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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光电探测器、电磁波测量装置以及电磁波测量方法-CN201680038928.6有效
发明人：久武信太郎;永妻忠夫;内田裕久 -专利权人：国立大学法人大阪大学
申请日： 2016-06-28 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：一种用于检测电磁波的光电探测器(101)，其具备电光晶体(52)以及与电光晶体(52)光学耦合的光纤(16)，被设为电光晶体(52)的固有轴的方向和入射到电光晶体(52)的来自光纤(16)的光的偏振方向对齐、或者电光晶体(52)的固有轴的方向和光纤(16)的固有偏振方向对齐。
光电探测器电磁波测量装置以及测量方法

[发明专利]光学元件和光学元件的制造方法-CN201910793744.6在审
发明人： 内田裕久 -专利权人：爱科来株式会社
申请日： 2019-08-27 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： G02B1/11 文献下载
摘要：本发明涉及光学元件和光学元件的制造方法。本发明提供一种光学元件，其包括防止龟裂发生的涂膜。所述光学元件包括：光学晶体；和涂覆光学晶体的表面的防反射膜；在该光学元件中，抗反射膜含有有机化合物。
光学元件制造方法

[发明专利]太赫兹波测量装置、测量方法以及测量仪器-CN201510930890.0有效
发明人： 内田裕久 -专利权人：爱科来株式会社
申请日： 2015-12-15 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：太赫兹波测量装置、测量方法以及测量仪器。提供了一种太赫兹波测量装置，该太赫兹波测量装置包括：(1)太赫兹波产生元件，该太赫兹波产生元件基于入射到所述太赫兹波产生元件的激发光通过差频生成产生太赫兹波，激发光包括多个不同波长分量并且被汇聚以便具有预定大小的光束直径；(2)结构体，太赫兹波透射通过该结构体；以及(3)检测器，该检测器检测已透射通过结构体的太赫兹波的强度，其中，结构体包括保持样品的预定宽度的样品架，并且该结构体与太赫兹波产生元件紧密接触或者相接合。
赫兹测量装置测量方法以及仪器

[发明专利]太赫兹波的特性测量方法和装置、物质检测方法和装置-CN201210025414.0无效
发明人：北村茂;内田裕久 -专利权人：爱科来株式会社
申请日： 2012-02-06 - 公布日： 2012-08-22 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明涉及太赫兹波的特性测量方法和装置、物质检测方法和装置。所述太赫兹波的特性测量方法包括：在溶液的厚度为10μm～100μm的区域照射太赫兹波以使所述太赫兹波的传播方向为所述溶液的厚度方向，所述溶液包含至少一种类型的待测量的目标物质；和测量透过所述区域的太赫兹波和由所述区域反射的太赫兹波之一的光谱特性和特定频率或特定波长下的强度中的至少一项。
赫兹特性测量方法装置物质检测方法

[发明专利]光学晶体和太赫兹波生成装置及方法-CN201210021833.7有效
发明人： 内田裕久 -专利权人：爱科来株式会社
申请日： 2012-01-31 - 公布日： 2012-08-08 - 主分类号： G02F1/35 文献下载
摘要：光学晶体和太赫兹波生成装置及方法。一种光学晶体包括：第一非线性光学晶体，该第一非线性光学晶体通过差频生成来生成与具有两个不同波长的入射光中的差频成分相对应的太赫兹波；以及第二非线性光学晶体，该第二非线性光学晶体通过差频生成来生成与具有两个不同波长的入射光中的差频成分相对应的太赫兹波，所述第二非线性光学晶体在材料方面与所述第一非线性光学晶体不同，并且所述第一非线性光学晶体和所述第二非线性光学晶体被设置成彼此接触或靠近。
光学晶体赫兹生成装置方法

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