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- [发明专利]一种轴承试验机-CN202211574669.2在审
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王健;刘公平;李玉亭;吴易明;马德锋;马迁;张海鹏;郝大庆
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洛阳轴承研究所有限公司
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2022-12-08
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2023-05-12
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G01M13/04
- 本发明涉及轴承测试技术领域,具体涉及一种轴承试验机。本发明的目的在于提供一种轴承试验机,以解决现有技术中高速轴承试验机的加载精度不可控、容易出现较大偏差的技术问题。轴承试验机包括机架,机架上设有加载设备,加载设备包括驱动油缸,所述加载设备还包括连接在驱动油缸上的油缸控制器,油缸控制器包括用于控制油缸中活塞的伸出量和伸出速度的螺纹推杆。通过在加载设备的驱动油缸上连接布置螺纹推杆,即可通过螺纹推杆对驱动油缸进行总控,螺纹推杆可以通过其螺纹递进距离,实现油缸的无极调节以及加载力的可控,在进行试验轴承在轴承试验机上的加载设置时,通过控制螺纹推杆实现对驱动油缸的步进调节。
- 一种轴承试验
- [发明专利]一种芯片启动方法及装置-CN202111130069.2在审
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虢成龙;郭耀华;马迁;张满新
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紫光同芯微电子有限公司
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2021-09-26
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2023-03-31
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G06F9/4401
- 本申请实施例公开了一种芯片启动方法及装置,芯片中包括一次性可编程存储器eFuse,对eFuse进行读取,得到eFuse内的读取数据,若eFuse内的读取数据与预设数据相同,则按照预设数据对应的工作模式启动芯片,工作模式为正常模式、测试模式和调试模式中的任意一种。也就是说,只有在读取数据和其中一种工作模式的预设数据相同时,芯片才会按照该种工作模式启动芯片进行工作,能够保证芯片仅进入其中一种工作模式,不会进入其他工作模式,此时若将预设数据设置为正常模式对应的工作模式,就能够保证在封装后芯片无法再次进入测试模式和调试模式,降低芯片的安全隐患。
- 一种芯片启动方法装置
- [发明专利]一种芯片测试方法和装置-CN202111140653.6在审
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李凯亮;胡博;陈凝;郭耀华;马迁
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紫光同芯微电子有限公司
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2021-09-28
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2023-03-31
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G01R31/28
- 本申请提供了一种芯片测试方法和装置,芯片包括芯片数据存储区和芯片冗余替换区,该方法包括:利用第i道芯片测试确定芯片数据存储区的第二失效单元;第i道芯片测试为第一道芯片测试之后进行的芯片测试;第一道芯片测试确定出芯片数据存储区的第一失效单元;其中,i为大于1的整数;利用第一失效单元和第二失效单元,确定总失效存储空间;当总失效存储空间小于或等于芯片冗余替换区的存储空间时,采用芯片冗余替换区的存储单元替换第二失效单元以对数据进行存储。即从传统的只在第一道芯片测试中启用冗余替换修复,调整为第i道也可以启用,可以修复后续第i道芯片测试中可能存在的新增失效单元,有效的提高了芯片的良率,节约了成本。
- 一种芯片测试方法装置
- [发明专利]一种控制信号的监测保护电路-CN202111101590.3在审
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马迁;郭耀华;张满新
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紫光同芯微电子有限公司
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2021-09-18
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2023-03-24
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G06F21/71
- 本申请提供一种控制信号的监测保护电路,用于保护安全芯片,该电路包括:信号监测单元和报警处理单元,其中:所述信号监测单元用于实时检测包含敏感逻辑的SEN控制信号的状态,在安全芯片受到攻击时,若检测到所述SEN控制信号的电平发生异常突变时,则产生高电平报警信号;所述报警处理单元用于根据所述高电平报警信号控制所述安全芯片进行响应和处理,以加强所述安全芯片的安全机制。本申请在关键信号收到攻击发生变化后,产生报警,并由相关电路对报警信号进行响应,对芯片的系统控制信号进行接管,保证敏感数据不会被异常攻击所获取,从而保证芯片的安全,避免由于关键信号被攻击后导致相关安全措施失效的问题。
- 一种控制信号监测保护电路
- [实用新型]一种便于分类的试剂盒-CN202223194918.3有效
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蔡慰;马迁
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武汉博创蓝图医药科技有限公司
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2022-11-30
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2023-03-14
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B65D25/04
- 本实用新型涉及试剂盒技术领域,且公开了一种便于分类的试剂盒,包括盒体,所述盒体的内侧后壁之间固定安装有隔板,所述盒体内侧设置有位于隔板左侧的放置组件;所述放置组件包括有支撑架,所述支撑架的内侧底部固定安装有底座,所述支撑架的前后两侧均开设有滑槽,两个所述滑槽内侧滑动安装有支撑板,所述支撑架的顶部转动安装有延伸至后侧所述滑槽的内侧底壁且与支撑板螺纹连接的调节杆,所述支撑板顶部开设有限位孔,所述底座的底部开设有限位槽。该便于分类的试剂盒,具备了对试剂盒内空间进行分类,便于调节试管支撑板的高度,便于将每个区域的底座从试剂盒中升起便于操作员拿取试管的优点。
- 一种便于分类试剂盒
- [发明专利]一种光检测电路、方法及设备-CN202211506932.4在审
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豆玉娇;马迁
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紫光同芯微电子有限公司
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2022-11-29
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2022-12-30
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G01J1/44
- 本申请公开了一种光检测电路、方法及设备,可用于电子电路技术领域,该电路包括:光电转换模块、放大模块、温度补偿模块以及电流比较模块;光电转换模块用于产生光电转换电流,光电转换电流包括由光信号转换的第一电流和随环境温度变化的第二电流;温度补偿模块用于产生抵消第二电流的补偿电流;放大模块用于放大光电转换模块输入的光电转换电流,输出第三电流;电流比较模块用于比较第三电流和预先配置的基准电流的大小,输出比较结果。由此,通过温度补偿模块产生的补偿电流抵消了光电转换模块产生的第二电流,减小了高温下较大的第二电流对电流的比较结果的影响,可以提高光检测电路的可靠性,较为精准的检测光检测电路所检测位置的光强。
- 一种检测电路方法设备
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