专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光刻方法-CN201610770956.9有效
  • 叶孝蔚;张庆裕;陈建宏;林致安 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2009-05-08 - 2020-01-14 - G03F7/16
  • 一种光刻方法,包括:在基板上形成第一图案化阻剂层,上述第一图案化阻剂层包括至少一个开口;在上述第一图案化阻剂层及上述基板上形成一水溶性聚合物层,藉以在上述第一图案化阻剂层及上述水溶性聚合物层的界面发生反应;以及在上述基板上形成第二图案化阻剂层,其中上述第二图案化阻剂层的至少一部分设置于上述第一图案化阻剂层的至少一个开口内或邻接上述第一图案化阻剂层的至少一部分。然后使用上述第一图案化阻剂层与第二图案化阻剂层作为掩模,并蚀刻上述基板。本发明形成出具有整体强化的抗蚀刻性的阻剂图案,可用于形成次微米半导体装置所需的细粒度图形。使用这些材料导致图案化的阻剂层较不倾向于顶部损失、圆角、以及阻剂图案损伤。
  • 光刻方法
  • [发明专利]光刻方法-CN200910138199.3无效
  • 叶孝蔚;张庆裕;陈建宏;林致安 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2009-05-08 - 2010-03-24 - G03F7/16
  • 一种光刻方法,包括:在基板上形成第一图案化阻剂层,上述第一图案化阻剂层包括至少一个开口;在上述第一图案化阻剂层及上述基板上形成一水溶性聚合物层,藉以在上述第一图案化阻剂层及上述水溶性聚合物层的界面发生反应;以及在上述基板上形成第二图案化阻剂层,其中上述第二图案化阻剂层的至少一部分设置于上述第一图案化阻剂层的至少一个开口内或邻接上述第一图案化阻剂层的至少一部分。然后使用上述第一图案化阻剂层与第二图案化阻剂层作为掩模,并蚀刻上述基板。本发明形成出具有整体强化的抗蚀刻性的阻剂图案,可用于形成次微米半导体装置所需的细粒度图形。使用这些材料导致图案化的阻剂层较不倾向于顶部损失、圆角、以及阻剂图案损伤。
  • 光刻方法
  • [发明专利]图案化方法-CN200910005762.X有效
  • 施仁杰;叶孝蔚 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2009-02-06 - 2009-10-14 - G03F7/20
  • 本发明提供一种图案化方法,包括于基底上形成光致抗蚀剂图案,光致抗蚀剂图案于基底上包括至少一预期开口与至少一留白开口于其中,于光致抗蚀剂图案与基底上形成图案化感光材料层,其中图案化感光材料层覆盖光致抗蚀剂图案的留白开口,以及对光致抗蚀剂图案的预期开口进行化学微缩辅助光刻解析度强化工艺。本发明通过进行化学微缩辅助光刻解析度强化工艺,以缩小临界尺寸及/或增加聚焦深度。
  • 图案方法

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