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- [实用新型]裁切设备-CN202320404174.9有效
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杨乐;郑洪宝;翁水才;谢周阳;胡成祥
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杭州长川科技股份有限公司
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2023-03-01
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2023-10-20
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H01L21/687
- 本申请涉及的裁切设备具有用于半导体元件流转的第一路径，第一路径设有收料工位、废料工位、供料工位、调整工位和裁切工位；第一路径的上方设有定位视觉模组、复检视觉模组和搬运模组；裁切工位设有裁切平台和安装于裁切平台的吸附模组，裁切平台构造有落料孔并能够沿第一方向往复移动；吸附模组围设于落料孔的边缘处；吸附模组包括沿第二方向相对且间隔布置的固定座和活动座，固定座和活动座之间形成有与落料孔连通的剔料空间；活动座能够沿第二方向相对固定座做靠近运动或远离运动；第二方向与第一方向成角度设置。该裁切设备能够更稳定的固定半导体元件，并适用于不同型号的半导体元件，提高裁切质量。
- 设备
- [实用新型]检测装置-CN202320393117.5有效
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杨乐;郑洪宝;翁水才;谢周阳;周世超
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杭州长川科技股份有限公司
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2023-03-01
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2023-10-20
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B07C5/34
- 本申请涉及半导体检测技术领域，提供了一种检测装置。该检测装置包括检测平台和拾取模组，检测平台具有具有沿第一方向间隔布设的收料工位、上料工位、调整工位以及检测工位，各工位共同限定出第一流转路径；检测工位沿第二方向被划分为间隔布设的压载子工位、第一检测子工位和第二检测子工位，并共同限定出第二流转路径；拾取模组能够沿第一流转路径在上料工位、调整工位、检测工位和收料工位之间流转。也就是说，该检测装置通过第一流转路径和第二流转路径的成角度设置，相当于将沿水平横向的部分空间转移至水平纵向，缩减沿水平横向所占用的空间；当拾取模组沿第一流转路径移动时，缩减了移动行程，提高拾取模组的使用稳定性。
- 检测装置
- [实用新型]用于整板电子元件的测试装置-CN202320875373.8有效
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胡俊滨;顾苏南;朱伟琦;林卫;郑洪宝;滕闯
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杭州长川科技股份有限公司
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2023-04-14
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2023-08-22
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H01L21/67
- 本实用新型涉及一种用于整板电子元件的测试装置，包括信号转接板、多个测试板及与多个测试板一一对应的多个探针机构，多个探针机构呈矩阵分布于信号转接板的一侧，并通过信号转接板与对应的测试板通信连接。测试时，先将整板电子元件置于测试工位，再使多个探针机构分别与整板电子元件上多个芯片的测试区接触。多个测试板发出的多组测试信号经信号转接板及探针机构分别并进入对应芯片内。测试信号在芯片内可生成反馈信号，每个探针机构收集的反馈信号传递至对应的测试板。测试板通过对接收到的反馈信号进行比对，便可判断对应的芯片是否合格。可见，上述用于整板电子元件的测试装置能够一次性对多个芯片完成自动测试，故能够显著提升测试效率。
- 用于电子元件测试装置
- [发明专利]用于整板电子元件的自动测试设备-CN202310414222.7在审
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滕闯;郑洪宝;武琪;胡俊滨;朱伟琦
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杭州长川科技股份有限公司
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2023-04-14
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2023-07-14
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G01R31/28
- 本发明涉及一种用于整板电子元件的自动测试设备，搬运装置先将整板电子元件由取料位置搬运至旋转承载机构，整板电子元件可在旋转承载机构的带动下旋转90度并由定位机构沿X方向夹持，以实现对中。接着，搬运装置将整板电子元件搬运至承载台。多轴驱动机构通过驱动承载台平移及旋转可对整板电子元件实现精确定位，以使其上的多个电芯分别与多个探针机构相对。最后，多轴驱动机构驱动承载台沿Z方向移动，直至多个芯片分别与多个所述探针机构相抵接，测试装置便能够对多个电芯完成测试。由于针对整板电子元件的上料、定位及转移都自动完成，且一次性能够对多个芯片完成测试。因此，上述用于整板电子元件的自动测试设备能够显著提升测试效率。
- 用于电子元件自动测试设备
- [实用新型]产品检测设备-CN202320305111.8有效
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缪文良;林卫;李海生;郑洪宝
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杭州长川科技股份有限公司
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2023-02-24
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2023-04-07
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G01N21/88
- 本实用新型涉及一种产品检测设备，包括视觉检测装置及输送装置。视觉检测装置包括拍摄组件及光源组件，拍摄组件包括探测器及安装于探测器的液态镜头。由输送装置将待测产品输送至拍摄组件的视场区域，再由光源组件向视场区域内的待测产品发射入射光。在检测过程中，探测器借助液态镜头对待测产品进行拍照。而通过电控的方式，可快速调节液态镜头焦距。因此，通过对液态镜头的焦距进行调节，可使得探测器依次对多个不同高度的特征面实现清晰拍照。由此可见，上述产品检测设备在一个工位便能够对待测产品的多个特征面实现图像信息的采集，待测产品无需在多个工位之间流转，也不用重复定位。因此，上述产品检测设备能够显著提升检测的精度。
- 产品检测设备
- [发明专利]电子元件外观检测设备-CN202210257327.1在审
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谢周阳;翁水才;祝占伟;郑洪宝
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杭州长川科技股份有限公司
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2022-03-16
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2022-08-02
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B07C5/00
- 本发明涉及电子元件外观检测设备技术领域，特别是涉及一种电子元件外观检测设备。该电子元件外观检测设备包括底座、供料装置、搬运装置、多工位检测装置以及收料装置。供料装置承载有待测工件；搬运装置能够对待测工件进行搬运，并能将待测工件移动至多工位检测装置分别进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测以及多站正面外观检测；搬运装置还能将经检测后的工件移送至收料装置内进行收料作业。本发明的优点：能够实现对电子元件进行全方位立体检测，有效判别并分选出外观不良的工件，智能化程度高且效率高，提高了对电子元件立体外观检测结果的可靠性及准确性，检测效果佳。
- 电子元件外观检测设备
- [发明专利]光轴主动对准装置-CN202210329441.0在审
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郑洪宝;翁水才;韩笑
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杭州长川科技股份有限公司
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2022-03-30
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2022-07-29
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G02B27/62
- 本申请涉及摄像头精密组装对位技术领域，尤其是涉及一种光轴主动对准装置。该光轴主动对准装置包括基础平台、旋转平台模块、对位组装模组、点胶模块、点亮检测模块、第一取料模块和第二取料模块，旋转平台模块可转动地设置在基础平台上，旋转平台模块上设置有四个组装载台，在旋转平台模块的初始状态下，四个组装载台一一对应地设置于四个组装工位的上方，旋转平台模块被配置为每次转动预定角度，以使四个组装载台与第一取料模块、点胶模块、对位组装模组和点亮检测模块轮流一一对应。该光轴主动对准装置有利于减小占地面积，能够有效提高生产效率和光轴对准精度。
- 光轴主动对准装置
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