专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]碳化硅半导体功率晶体管及其制造方法-CN202210854892.6在审
  • 陈伟梵;蔡国基 - 力拓半导体股份有限公司
  • 2022-07-18 - 2023-10-27 - H01L29/78
  • 本发明提供一种碳化硅半导体功率晶体管及其制造方法。所述碳化硅(SiC)半导体功率晶体管,包括由SiC制成的衬底、衬底平面上的漂移层、漂移层中的多个井区、井区内的多个源极区、漂移层上的多个栅极、漂移层和每个栅极之间的栅极绝缘层,以及漂移层中的多个井拾取区(well pick‑upregions)。漂移层中形成有多个V形槽,且每个V形槽的底部和侧壁被每个井区包围。每个V形槽的底部与每个源极区直接接触。栅极位于V形槽之间,并延伸至其两侧的V形槽的侧壁。井拾取区位于每个V形槽的底部下方,且每个井拾取区穿过源极区并与井区接触。
  • 碳化硅半导体功率晶体管及其制造方法
  • [发明专利]碳化硅半导体功率晶体管及制造其的方法-CN202210714181.9在审
  • 陈伟梵;蔡国基 - 力拓半导体股份有限公司
  • 2022-06-22 - 2023-10-24 - H01L29/78
  • 本发明提供一种碳化硅半导体功率晶体管和制造其的方法。本发明的碳化硅半导体功率晶体管包括由碳化硅(SiC)制成的衬底、设置在衬底上的漂移层,形成在漂移层上的栅极层、设置在漂移层中的多个第一井拾取区及多个第二井拾取区、多个源极电极以及多个接触件。多个V形槽形成在漂移层中。在各V形槽的底部处的栅极层中形成第一开口,在V形槽之间的漂移层的顶部处的栅极层中形成第二开口。多个接触件设置在第二开口内,以直接接触第二井拾取区。本发明提供优良的开关能量损失效能和开关可靠性。
  • 碳化硅半导体功率晶体管制造方法
  • [发明专利]宽带隙半导体器件与其制造方法-CN202210741958.0在审
  • 陈伟梵;蔡国基 - 力拓半导体股份有限公司
  • 2022-06-27 - 2023-08-25 - H01L29/872
  • 本发明提供一种宽带隙半导体器件与其制造方法。所述宽带隙半导体器件包括衬底、外延层、合并PN结肖特基(merged PN junction Schottky,MPS)二极管阵列以及围绕MPS二极管阵列的边缘终端区。外延层具有第一平面、第二平面以及位于第一平面与第二平面之间的数个沟槽。MPS二极管阵列形成于外延层的第一平面中。边缘终端区包括浮动环区以及过渡区。浮动环区具有形成于外延层的第二平面中的浮动环。过渡区位于浮动环区与MPS二极管阵列间。过渡区包括一PIN二极管,而所述PIN二极管形成于数个沟槽中以及沟槽之间的外延层上。
  • 宽带半导体器件与其制造方法

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