专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]缆线固定座-CN201110205034.0有效
  • 韩兆祥;饶洋;刘冉冉;刘宏彻 - 英业达股份有限公司;英顺达科技有限公司
  • 2011-07-13 - 2013-01-16 - H01R13/629
  • 本发明提供了一种缆线固定座,包括弹性夹与二固定组件。其中,弹性夹包括第一固定板、第二固定板与弹性枢轴。第一固定板与第二固定板在空间上彼此相对。第一固定板与第二固定板定义容置空间。弹性枢轴枢接第一固定板与第二固定板。固定组件分别枢接于弹性夹的两侧。在使用时,弹性夹夹持缆线于容置空间中,而固定组件定位于固定面。采用本发明的缆线固定座可以减少设置缆线的时间与增加天线端子与无线网络卡天线接口之间的稳固性。
  • 缆线固定
  • [发明专利]一种测试装置-CN201110199345.0无效
  • 高华萍;黄姝;徐昭娣;饶洋;韩兆祥;刘宏彻 - 英业达股份有限公司;英顺达科技有限公司
  • 2011-07-12 - 2013-01-16 - G01R29/08
  • 本发明提供了一种测试装置,其包含天线架、天线、距离量测器、控制器以及调整器。天线配置于天线架而于天线架上进行升降,并用以接收受测装置所发出的辐射。距离量测器配置于天线架上,并用以量测天线与受测装置之间的距离。控制器电性耦接于天线以及距离量测器,并用以根据前述距离,产生控制信号。调整器电性耦接于天线以及控制器,并用以接收控制信号来调整天线。采用本发明的测试装置,可以解决天线上升所导致测试距离逐渐变大以及天线无法面对其接收辐射能量的最强方向,从而对测试数据产生影响的问题。
  • 一种测试装置
  • [发明专利]全电波暗室-CN201110205019.6无效
  • 韩兆祥;徐昭娣;刘冉冉;刘宏彻 - 英业达股份有限公司;英顺达科技有限公司
  • 2011-07-13 - 2013-01-16 - H04B17/00
  • 本发明提供了一种全电波暗室,其包含一测试室、一测试转桌、一种天线架装置。测试室包含一外墙,此外墙具有一孔洞。测试转桌设置在测试室内。天线架装置包含一天线架、一管道及一驱动装置。管道的内部供天线架设置,管道的一端与测试室连通,驱动装置则连接于天线架,用以控制使天线架进出管道,并控制测试转桌。本发明具备不需人为移动天线架,天线架的高度可固定,可通过驱动装置控制天线架进出管道,避免人为操作产生的误差等诸多优点。
  • 电波暗室
  • [实用新型]距离量测装置-CN201020231616.7无效
  • 朱研;徐昭娣;王万祥;刘宏彻 - 英业达股份有限公司
  • 2010-06-17 - 2011-01-19 - G01C3/00
  • 本实用新型提供一种距离量测装置,包括第一与第二校准元件、第一至第四激光光源及角度调整元件。第一激光光源配置于第一校准元件。第一激光光源沿垂直于参考平面的第一轴线发出光线至第一天线的相位中点。第二激光光源配置于第一校准元件。第二激光光源沿第一轴线发出光线至参考平面上的第一位置。第三激光光源配置于第二校准元件。第三激光光源沿垂直于参考平面的第二轴线发出光线至第二天线的相位中点。角度调整元件枢设于第二校准元件。第四激光光源配置于角度调整元件。第四激光光源沿第三轴线发出光线至参考平面上的第一位置。
  • 距离装置
  • [实用新型]电磁抗扰度测试设备-CN201020225073.8无效
  • 陈志超;刘宏彻 - 英业达股份有限公司
  • 2010-06-09 - 2011-01-05 - G01R31/00
  • 本实用新型提供一种电磁抗扰度测试设备,包括承载座、支撑结构、测试平台、至少一支撑滑块及一工频磁场测试机器。支撑结构配置在承载座上。测试平台具有前端及后端且承载电子装置,其中后端配置在支撑结构上,前端悬于承载座上方,前端面对承载座的表面具有至少一滑槽,滑槽具有第一端及第二端,滑槽在第一端的深度小于滑槽在第二端的深度。支撑滑块滑设于滑槽,其中支撑滑块滑动至第一端而接触承载座,或滑动至第二端而与承载座之间具有间距,感应线圈越过该间距而套设于该前端。工频磁场测试机器配置在承载座上而邻近测试平台。
  • 电磁抗扰度测试设备
  • [实用新型]一种用于电波暗室的照明系统-CN200920273604.8无效
  • 朱研;徐昭娣;王万祥;刘宏彻 - 英业达股份有限公司
  • 2009-11-26 - 2010-11-17 - F21V13/00
  • 本实用新型提供了一种用于电波暗室的照明系统,包括:发光器,光纤,连接器以及光散射器件。发光器是具有外罩和位于外罩内的光源,光纤的一端与发光器相连接,用于将光传输至电波暗室,连接器用于将光纤的另一端固定在电波暗室的内壁,光散射器件被放置在电波暗室中,用于散射由光纤输出至电波暗室的光线。采用本实用新型的用于电波暗室的照明系统,使用了光纤传导技术,使原灯具造成的电磁污染及电磁波反射问题降到了最低,并实现了有效的节能。
  • 一种用于电波暗室照明系统
  • [实用新型]一种用于测试内置天线的固定装置-CN200920273603.3无效
  • 朱妍;徐昭娣;王万祥;刘宏彻 - 英业达股份有限公司
  • 2009-11-26 - 2010-08-25 - G01R23/16
  • 本实用新型提供了一种连接线与内置天线固定装置,包含:两可伸缩支架,一套筒,一旋紧螺丝。两可伸缩支架为矩形拱状,每一可伸缩支架的水平部分具有一孔洞,套筒穿设于两可伸缩支架的孔洞,旋紧螺丝设置于套筒上。两可伸缩支架可以套筒为转轴旋转。每一可伸缩支架的水平部分的孔洞两侧分别设置有第一可伸缩部件,藉以调整其水平部分的长度。在两可伸缩支架各垂直部分设置有第二可伸缩部件,藉以调整其垂直部分的高度。这样就有效地固定了连接线与内置天线,避免产生短路及松动现象以及温度变化对测试结果产生的影响。
  • 一种用于测试内置天线固定装置
  • [实用新型]照明装置-CN200920073239.6无效
  • 徐辉;刘宏彻 - 英源达科技有限公司;英业达股份有限公司
  • 2009-06-02 - 2010-03-24 - F21S8/00
  • 本实用新型公开了一种照明装置,适用于电子装置。此照明装置包括晶体管、第一电容、变压器、二极管及发光二极管。晶体管的集电极耦接系统电压,其发射极耦接接地电压。变压器的一次侧耦接于晶体管的集电极与基极之间。发光二极管耦接于变压器的二次侧的第一端与第二端之间。第一电容并联耦接于发光二极管。二极管耦接于变压器的二次侧的第一端与发光二极管之间。藉此,让使用者在停电或无其它照明设备的情况下,对电子装置进行照明。
  • 照明装置
  • [实用新型]指针装置及其恒温电路-CN200920076036.2无效
  • 徐辉;刘宏彻 - 英源达科技有限公司;英业达股份有限公司
  • 2009-06-10 - 2010-03-24 - G05D23/20
  • 本实用新型公开了一种指针装置及其恒温电路。此指针装置包括机体、温度传感器、温度调节器及温度控制电路。机体具有握持部。温度传感器配置于机体内。温度调节器配置于机体内并靠近握持部,以及耦接温度传感器。温度调节器依据温度传感器所测得的温度,决定是否调整机体内的温度。温度控制电路配置于机体内,耦接于温度传感器与温度调节器之间,以依据温度传感器所测得的温度,控制温度调节器是否调整机体内的温度。其中,恒温电路由温度传感器、温度调节器及温度控制电路所组成。
  • 指针装置及其恒温电路
  • [实用新型]冲击测试装置-CN200920003182.2无效
  • 孙燕曲;刘宏彻 - 英业达股份有限公司
  • 2009-01-14 - 2009-11-04 - G01M7/08
  • 本实用新型公开了一种冲击测试装置,适于对一待测元件进行冲击测试。冲击测试装置包括二伸缩轴杆、一导管以及一球体。伸缩轴杆具有一基部与一支撑部。待测元件位于伸缩轴杆的基部之间。导管锁固于伸缩轴杆上且位于支撑部之间,其中导管具有一轴心。球体位于导管的上方,且适于由一高度沿着导管的轴心方向自由掉落,并撞击待测元件。
  • 冲击测试装置
  • [发明专利]基本输入输出系统的测试方法-CN200810090695.1无效
  • 钱钰钰;刘宏彻 - 英业达股份有限公司
  • 2008-04-08 - 2009-10-14 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种基本输入输出系统的测试方法,用以测试计算机系统的基本输入输出系统。此方法首先提供基本输入输出系统刷写程序。其中,基本输入输出系统刷写程序记录有刷写次数及刷写文件名称。接下来,激活计算机系统并执行基本输入输出系统刷写程序,以根据刷写次数及刷写文件名称来自动地对计算机系统的基本输入输出系统进行重复测试,并自动将测试结果储存于文件档中。如此一来减少测试流程所需的人力资源,并同时增加测试基本输入输出系统的便利性。
  • 基本输入输出系统测试方法

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