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[发明专利]一种微波插层制备WO3-CN202010586588.9在审
发明人： 俞鲜鲜;张骋;郑晓虹 -专利权人：上海应用技术大学
申请日： 2020-08-07 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： C01G41/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用微波插层法制备WO3纳米片的方法，其特征在于，将Bi2O3粉体与WO3粉体研磨，形成混合物；将混合物放入马弗炉中煅烧后，自然冷却，得到Bi2W2O9粉体；加入中分多次加入HCl搅拌均匀，每次加入HCl后微波加热；然后抽滤洗涤，自然晾干后得到亮黄色粉体；将其置于HNO3溶液中，磁力搅拌，离心、抽滤洗涤得到WO3纳米片。本发明借助微波只用较短的时间即可获得产物，大大地降低了制备时间。微波处理促进了Bi2W2O9转换成H2W2O7·xH2O，推进了WO3纳米片在固体电化学传感器领域的应用。
一种微波制备 wo base sub

[发明专利]一种测量高温下固体电解质电阻率的方法-CN201910589811.2在审
发明人：张骋;连子龙;俞鲜鲜;王松莹 -专利权人：上海应用技术大学
申请日： 2019-07-02 - 公布日： 2019-09-17 - 主分类号： G01N27/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种测量高温下固体电解质电阻率的方法，其特征在于，包括：将打磨后的固体电解质基片与陶瓷加热片通过耐高温导热胶粘结，将陶瓷加热片连接电源，将固体电解质基片及陶瓷加热片放置在四探针测试仪操作台上，固体电解质基片一侧朝上，使陶瓷加热片开始加热，将固体电解质基片加热到所需测试温度，操作四探针电阻率测试仪进行测试，得到高温下固体电解质电阻率。本发明提出的测量高温下固体电解质电阻率的方法不需配置额外的温度检测及控制装置即可自行升温并稳定在固体电解质所需的工作温度，达到定温测量的效果。
固体电解质固体电解质基片陶瓷加热片电阻率测量高温加热电阻率测试仪四探针测试仪测试控制装置连接电源温度检测导热胶耐高温朝上定温探针粘结打磨测量配置