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[发明专利]一种应用于高幅值差分信号的自动化采集测试方法-CN201510847877.9有效
发明人：刘士全;秦晨飞;严华鑫;徐睿;汤赛楠 -专利权人：中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请日： 2015-11-27 - 公布日： 2018-10-02 - 主分类号： G01R13/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种应用于高幅值差分信号自动化采集测试方法，采用了NI系统控制示波器进行数据自动采集测试，并配合测试机系统完成测试向量的输入与测试结果的判断显示。该方法将高幅值差分信号进行自动采集测试回传，并将测试结果自动保存为文本文件，从而解决了传统测试机无法完成高幅值差分信号的采集与测量，并解决了利用示波器手动测试到自动测试的难题，大大提高了高幅值差分信号电路测试效率，节约了测试成本。
幅值差测试示波器采集文本文件自动化数据自动采集测试机系统测试成本测试向量测试效率传统测试手动测试系统控制信号电路自动保存自动采集自动测试回传应用测量节约配合

[发明专利]一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法-CN201610353673.4在审
发明人：刘士全;王健军;严华鑫;徐睿 -专利权人：中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请日： 2016-05-25 - 公布日： 2016-07-27 - 主分类号： G01N25/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法，以常温贮存数据为基础，选取三个不同的高温点进行加速贮存寿命试验，通过高温点数据和常温数据进行对比，得到高温贮存条件相对常温贮存条件的加速因子，根据加速因子得到高温贮存试验的时间，该方法包括一个常温贮存寿命试验、三个不同高温点的高温加速贮存寿命试验、一个有效的计算评价方法，该方法成功地将高温加速贮存寿命试验数据与常温贮存寿命数据进行比对，并将测试结果进行最小二乘法拟合计算，从而解决了传统长期贮存寿命评价耗费时间长、甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了的难题，大大缩短了长期贮存寿命评价时间，节约了评价成本。
一种新型 cmos 器件长期贮存寿命评价试验方法