专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]阵列基板修补系统及其方法-CN201910274971.8有效
  • 郑佩莎;何人杰 - TCL华星光电技术有限公司
  • 2019-04-08 - 2021-11-02 - G02F1/1362
  • 一种阵列基板修补系统及其方法,其中所述阵列基板修补系统包括第一电性量测站、镭射修补机、镭射长线机及研磨机。第一电性量测站量测所述阵列基板是否存在缺陷,所述缺陷包括点缺陷、断线缺陷和粒子缺陷。镭射修补机对具有所述点缺陷的所述阵列基板进行修补,并分流其余非具有所述点缺陷的所述阵列基板。镭射长线机对具有所述断线缺陷的所述阵列基板并进行长线修补。研磨机对具有所述粒子缺陷的所述阵列基板进行研磨。借此,通过所述研磨机的研磨修补取代所述镭射长线机的长线修补,降低所述镭射长线机的工作量,从而提升产能与生产效率。
  • 阵列修补系统及其方法
  • [发明专利]玻璃基板重测重修系统及其方法-CN201910172630.X有效
  • 何人杰;郑佩莎 - TCL华星光电技术有限公司
  • 2019-03-07 - 2021-09-03 - G02F1/13
  • 一种玻璃基板重测重修系统及其方法,其中所述玻璃基板重测重修系统包括电性量测站、镭射修补机、镭射长线机、分出重测站及重测电性量测站。电性量测站电性量测所述玻璃基板的各所述面板是否存在缺陷。所述镭射修补机对具有所述缺陷的所述面板标识异常等级,并分流其余具有所述异常等级的所述玻璃基板。所述镭射长线机对具有所述异常等级的所述面板进行修补。所述分出重测站分流正常和异常的所述玻璃基板。所述重测电性量测站针对异常的所述玻璃基板进行识别。当所述面板具有异常等级时,对所述异常等级的所述面板进行重测,并根据缺陷种类分流到所述镭射修补机或所述镭射长线机进行重修,从而降低重测重修带来的产能和时间成本的损失。
  • 玻璃基板重测重修系统及其方法
  • [发明专利]一种阵列基板修补方法及修补装置-CN201811334012.2有效
  • 何人杰;郑佩莎 - TCL华星光电技术有限公司
  • 2018-11-09 - 2021-07-06 - G02F1/1362
  • 本发明提供一种阵列基板修补方法,包括:将待修补的阵列基板分为两组;使用镭射修补机组识别所述第一组阵列基板的缺陷的位置并对点缺陷进行修补,同时将所述第二组阵列基板使用镭射长线机组进行修补;将所述第一组阵列基板中经所述镭射修补机组修补后且存在线缺陷的阵列基板输运到所述镭射长线机组处进行修补;在所述第二组阵列基板中的所有阵列基板的缺陷均被找到且修补的情况下,将通过所述镭射长线机组修补好的阵列基板输运到集中处理机台进行集中;将位于所述集中处理机台处的所有阵列基板输运至分拣机台,在所述分拣机台处对已修补好的阵列基板以及待修补的阵列基板进行分类排序。
  • 一种阵列修补方法装置
  • [发明专利]基板修复方法-CN201910219438.1在审
  • 郑佩莎;何人杰 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2019-03-21 - 2019-05-28 - G02F1/13
  • 本发明提供一种基板修复方法,包括如下步骤:提供一电性检测机台,通过所述电性检测机台对各个基板进行电性检测,获得各个基板的电性不良检测信息;提供一修复机台,将各个基板的电性不良检测信息提供至修复机台;所述修复机台根据所述各个基板的电性不良检测信息对各个基板进行修复;根据各个基板的电性不良检测信息及修复情况,确定各个基板的电性不良代码,并将各个基板的电性不良代码输入修复机台;所述修复机台根据各个基板的电性不良代码,自动判断各个基板是否需要重修,并为需要重修的基板添加重修标记,筛选出带有重修标记的基板,并对带有重修标记的基板进行重修,能够提升重修的效率和准确率,改善产品良率。
  • 基板机台电性修复不良检测不良代码电性检测基板修复产品良率信息提供自动判断准确率筛选

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