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[发明专利]放射线检测器以及放射线透射图像取得系统-CN201910390172.7有效
发明人：长冈贵之;安西伸介 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2019-05-10 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01T1/20 文献下载
摘要：放射线检测器将检测放射线并产生电荷的元件以阵列状排列，以规定的周期逐行地选择并将对应所述放射线的剂量的电荷读出。不等待从首行到末行选择结束的期间即一帧分的读出结束，从所述首行开始行的选择。
放射线检测器以及透射图像取得系统

[发明专利]图像显示元件-CN202111455920.9在审
发明人：井口胜次;大沼宏彰;伊藤晋;安西伸介 -专利权人：夏普福山激光株式会社
申请日： 2021-12-01 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： H01L25/16 文献下载
摘要：图像显示元件包括：像素，其配置为阵列状，且包括微型发光元件；驱动电路基板，其包括向所述微型发光元件供给电流并使其发光的驱动电路；微透镜，其针对每个所述像素配置；以及像素间隔壁，其配置在所述像素之间，且从所述微型发光元件的光释放面延伸到所述微透镜。
图像显示元件

[发明专利]图像显示元件-CN202111003162.7在审
发明人：井口胜次;河西秀典;安西伸介 -专利权人：夏普福山半导体株式会社
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： H01L27/15 文献下载
摘要：图像显示元件中，包括：呈阵列状排列的多个微型发光元件；以及半导体层，其在所述多个微型发光元件的每一个上配置有供给电流来使其发光的驱动电路，在所述半导体层的第一面配置有构成所述驱动电路的晶体管和布线层，在所述半导体层的与所述第一面相反侧的第二面配置有所述多个微型发光元件，所述晶体管和所述布线层通过贯通所述半导体层的贯通电极与所述微型发光元件电连接。
图像显示元件

[发明专利]驱动电路、显示装置以及驱动电路的自检测/自修复方法-CN200980147209.8有效
发明人： 安西伸介;藤野宏晃;胜谷昌史 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2009-11-25 - 公布日： 2011-10-26 - 主分类号： G09G3/36 文献下载
摘要：本发明的驱动电路（20）具备：输出电路块（30）、预备输出电路块（40）、参照输出电路块（41）、比较判定电路（50）切换电路（60）、（61）。在自检测时，切换电路（60）从输出电路块（40）选择1个输出电路，将选择的输出电路和显示面板（80）的数据线的连接切断，并且将预备输出电路块（40）连接于显示面板（80）的数据线。比较判定电路（50）对来自选择的输出电路的测试用输出信号、和来自参照输出电路块（41）的参照用输出信号进行比较，基于该比较结果判定选择的输出电路是否不良。由此，实现能够不使显示不良产生而一边进行显示面板的驱动，一边检测输出电路的故障的驱动电路。
驱动电路显示装置以及检测修复方法

[发明专利]驱动电路以及显示装置-CN200980106858.3有效
发明人：渡部利男;安西伸介;中谷好博;藤野宏晃;松井裕文;森雅美;细川浩一 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2009-02-05 - 公布日： 2011-01-26 - 主分类号： G09G3/36 文献下载
摘要：本发明的驱动电路(10)具备：分别包含输出端子(OUT1～OUT18)和输出电路(11_1～11_19)的19个图像信号输出部；判定各个图像信号输出部的良好与否的判定部；根据上述判定部的判定结果切换上述输出端子和上述图像信号输出部的连接的开关(SWB1～SWB18)；在上述判定部判定出第i个(i为m以下的自然数)上述图像信号输出电路为不良的情况下，开关(SWB1～SWB18)将第j个(j为i-1以下自然数)上述图像信号输出电路连接到第j个上述输出端子上的同时，将第k+1个(k为i以上m以下的自然数)上述图像信号输出电路连接到第k个上述输出端子上。由此，本发明提供在检测出有缺陷的图像信号输出部的情况下能进行自行修复，并能进一步简化连接到图像信号输出部的接线的驱动电路。
驱动电路以及显示装置

[发明专利]驱动电路、显示装置以及电视系统-CN200880017915.6有效
发明人：村桥俊一;胜谷昌史;藤野宏晃;安西伸介 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2008-05-26 - 公布日： 2010-03-24 - 主分类号： G09G3/36 文献下载
摘要：本发明的用于驱动显示面板的液晶驱动用半导体集成电路(10)包括：与显示面板连接的输出端子、输出电路块以及预备输出电路块，该输出电路块包含有能够与输出端子连接的DAC电路(8)，该预备输出电路块包含有能够与输出端子连接的DAC电路(28)，液晶驱动用半导体集成电路(10)还包括：运算放大器(1)，用于对DAC电路(8)所输出的输出信号和DAC电路(28)所输出的输出信号进行比较；判断电路(3)，基于运算放大器(1)的比较结果，对DAC电路(8)是否存在有不良缺陷进行判断；开关(2c)以及开关(2d)，用于在判断电路(3)的判断结果为存在有不良缺陷的情况下，取代DAC电路(8)，使DAC电路(28)与输出端子连接。由此，由于具有易于对输出电路缺陷予以检测的具体构件，所以能够提供在输出电路存在有缺陷时进行自行修复的显示装置驱动用集成电路。
驱动电路显示装置以及电视系统

[发明专利]偏置电压施加电路和半导体存储装置-CN200510009468.8无效
发明人：森康通;吉本贵彦;渡边雅彦;安西伸介;野岛武;正木宗孝 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2005-02-08 - 公布日： 2005-08-17 - 主分类号： G11C11/409 文献下载
摘要：分别对选择存储单元和参考存储单元进行电流供给的2个偏置电路(20)其电路结构相同，各偏置电路分别具有：第1有源元件(21a、21b)，在电源节点(Vcc)和结合节点(Nca、Ncb)之间控制电流，以便抑制上述结合节点的电压电平的变动；第2有源元件(22a、22b)，在电源节点和输出节点(Nouta、Noutb)之间控制电流，以使上述输出节点的电压电平与另一侧的偏置电路的结合节点的电压电平相反方向地变化；第3有源元件(23a、23b)和第4有源元件(24a、24b)，在上述结合节点和电流供给节点(Nsa、Nsb)之间以及上述输出节点和上述电流供给节点之间，调整偏置电压。
偏置电压施加电路半导体存储装置

[发明专利]非易失性半导体存储器件-CN200510007871.7无效
发明人： 安西伸介;森康通 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2005-02-06 - 公布日： 2005-08-10 - 主分类号： G11C16/02 文献下载
摘要：非易失性半导体存储器件配备：对选择存储单元和基准单元施加规定的电压，使之流过与各自的阈值电压对应的电流，比较流过选择存储单元和基准单元的各电流，读出存储在选择存储单元中的数据的读出电路。该读出电路在通常的读出时和用于写入检验的读出时，共同利用设定在相同存储状态的基准单元，在用于写入检验的读出时，当对选择存储单元和基准单元施加规定的电压时，将对基准单元的施加条件设定为，与通常的读出时的施加条件相比，使外观上的阈值电压向写入状态方向移动。
非易失性半导体存储器件

[发明专利]读取电路、参考电路和半导体存储装置-CN03152362.5有效
发明人：森康通;吉本贵彦;安西伸介;野岛武 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2003-07-30 - 公布日： 2004-02-25 - 主分类号： G11C11/34 文献下载
摘要：一种读取电路，用于从多个存储单元中的一个存储单元中读取数据，读取电路包括：多个分割读出电路，多个分割读出电路中的每一个通过多条读出线中对应的一条读出线与所述的一个存储单元连接；以及电流电压转换电路，用于将流经每一条读出线的电流转换为表示对应的读出线的电位的读出电压。每一个分割读出电路包括：电流负载电路，用于通过对应的读出线向所述的一个存储单元提供电流；以及读出放大器，用于读出对应的读出线和多条参考线中对应的参考线之间的电位差。在至少一个分割读出电路包括的电流负载电路具有与在另一分割读出电路中包括的电流负载电路的电流提供能力不同的电流提供能力。
读取电路参考半导体存储装置

[发明专利]半导体存储装置-CN03152359.5有效
发明人： 安西伸介;森康通;田中嗣彦 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2003-07-30 - 公布日： 2004-02-25 - 主分类号： G11C16/06 文献下载
摘要：一种半导体存储装置，它包括：存储单元阵列，该存储单元阵列具有双值存储区和多值存储区，其中，双值存储区包含多个存储单元，每个存储单元包括1比特的数据，以及多值存储区包括多个存储单元，每个存储单元包括2个或者多比特数据；以及读出放大器部分，该部分对于双值存储区的数据读取和多值存储区的数据读取是公用的，以便通过将选择的存储单元与参考单位进行比较，读取在所选存储单元中存储的数据。
半导体存储装置

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