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[发明专利]天线装置、通信装置和图像捕获系统-CN202310382742.4在审
发明人：行正浩二;井辻健明;北泽佑记;村尾竜耶;小山泰史;佐藤崇广 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： H01Q1/36 文献下载
摘要：本公开涉及天线装置、通信装置和图像捕获系统。提供了一种天线装置，包括：有源天线，有源天线包括天线、被配置为作为振荡器操作的半导体结构，以及被配置为向半导体结构给予电位差的至少两条电力线，并且有源天线被配置为生成或检测电磁波；以及控制线，电连接到该至少两条电力线之一，并被配置为注入用于控制有源天线中的振荡器的相位的信号。
天线装置通信图像捕获系统

[发明专利]太赫兹波相机和检测模块-CN201880079429.0有效
发明人： 井辻健明;海部纪之 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2018-12-06 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： H04N25/70 文献下载
摘要：一种获取关于测量目标107的信息的太赫兹波相机100，包括：传感器单元101，在该传感器单元101中布置对太赫兹波108具有光谱灵敏度的多个元件191；读出电路单元102，从元件191读出信号；第一遮光部103；以及光学单元103。第一遮光部103减少干扰光111，读出电路单元102对该干扰光111具有光谱灵敏度。光学单元103将太赫兹波108从测量目标107引导到传感器单元101。
赫兹相机检测模块

[发明专利]高频电路设备和检测系统-CN202211641180.2在审
发明人：小山泰史;井辻健明 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2022-12-20 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： H01Q1/36 文献下载
摘要：公开了高频电路设备和检测系统。一种高频电路设备包括：芯片，该芯片包括高频元件、高频电路、信号导体和芯片地；封装件基板，在该封装件基板上部署有芯片；分流路径，该分流路径由封装件信号导体、封装件第一地和分流元件构成，该封装件信号导体部署在封装件基板的上表面上并电连接到信号导体，该封装件第一地电连接到芯片地，该分流元件电连接到封装件信号导体和封装件第一地；以及封装件第二地，该封装件第二地至少部署在封装件基板的基底的内部或封装件基板的后表面上，其中，基底的一部分、分流路径的一部分、以及封装件第二地构成电容结构。
高频电路设备检测系统

[发明专利]图像捕获装置、用图像捕获装置捕获图像的方法和照射装置-CN202211605907.1在审
发明人： 井辻健明;海部纪之 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2017-11-16 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： H04B10/90 文献下载
摘要：公开了图像捕获装置、用图像捕获装置捕获图像的方法和照射装置。图像捕获装置1001通过使用太赫兹波来捕获图像，并且包括：生成单元112，包括多个生成元件，每个生成元件生成太赫兹波并且支承在支承面117上；照射光学系统111，用太赫兹波照射被摄体；成像光学系统101，对从被摄体反射的太赫兹波成像；以及传感器102，包括像素。所述多个生成元件至少包括第一生成元件113和第二生成元件114，第一生成元件113和第二生成元件114具有对被摄体的不同照射角度。存在如下的重叠区域，在该重叠区域中从第一生成元件到被摄体的第一太赫兹波156的照射区域和从第二生成元件到被摄体的第二太赫兹波157的照射区域重叠。
图像捕获装置方法照射

[发明专利]太赫兹波相机系统和用于控制太赫兹波相机系统的方法-CN202110183859.0在审
发明人： 井辻健明;海部纪之;高见荣一 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2021-02-10 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G01V8/10 文献下载
摘要：本发明公开了太赫兹波相机系统和用于控制太赫兹波相机系统的方法。太赫兹波相机系统包括：第一发送单元，所述第一发送单元能够发射第一太赫兹波；第二发送单元，所述第二发送单元被设置在与所述第一发送单元的位置不同的位置并且能够发射第二太赫兹波；检测单元，所述检测单元能够检测第一反射太赫兹波或者第二反射太赫兹波中的至少一个，并且输出基于检测的太赫兹波的图像数据，所述第一反射太赫兹波是从被照体反射的所述第一太赫兹波的一部分，所述第二反射太赫兹波是从所述被照体反射的所述第二太赫兹波的一部分；以及第一控制单元，所述第一控制单元被配置为在基于所述图像数据设定的条件下，控制所述第一发送单元的操作或者所述第二发送单元的操作中的至少一个。
赫兹相机系统用于控制方法

[发明专利]处理系统-CN202010165221.X在审
发明人： 井辻健明;佐藤崇广;小山泰史;吉冈利文;高见荣一;海部纪之;伊庭润;仓岛玲伊 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2020-03-11 - 公布日： 2020-09-22 - 主分类号： G01V8/10 文献下载
摘要：本发明提供处理系统。该处理系统包括：第一摄像系统，其被构造为基于来自检查对象的太赫兹波，来拍摄第一图像；第二摄像系统，其被构造为基于波长不同于太赫兹波的电磁波，来拍摄检查对象的第二图像；以及处理器，其被构造为处理第一图像和第二图像，其中，处理器基于第二图像来检测检查区域，并处理第一图像的与检查区域相对应的区域的信息。
处理系统

[发明专利]移动体-CN202010173090.X在审
发明人：小山泰史;佐藤崇广;井辻健明;吉冈利文;高见荣一;海部纪之;伊庭润;仓岛玲伊 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2020-03-13 - 公布日： 2020-09-22 - 主分类号： G01V8/10 文献下载
摘要：一种移动体，包括获取由太赫兹波形成的图像的成像系统，其中，所述图像是通过捕获移动体内部的检查对象而获得的图像。
移动

[发明专利]用于辐射或接收电磁波的装置-CN201710342856.0有效
发明人： A·德布雷;井辻健明 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2013-02-12 - 公布日： 2020-07-31 - 主分类号： H01Q9/16 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于辐射或者接收电磁波的装置。该装置包括基板，该基板包括被反射所述电磁波的材料涂布的凹部、辐射或者接收所述电磁波的金属部、以及在所述基板上连接到所述金属部的电子元件。该金属部包括设置在所述凹部的开口上方的部分、以及位于所述基板上并且连接到所述电子元件的部分。
用于辐射接收电磁波装置

[发明专利]图像捕获装置、用图像捕获装置捕获图像的方法和照射装置-CN201780072390.5在审
发明人： 井辻健明;海部纪之 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2017-11-16 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：图像捕获装置1001通过使用太赫兹波来捕获图像，并且包括：生成单元112，包括多个生成元件，每个生成元件生成太赫兹波并且支承在支承面117上；照射光学系统111，用太赫兹波照射被摄体；成像光学系统101，对从被摄体反射的太赫兹波成像；以及传感器102，包括像素。所述多个生成元件至少包括第一生成元件113和第二生成元件114，第一生成元件113和第二生成元件114具有对被摄体的不同照射角度。存在如下的重叠区域，在该重叠区域中从第一生成元件到被摄体的第一太赫兹波156的照射区域和从第二生成元件到被摄体的第二太赫兹波157的照射区域重叠。
生成元件太赫兹波被摄体图像捕获装置捕获图像照射区域重叠区域照射成像光学系统太赫兹波成像照射光学系统生成单元照射装置传感器支承面像素支承反射

[发明专利]用于辐射或接收电磁波的装置-CN201380012667.7有效
发明人： A·德布雷;井辻健明 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2013-02-12 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： H01Q9/16 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于辐射或者接收电磁波的装置。该装置包括基板，该基板包括被反射所述电磁波的材料涂布的凹部、辐射或者接收所述电磁波的金属部、以及在所述基板上连接到所述金属部的电子元件。该金属部包括设置在所述凹部的开口上方的部分、以及位于所述基板上并且连接到所述电子元件的部分。
用于辐射接收电磁波装置

[发明专利]时域太赫波测量装置中校准时间轴的方法-CN201180013345.5有效
发明人： 井辻健明 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2011-03-09 - 公布日： 2012-11-21 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：本发明提供能够改善获得的频谱信息的定量性的太赫波测量装置和测量方法。在使用太赫波测量装置的测量方法中，太赫波测量装置测量与已获知校准谱形状的校准样品有关的太赫波的时间波形，并通过变换时间波形来获得测量谱。比较校准谱和测量谱，并基于比较结果来调整形成时间波形的测量数据的时间间隔，以便校准太赫波测量装置。
时域太赫波测量装置校准时间方法

[发明专利]具有用于产生电磁波的负微分电阻器件的振荡器-CN201080039014.4有效
发明人：关口亮太;井辻健明 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2010-09-03 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： H03B7/08 文献下载
摘要：具有负电阻器件和谐振器的振荡器包含：与负电阻器件连接的传输线路；三端子器件，包含在端子部分处与传输线路的信号线路侧连接的第一端子、与传输线路的接地线路侧连接的第二端子、以及用于接收要对其施加的控制信号的第三端子；用于调整要向第三端子施加的控制信号的第一调整单元；以及用于调整要向第二端子施加的电压的第二调整单元，第一调整单元和第二调整单元适于分别调整所述控制信号和所述电压，以便使传输线路的特性阻抗与第一端子和第二端子间阻抗表现为阻抗匹配。稳定化电路的功耗速率可被减少。
具有用于产生电磁波微分电阻器件振荡器

[发明专利]光学半导体器件-CN201010135255.0有效
发明人：尾内敏彦;井辻健明;笠井信太郎 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2005-07-28 - 公布日： 2010-08-04 - 主分类号： H01L31/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学半导体器件，其包括具有光电导性的半导体薄膜(4)和用于在大致垂直于所述半导体薄膜(4)的表面的方向向所述半导体薄膜(4)内部施加电场的电极对(5)和(10)，其中，当光作用于所述半导体薄膜(4)的被施加了电场的区域时，所述半导体薄膜(4)产生电磁波。所述电极被设置在所述半导体薄膜(4)的前表面和背面，其间夹着所述半导体薄膜。
光学半导体器件

[发明专利]太赫波产生器件和使用太赫波产生器件的装置-CN200910165958.5有效
发明人： 井辻健明 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2009-08-20 - 公布日： 2010-03-03 - 主分类号： H01L27/144 文献下载
摘要：本发明公开一种太赫波产生器件和太赫波产生装置。所提供的太赫波光学器件可被用作太赫波产生器件，该太赫波光学器件包含：光学开关部分，通过用激发光照射来突然产生载流子；以及第一电极部分和第二电极部分，被设置为彼此相对而光学开关部分在它们之间，以沿光学开关部分的厚度方向施加电场。第一电极部分至少部分地包含天线部分，所述天线部分具有沿与电场施加方向相交的方向分布通过用激发光照射而产生的载流子的天线功能。利用该太赫波光学器件，用于调整激发光的入射角的步骤被简化。
太赫波产生器件使用装置

[发明专利]检测装置-CN200880000985.0有效
发明人： 井辻健明 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2008-03-27 - 公布日： 2009-09-30 - 主分类号： G01N21/35 文献下载
摘要：一种检测装置，能够通过使用非相干电磁波精确地进行目标的无损观测。检测装置具有产生部分(101)、第一耦合器部分(104)、延迟部分(106)、第二耦合器部分(104)、检测部分(107)和信号处理部分(100)。产生部分(101)包含相干电磁波源(102)和用于通过根据码模式改变相干电磁波的传播状态来产生伪非相干电磁波的扩散部分(103)。非相干电磁波被分成第一和第二波，并且，第一波受观测目标(105)影响，而第二波被延迟部分延迟。然后耦合第一和第二波以产生具有它们的相关信号的耦合波，并且，利用该信号来获取关于观测目标内部的信息。
检测装置

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