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[发明专利]一种射频识别标签天线阻抗匹配连接装置-CN201710418022.3有效
发明人： 邢荣欣;王文峰;阚劲松;王酣;赵昭;王壮 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2017-06-06 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： H01Q1/50 文献下载
摘要：本发明实施例提出了一种射频识别标签天线阻抗匹配连接装置，所述装置包括平衡传输线馈电引出结构、阻抗匹配单元和平衡/不平衡转换结构，所述平衡传输线馈电引出结构的一端与待测射频识别标签天线连接，另一端与所述阻抗匹配单元的一端连接，所述阻抗匹配单元的另一端通过所述平衡/不平衡转换结构与天线测量系统连接，以实现所述待测射频识别标签天线与所述天线测量系统的阻抗匹配，本发明实施例提供的射频识别标签天线阻抗匹配连接装置，通过在待测试射频识别标签天线与天线测量系统之间加入阻抗匹配单元，使得射频识别标签天线可以与现有的天线测量系统实现阻抗匹配，进而能对射频识别标签天线的性能进行准确测量和评价。
一种射频识别标签天线阻抗匹配连接装置

[发明专利]一种程控高压源-CN201710416927.7有效
发明人： 邢荣欣;赵昭;阚劲松;王酣 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2017-06-06 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种程控高压源，所述程控高压源包括定时/控制单元、时间设定单元、高压发生单元、升压电路以及与所述定时/控制单元、时间设定单元和升压电路分别连接的电源装置，定时/控制单元的输入端与时间设定单元的输出端连接，定时/控制单元的控制输出端与所述高压发生单元的控制输入端连接，高压发生单元的电压输入端与升压电路的电压输出端连接，高压发生单元与待检测设备的信号输入端连接。本发明实施例公开的程控高压源，能够实现不同高压电压值的切换控制，进而实现对充电平板检测仪的电压测试准确度和衰减时间测试准确度两项参数的校准。
一种程控高压

[发明专利]无线自组网时延参数校准装置及方法-CN202310268324.2在审
发明人：杨盛焱;张红;沙长涛;邢荣欣 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2023-03-20 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： H04W56/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种无线自组网时延参数校准装置及方法，涉及网络通信技术领域。所述无线自组网时延参数校准装置包括校准工控机模块、激励源模块、授时模块、原子钟模块和数字示波器模块，其中：校准工控机模块通信连接激励源模块；激励源模块的输入端分别连接授时模块和原子钟模块；激励源模块的数据传输端用于通过通信线缆分别连接待校无线自组网中的源节点和目的节点；数字示波器模块的两个测量端用于连接激励源模块和源节点之间的通信线缆的两端、以及激励源模块和目的节点之间的通信线缆的两端，以测量信号传输时延。本发明实施例能够实现对无线自组网时延的精确测量和校准。
无线组网参数校准装置方法

[发明专利]一种无线自组织网络组网性能的测试系统和方法-CN202210520102.0有效
发明人：杨盛焱;张红;沙长涛;邢荣欣 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-05-12 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： H04L43/08 文献下载
摘要：本申请的目的是提供一种无线自组织网络组网性能的测试系统和方法，该测试系统包括：工控机，用于生成标准数据包，并在标准数据包中添加时间戳和循环冗余校核CRC校验码，并将标准数据包和数据传输指令发送给源节点；源节点，用于对接收到的标准数据包进行封装调制，并通过路由协议将标准数据包传输给目标节点；目标节点，用于对接收到的标准数据包进行解调解码，并将解调解码结果发送给工控机；工控机，还用于调取工控机的发送端和工控机的接收端的数据，计算用于表示待测试无线自组织网络的组网性能的网络性能参数。借助于上述技术方案，本申请能够实现对无线自组织网络的组网性能的测试。
一种无线组织网络组网性能测试系统方法

[发明专利]一种自组织网络测试系统校准方法、装置和存储介质-CN202210520104.X有效
发明人：杨盛焱;张红;沙长涛;邢荣欣 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-05-12 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： H04L43/0829 文献下载
摘要：本发明涉及一种自组织网络测试系统校准方法和装置，该系统校准方法包括：分别采集源节点的发送端的第一射频信号和目标节点的接收端的第二射频信号；对第一射频信号进行解调解码获得发送端的数据包数量，以及对第二射频信号进行解调解码获得接收端的数据包数量；基于发送端的数据包数量和接收端的数据包数量计算第一丢包率；根据第一丢包率，确定自组织网络测试系统的校准结果。本发明的目的是提供一种可以快速准确的实现自组织网络测试系统的丢包率参数的测量校准的系统校准方法、装置、电子设备和存储介质。
一种组织网络测试系统校准方法装置存储介质

[发明专利]一种5G功率放大器测试装置及其方法-CN202010600514.6有效
发明人： 邢荣欣;王酣;王文娟;胡玉荣;危亮;陈小松 -专利权人：深圳赛西信息技术有限公司;中国电子技术标准化研究院
申请日： 2020-06-28 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01R27/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种5G功率放大器测试装置及其方法，其中装置包括矢网、被测器件(DUT)、测试附件，其特征在于，还包括矢网输出端的和接收端的功放集成扩频模块；输出端的包括依次电连接的矢网输出端扩频模块、功放和双定型耦合器；接收端的包括依次电连接的矢网接收端双定型耦合器和扩频模块；每个双定型耦合器还经各自下变频器电连接矢网；方法采用上述扩频模块对矢网扩频后再进行指标测量，包括：功率增益、功率增益平坦度、线性功率增益、线性功率平坦度、1dB增益压缩输出功率、杂波抑制度、输入电压驻波比、输出电压驻波比、功率附加效率。这种装置及其方法大大降低了5G功率放大器的测试投入成本，同时有效规避禁购与技术封锁风险。
一种功率放大器测试装置及其方法

[发明专利]一种用于双脉冲测试的可调负载电感及调整方法-CN202211286367.5在审
发明人： 邢荣欣;张红;沙长涛;徐沛 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请提出一种用于双脉冲测试的可调负载电感及调整方法，所述可调负载电感包括：电感线圈以及可移动单元；在缠绕所述电感线圈的起始处设置起始端；在缠绕所述电感线圈的末尾处设置末尾端；若所述可移动单元为滑动触头，则在所述起始端与末尾端之间设置滑动触头，并且所述滑动触头与所述电感线圈外表面滑动接触。若所述可移动单元为磁芯，则在所述电感线圈的中间设置磁芯，所述起始端与末尾端之间组成可调负载电感，通过改变所述磁芯在电感线圈中间的插入深度来调整负载电感的电感值。本申请能够实现调整步长很小的连续可调，或者能够实现完全连续的调整，为双脉冲测试系统提供了更丰富的测试条件。
一种用于脉冲测试可调负载电感调整方法

[发明专利]基于皮秒激光的氮化镓器件成核层热阻测量装置及方法-CN202110829463.9有效
发明人：阚劲松;张珊;刘冲;杨胜焱;徐迎春;邢荣欣 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2021-07-22 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种基于皮秒激光的氮化镓器件成核层热阻测量装置及方法，其主要由加热和功率测量子系统、瞬态热响应测量子系统、测量保障子系统三部分构成，所述加热和功率测量子系统包含皮秒激光加热、电学加热和电学温度探测模块，该方法是采用结构函数法计算分层热阻。该方法包含皮秒激光加热步骤和电学加热步骤，其首先用皮秒激光对半导体器件薄层加热，然后采用电学采集方式进行温度测量，并采用电学加热和电学探测方式进行激光加热的等效电加热功率确定。解决了现有技术不能在微米尺度下进行氮化镓HEMT器件成核层热阻测试的难题。采用了电压和温度校准曲线插值计算的方式，避免了参数非线性的影响。
基于激光氮化器件成核层热阻测量装置方法

[实用新型]一种射频阻抗测试座-CN202121098632.8有效
发明人：徐沛;沙长涛;邢荣欣;孟可悦;王文娟 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2021-05-21 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01R27/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及电子测量领域，其目的是为了提供一种性能稳定，测量可靠性高好且操作使用方便的射频阻抗测试座。本实用新型的射频阻抗测试座包括带有屏蔽罩的测试电路板，所述测试电路板上设有三个3.5mm同轴连接器和一个7mm同轴连接器，其中，三个3.5mm连接器分别为测试信号输入端口、电压信号输出端口和电流信号输出端口，所述7mm连接器为测量夹具端口；所述测试信号输入端口分别与初级射频传输线变换器、次级射频传输线变换器、电压信号输出端口和测量夹具端口电连接；所述初级射频传输线变换器接地；所述次级射频传输线变换器与1kΩ采样电阻电连接，所述1kΩ采样电阻与电流信号输出端口电连接。
一种射频阻抗测试

[发明专利]集成电路校准用在片电容标准样片-CN202011451196.8在审
发明人：黄英龙;邢荣欣;郭守君 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2020-12-10 - 公布日： 2021-04-16 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路校准用在片电容标准样片，属于集成电路领域，其包括由导电材料制成的电容结构、屏蔽结构、去嵌结构和定标结构，所述电容结构和去嵌结构用于设置在所述屏蔽结构内。所述电容结构包括用于与测量探针连接的两块电容基体，两块电容基体上分别设置有若干叉指结构，两块电容基体的叉指结构互相间隔形成电容；所述去嵌结构包括用于与测量探针连接的两块去嵌基体，两块去嵌基体与两块电容基体完全相同；定标结构用于对电容结构的几何尺寸进行定值。本发明的标准样片可用于集成电路在片小电容测试系统的校准，该标准样片的可复现的最小电容可达fF级别，通过设计屏蔽结构可固定标准样片的分布电容，提高了电容复现值的稳定性。
集成电路校准电容标准样片

[发明专利]用于PGA封装微波测试夹具的校准件-CN202010618864.5在审
发明人： 邢荣欣;王酣;胡玉荣;陈小松;危亮;黄英龙;吴永明 -专利权人：深圳赛西信息技术有限公司;中国电子技术标准化研究院
申请日： 2020-06-30 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于PGA封装微波测试夹具的校准件，其封装接口与被测PGA芯片封装接口一致，包括采用TRL去嵌入技术设计的直通校准件、延迟线校准件、短路校准件和开路校准件。这种校准件，结合PGA封装微波测试夹具，实现了校准端面与测试端面的统一，完全去除了常规校准方式下的校准端面与测试端面之间的误差成份，最大限度的保证测试精度，同时插拔方便，一致性好，能有效地提高测试效率和重复性。
用于 pga 封装微波测试夹具校准

[发明专利]一种PGA封装微波测试夹具-CN202010605551.6在审
发明人： 邢荣欣;王酣;李刚;危亮;黄英龙;吴永明 -专利权人：深圳赛西信息技术有限公司;中国电子技术标准化研究院
申请日： 2020-06-29 - 公布日： 2020-09-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种PGA封装微波测试夹具，包括测试面板及设置在测试面板上的PGA封装测试插座，所述PGA封装测试插座的端面设有PGA插槽以及电路连接装置，所述电路连接装置呈对称且均匀的形式布置在所述PGA封装测试插座的端面上，所述测试面板的底面设有连接器，所述PGA封装测试插座的端面还合盖有开孔大小与PGA插槽一致的固定夹片，其中，所述PGA插槽的尺寸为1.27mm的倍数，本发明研制的PGA封装微波测试夹具，具有以下优点：1、PGA芯片通过插拔的方式即可测试，不损芯片，随机误差减少；2、测试端面与校准端面的统一，提高测量的准确性；3、连接器处于PGA封装插座背面，缩减了微带线的长度，提高了测量结果的精度。
一种 pga 封装微波测试夹具

[实用新型]一种程控高压源-CN201720646127.X有效
发明人： 邢荣欣;赵昭;阚劲松;王酣 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2017-06-06 - 公布日： 2018-01-23 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种程控高压源，所述程控高压源包括定时/控制单元、时间设定单元、高压发生单元、升压电路以及与所述定时/控制单元、时间设定单元和升压电路分别连接的电源装置，定时/控制单元的输入端与时间设定单元的输出端连接，定时/控制单元的控制输出端与所述高压发生单元的控制输入端连接，高压发生单元的电压输入端与升压电路的电压输出端连接，高压发生单元与待检测设备的信号输入端连接。本实用新型实施例公开的程控高压源，能够实现不同高压电压值的切换控制，进而实现对充电平板检测仪的电压测试准确度和衰减时间测试准确度两项参数的校准。
一种程控高压

[实用新型]一种射频识别标签天线阻抗匹配连接装置-CN201720657399.X有效
发明人： 邢荣欣;王文峰;阚劲松;王酣;赵昭;王壮 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2017-06-06 - 公布日： 2018-01-23 - 主分类号： H01Q1/50 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种射频识别标签天线阻抗匹配连接装置，所述装置包括平衡传输线馈电引出结构、阻抗匹配单元和平衡/不平衡转换结构，所述平衡传输线馈电引出结构的一端与待测射频识别标签天线连接，另一端与所述阻抗匹配单元的一端连接，所述阻抗匹配单元的另一端通过所述平衡/不平衡转换结构与天线测量系统连接，以实现所述待测射频识别标签天线与所述天线测量系统的阻抗匹配，本实用新型实施例提供的射频识别标签天线阻抗匹配连接装置，通过在待测试射频识别标签天线与天线测量系统之间加入阻抗匹配单元，使得射频识别标签天线可以与现有的天线测量系统实现阻抗匹配，进而能对射频识别标签天线的性能进行准确测量和评价。
一种射频识别标签天线阻抗匹配连接装置

[实用新型]射频芯片测试夹具-CN201720367270.5有效
发明人：王文娟;沙长涛;阚劲松;王酣;赵昭;邢荣欣 -专利权人：中国电子技术标准化研究院;北京赛西科技发展有限责任公司
申请日： 2017-04-10 - 公布日： 2017-11-28 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种射频芯片测试夹具，属于射频芯片领域，所述射频芯片测试夹具包括底座和上盖，所述底座上设置有第一微带线、第二微带线、第一同轴/微带转换器和第二同轴/微带转换器，所述第一同轴/微带转换器与所述第一微带线连接，所述第二同轴/微带转换器与所述第二微带线连接，所述上盖内侧设置有用于将射频芯片的引脚压接在所述第一微带线和第二微带线上的顶针。本实用新型的射频芯片测试夹具通过顶针快速压接射频芯片，无需焊接即可保证电接触良好，测试时不会损伤射频芯片和测试夹具，操作方便快捷。
射频芯片测试夹具

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