）检测在散射吸收体（B）的内部传播的光（P）而获得光检测信号，基于该光检测信号，取得有关检测光的光强度的时间波形，基于该时间波形，运算散射吸收体（B）的内部的光（P）的平均光路长度（L）、以及与测量对象区域（B1）中的被测量物质的量关联的信息。此时，基于平均光路长度（L）修正与被测量物质的量关联的信息，使得平均光路长度（L）越长被测量物质的量越多。如果使用该方法，则能够通过简易的方法获得除去了介在组织的影响的测量结果。
散射吸收体测量方法装置