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- [发明专利]一种探测红外辐射方法-CN201410681201.2在审
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季振国;包文浩;李鹤
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杭州电子科技大学
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2014-11-24
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2015-03-25
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G01J5/10
- 本发明公开了一种探测红外辐射方法。红外辐射对应的光子能量较小,不易采用硅基光电探测器进行探测。本发明方法利用背景光源把电子激发到SrAl2O4(Dy,Eu)材料禁带中的Dy3+陷阱能级,背景光源的发射波长为350nm~450nm。当有红外光照射时,处于这些陷阱能级中的电子可以跃迁到导带,并进一步转移到Eu2+能级后辐射出绿光,引起可见光辐射强度的增强。因此通过测量SrAl2O4(Dy,Eu)发出的绿光强度可以间接地测量出红外辐射的强度。本红外探测器利用SrAl2O4(Dy,Eu)材料为上转换材料,转换过程不涉及多光子过程,因此转换效率较高,只要在背景光源的照射下,即可有效探测到红外辐射。
- 一种探测红外辐射方法
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