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[发明专利]一种粉末材料复介电常数测试系统及其校准方法-CN202310168790.3在审
发明人：黄辉;刘楚彤;杨贵锋;周建 -专利权人： 北京芯宸科技有限公司
申请日： 2023-02-27 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种粉末材料复介电常数测试系统及其校准方法：包括矢量网络分析仪、第一波同转换器、第二波同转换器、第一波导、第二波导、波导夹具、垫片，波导夹具由一组不同长度的波导片构成；测试时，两个垫片分别嵌置于波导夹具相背侧的两端口内，将待测粉末材料密封于波导夹具内；第一波导和第二波导之间连接直通校准件，进行Thru校准；第一波导或第二波导连接反射校准件，反射校准件内嵌垫片和金属片，进行Reflect校准；第一波导和第二波导之间连接传输线校准件，进行Line校准。本发明同时配置了不同长度的波导夹具，保证粉末材料复介电常数的测量精度，校准测试过程中去除了垫片影响，测试过程简单、准确度高。
一种粉末材料介电常数测试系统及其校准方法

[发明专利]用于校准复介电常数测试系统的超宽频TRL校准件及方法-CN202310168786.7在审
发明人：黄辉;杨贵锋;刘楚彤;周建 -专利权人： 北京芯宸科技有限公司
申请日： 2023-02-27 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于校准复介电常数测试系统的超宽频TRL校准件及方法，包括直通标准件、反射标准件、传输线标准件，传输线标准件采用Multi‑TRL标准件，由不同长度的同轴空气线构成，长度范围为6.9mm～300mm；通过选择组合不同长度同轴空气线对复介电常数测试系统进行TRL校准后，测试系统可达到所需要的频率范围，另外采用所有根同轴空气线重复进行校准后，测试系统的覆盖频率范围达到50MHz～19.3GHz；利用校准后的复介电常数测试系统，基于传输反射法利用7mm同轴空气线作为传输线夹具进行材料复介电常数测量，覆盖频率范围达到50MHz～18GHz。本发明既发挥了TRL校准方法的高准确度优势，多种组合又保证了超宽频范围，校准准确度最高，能更好实现对材料复介电常数的准确测量。
用于校准介电常数测试系统宽频 trl 方法

[发明专利]粉末电磁特性测量系统及其同轴线夹具、校准件-CN202111140013.5在审
发明人：黄辉;周建;杨贵锋;刘楚彤 -专利权人： 北京芯宸科技有限公司
申请日： 2021-09-28 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01R33/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种粉末电磁特性测量系统及其同轴线夹具、校准件，所述同轴线夹具包括：夹具外导体，夹具外导体限定出两端敞开的容纳腔；夹具内导体，夹具内导体穿设于容纳腔且与夹具外导体在径向方向间隔开，夹具内导体沿轴向的两端分别连接外部的同轴线，夹具内导体的外周壁和夹具外导体的内周壁中的其中一个上形成有沿轴向间隔设置的两个安装部；与安装部一一对应的两个介质支撑环，每个介质支撑环设于对应的安装部以支撑夹具内导体。根据本发明实施例的同轴线夹具，可以使得介质支撑环对夹具内导体的支撑更加稳定，可以使得同轴线夹具和同轴线相连后的内导体的物理结构的连续性更好，从而改善整体驻波和损耗特性。
粉末电磁特性测量系统及其同轴线夹具校准

[发明专利]一种用于液体介电常数测量的单端探头校准的短路装置-CN202210866459.4在审
发明人：黄辉;周建;杨贵锋;刘楚彤 -专利权人： 北京芯宸科技有限公司
申请日： 2022-07-22 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01N27/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于液体介电常数测量的单端探头校准的短路装置；一种结构包括壳体，壳体内部设置用于固定单端探头的卡环，壳体侧壁设置用于锁紧卡环的锁紧螺母，壳体上部设置上盖，下部设置调节螺母，调节螺母内底设置用于短路单端探头的短路块；另一种结构包括壳体，壳体上端侧壁开设单端探头安装槽，壳体下端设置调节螺母，调节螺母顶端设置用于短路单端探头的短路块，通过控制调节螺母的松紧调节短路块的高度；插入单端探头后，锁紧调节螺母，升高短路块，短路块端面与单端探头端面接触，实现单端探头的短路。本发明通过螺纹微调保证短路部分与探头端面无缝接触，减小人为误差的引入，具有良好的短路效果，保证了校准的准确性。
一种用于液体介电常数测量探头校准短路装置

[发明专利]一种适用波导法测试材料电磁属性的薄膜/片制样装置-CN202210873074.0在审
发明人：黄辉;周建;杨贵锋;刘楚彤 -专利权人： 北京芯宸科技有限公司
申请日： 2022-07-22 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用波导法测试材料电磁属性的薄膜/片制样装置：一种结构，上模具包括连接板、弹簧、压板、连接柱、冲头，下模具包括底座、固定块，底座开设冲压孔，被测材料放置上模具和下模具之间，在压力机的作用下冲头穿过压板进入冲压孔冲压出样片；另一种结构，上模具包括开设出料孔的导向板和开设冲压孔的连接板，导向板设置导向孔，下模具包括压板、弹簧、底座，底座上设置导向柱和冲头，导向柱上端穿过压板沿导向孔伸缩，冲头上端穿过压板沿冲压孔伸缩，被测材料放置上模具和下模具之间，手下压上模具，冲头穿过压板进入冲压孔冲压出样片。本发明能快速准确的制作满足尺寸要求的样片，提高测试准确度，节约制样时间，降低制样成本。
一种适用波导测试材料电磁属性薄膜片制样装置

[实用新型]准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置-CN202122295524.6有效
发明人：张振伟;黄辉 -专利权人：首都师范大学;北京芯宸科技有限公司
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及复介电常数测量技术领域，具体是一种准光学太赫兹波段材料复介电常数的测量装置，包括有底板、第一平移台、第二平移台、样品装夹组件、第一波导固定组件和第二波导固定组件；第一平移台和第二平移台分别对称安装在底板的左右两侧，第一平移台上设置有第一抛物面镜和第二抛物面镜，第二平移台上设置有第三抛物面镜和第四抛物面镜；样品装夹组件位于第二抛物面镜和第三抛物面镜之间；第一波导固定组件和第二波导固定组件上分别设置有第一波导和第二波导；第一波导和第二波导的一端上分别连接有第一天线和第二天线，第一天线的相位中心与第一抛物面镜的焦点重合，第二天线的相位中心与第四抛物面镜的焦点重合。
光学赫兹波段材料介电常数测量装置

[发明专利]一种基于微波复介电常数的宝玉石含水量鉴别方法及系统-CN202010607516.8有效
发明人：田庚凡;陆太进;林佳运;黄辉;张健;柯捷 -专利权人：自然资源部珠宝玉石首饰管理中心北京珠宝研究所;北京芯宸科技有限公司
申请日： 2020-06-29 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G01N22/04 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于微波复介电常数的宝玉石含水量鉴别方法及系统，方法包括如下步骤：S1、获取满足预设阈值的宝玉石重量和当前宝玉石对应的微波复介电常数；S2、根据获取的宝玉石重量和当前宝玉石对应的微波复介电常数，计算并创建宝玉石含水量与微波复介电常数的对应表格；S3、根据上述计算得到的对应表格，建立宝玉石含水量与微波复介电常数之间的关系函数。本发明提出的无损检测方法，根据测量的复介电常数计算出的宝玉石的含水量，测量过程不损害宝玉石；本发明建立含水量关于微波测量参数相对复介电常数的数据库，快速检测宝玉石含水量。
一种基于微波介电常数宝玉含水量鉴别方法系统

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