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- [发明专利]一种基于片上总线的芯片调试方法-CN201711130017.9有效
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余梓奇;马鹏
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中国电子科技集团公司第三十二研究所
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2017-11-15
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2021-07-30
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G06F11/267
- 本发明公开了一种基于片上总线的芯片调试方法,在芯片内部集成设置一个调试控制模块来实现芯片调试功能,该模块由调试接收模块和调试处理模块组成;调试接收模块用于接收外部的JTAG信号,将其串并转换成内部总线信号发给调试处理模块,接收调试处理模块返回的调试结果,并将其转换成JTAG信号发往芯片外部;调试处理模块接收调试接收模块发来的命令和数据,再将其转换成片上总线协议格式的命令和数据,发送至片上总线,同时接收片上总线返回的调试结果,并将其处理后发往调试接收模块,待调试的系统功能模块接收片上总线发来的调试命令和数据,处理完成后将调试结果经由片上总线返回给调试处理模块。本发明更具通用性和可移植性。
- 一种基于总线芯片调试方法
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