专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种三维动态显微成像系统、方法及存储介质-CN202311020213.6在审
  • 侯尚国;张文博;卢全;孙彦东;邓素辉 - 深圳湾实验室
  • 2023-08-15 - 2023-09-12 - G01N21/64
  • 一种三维动态显微成像系统,包括:激发光源;动态聚焦振镜;物镜组件;探测单元;控制器,用于:控制动态聚焦振镜调整聚焦光束的偏转角度和/或焦距,以调整焦点位于待测样品上的三维位置,并使得调整后的焦点分别位于待测样品上的各个三维位置;通过探测单元分别得到待测样品在各个三维位置的荧光强度,并基于各个三维位置的荧光强度重构待测样品的三维图像。由于调整聚焦光束实现待测样品的三维扫描,使得避免了机械移动样品或者物镜造成的样品抖动的问题,保证了三维成像的效果稳定,也提高了三维成像的效率。本发明还提供一种三维动态显微成像方法和存储介质。
  • 一种三维动态显微成像系统方法存储介质
  • [发明专利]一种三维扫描光学显微成像的软件系统-CN201910182445.9有效
  • 邓素辉;汪朋;肖轶平;胡杰;王玉皞 - 南昌大学
  • 2019-03-12 - 2022-10-11 - G06F9/448
  • 本发明提供了一种三维扫描光学显微成像的软件系统,所述软件系统主要包括数据采集模块、显示模块、控制模块、数据存储模块;所述软件系统是在VS2013编译环境利用VC++基于MFC开发的;所述数据采集模块包括光子采集部分、纳米位移部分;所述纳米位移部分包括二维纳米位移部分、三维纳米位移部分;本软件系统着眼于常用的激光扫描共聚焦显微镜(LSCM)、荧光寿命成像系统(FLIM)和受激发射损耗显微镜(STED)等系统的成像软件的编写,参数设置方式简单,界面简洁美观,人性化的设计既满足了实验需求,又能包含所有需要的功能实现,非常适合低开发成本,快速开发的条件,顺应了科技飞速发展背景下的实用需求,非常适合在光学显微系统的构建及相关应用。
  • 一种三维扫描光学显微成像软件系统
  • [发明专利]一种基于扫描振镜和纳米平移台的显微成像系统及方法-CN202210578341.1在审
  • 邓素辉;程培伟;胡罗洪;袁德一;伍凯 - 南昌大学
  • 2022-05-26 - 2022-08-23 - G02B21/00
  • 本发明公开了一种基于扫描振镜和纳米平移台的显微成像系统及方法,用于实现三维逐点扫描成像,是激光扫描共聚焦显微镜的重要组成部分,系统包括FPGA控制振镜往复式扫描及起始信号的接收和同步信号的发送部分、上位机对纳米平移台的控制部分、上位机对同步信号的接收和光子信息的采集、重绘、保存部分。本发明使用扫描振镜和纳米平移台相结合实现共聚焦的三维逐行扫描,利用FPGA控制振镜精准偏转和实现同步信号传输。本发明实现了振镜与FPGA通信、振镜扫描方式设置、纳米平移台控制与位置显示、逐点扫描与光子数的同步采集、光子数实时显示、二维图像绘制、数据保存等功能,非常适合扫描显微系统的自主构建及相关研发应用。
  • 一种基于扫描纳米平移显微成像系统方法
  • [发明专利]偏振调制提高受激发射损耗显微系统分辨率的方法-CN202111471711.3在审
  • 邓素辉;李显红;袁德一 - 南昌大学
  • 2021-12-02 - 2022-03-22 - G01N21/64
  • 本发明公开了偏振调制提高受激发射损耗显微系统分辨率的方法,包括:1、在受激发射损耗显微系统的激发光路上,加入激光偏振调制模块用以旋转激发光的偏振方向,引入荧光偏振调制,同一个荧光标记的样品获得不同激发偏振态的受激发射损耗显微镜成像;使用反卷积迭代算法,重构出多张图片并叠加,最终恢复原始图像;2、使用STED原理构建突破光学极限的有效点扩函数,形成极小的激光光斑。本发明利用超分辨率营造的极小的激发焦斑,加强偏振调制的荧光稀疏性,增加荧光偏振调制的角度敏感性,增强偏振调制的分辨率,在实现不增加损耗光功率的情形下提高STED显微系统的空间分辨率,克服其在生物成像时面临的分辨率受限于高激光功率的瓶颈问题。
  • 偏振调制提高受激发射损耗显微系统分辨率方法
  • [发明专利]一种基于荧光漂白的超分辨成像方法-CN201710585804.6在审
  • 樊春海;邓素辉;程亚;陈建芳;侯尚国 - 中国科学院上海应用物理研究所
  • 2017-07-18 - 2017-12-01 - G01N21/64
  • 本发明提供一种基于荧光漂白的超分辨成像方法,包括以下步骤1)采用具有光致漂白特性的荧光染料标记样品;2)利用点激发扫描式激光显微镜将激光光束聚焦到经过标记的待测样品上,待测样品经所述激光光束激发发出荧光;3)收集所述待测样品发出的荧光,得到荧光强度信息;以及4)使用一定功率的激发光以及一定的扫描参数对样品进行逐点扫描以在扫描过程中直接漂白样品,使得采集到的有效像素数目相对减小,从而获得较小的荧光斑点,直接获得突破光学衍射极限的超高分辨率成像。本发明提供了一种可在普通激光扫描显微镜上实现的、适用于所有具有漂白特性的荧光染料的、利用荧光漂白的非线性现象来实现的超分辨成像方法。
  • 一种基于荧光漂白分辨成像方法

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