专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种三维基板自动贴片方法和装置-CN202211067556.3在审
  • 叶乐志;宋宣颉 - 北京工业大学
  • 2022-09-01 - 2022-12-16 - H05K13/04
  • 本发明公开了一种三维基板自动贴片方法和装置,包括:三轴旋转贴装模块、吸嘴切换及精度校准模块、芯片料盒模块和取片及贴装模块。将三轴旋转贴装模块置于大理石平台上,作为芯片的贴片区域,可实现多角度的贴片。配备吸嘴切换及精度校准模块,可更换十多种吸嘴类型,对设备精度进行及时校正。对芯片进行拾取及键合,同时具备多个CCD相机可准确获取芯片和基板的位置芯片,实现芯片于基板之间的高精度键合。将点胶头和芯片吸嘴集成到一个龙门模组中,减少了多个移动组件带来的精度误差;配备有精度校准模块,可对精度进行实时校正,在大批量生产中,既保证了设备的效率,又提供了高的贴装精度。
  • 一种三维自动方法装置
  • [发明专利]一种贴片机-CN202210857591.9在审
  • 叶乐志;宋宣颉;梁献光 - 苏州广林达电子科技有限公司
  • 2022-07-20 - 2022-09-23 - H05K3/00
  • 本发明属于半导体贴片技术领域,公开了一种贴片机。其中包括工作台、第一移动组件、贴合组件和储存组件,第一移动组件、贴合组件和储存组件安装在工作台上,贴合组件内固定有基板,第一移动组件能将芯片从储存组件转移至基板上,贴合组件包括马达和旋转件,马达能带动旋转件绕旋转轴旋转,旋转件上形成有安装面,基板固定在安装面上,基板与安装面一一对应;解决了基板占用贴片机面积较多,导致芯片吸头移动距离过长,芯片与基板贴装误差变大的问题。
  • 一种贴片机
  • [发明专利]一种基于磁对准的全自动晶圆键合机-CN202210346814.5在审
  • 叶乐志;常悦;宋宣颉 - 北京工业大学
  • 2022-03-31 - 2022-07-05 - H01L21/67
  • 本发明公开了一种基于磁对准的全自动晶圆键合机,具有晶圆装载模块、晶圆缓存和预对准模块、晶圆键合模块,各模块间设有传输用干机械手。上下键合晶圆通过干机械手转运,在各模块经过取出、预对准、键合、缓存、放回过程完成键合,高自动化。整个工艺在封闭外罩内进行,保证无尘键合环境,降低晶圆污染的风险。本发明在晶圆键合模块设有磁传感器,磁传感器能在μm级距离下对晶圆对准,并在键合后直接进行键合精度检测。本发明键合模块与晶圆承片台Z向距离为5~10μm,避免了键合模块的大行程位移,提高晶圆键合的精度与效率。
  • 一种基于对准全自动晶圆键合机
  • [发明专利]一种晶圆键合磁对准方法及装置-CN202210174134.X在审
  • 叶乐志;宋宣颉;常悦 - 北京工业大学
  • 2022-02-24 - 2022-06-17 - H01L21/67
  • 本发明公开了一种晶圆键合磁对准方法及装置,该装置包括至少包括X‑Y移动系统、底部晶圆键合台、磁传感器模块、键合臂模块、装置底座及框架。该方法在晶圆上通过半导体加工工艺制作对位凹槽,并在凹槽内沉积磁性材料的磁柱,通过充磁后,该磁柱具有永磁特性。通过磁传感器检测晶圆磁柱中的空间磁场分布,找到磁柱的边界或中心,从而实现晶圆位置信息的检测。相较于传统的光学对准方式,磁传感器无需标定位置,在两晶圆距离微米级时进行对准,对准后不需要再次运动对位,直接键合,提高了晶圆键合的效率和精度。
  • 一种晶圆键合磁对准方法装置
  • [发明专利]一种高精密芯片装片方法及设备-CN202111244311.9在审
  • 叶乐志;宋宣颉;常悦 - 北京工业大学
  • 2021-10-26 - 2022-02-18 - H01L21/67
  • 本发明公开了一种高精密芯片装片方法及设备,包括XY运动平台设在大理石底座上;基板载台,用于承载基板,是基板和芯片键合的区域;芯片传输机构,配合键合头实现芯片的传递;键合运动机构,可实现键合头的键合运动;相机系统,通过对称分布相机系统和键合头反射镜的配合,键合头反射镜可获取芯片背面标记点和基板标记点的画面信息,再把获得的位置信息反射到相机系统,最后通过宏微两级工作台实现高精度对准,完成键合。本发明将键合高度降低至微米级,实现了所见即所得的高精密对准精度,将装片精度提升至纳米级别。本发明的对准补偿通过一次完成,可大大提升生产效率。
  • 一种精密芯片方法设备

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