专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]超厚薄膜的测量方法和测量装置-CN201910001692.4有效
  • 张硕;邓常敏;周毅;芈健 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-01-02 - 2021-08-27 - G01B11/06
  • 一种超厚薄膜的测量方法和测量装置,其中所述超厚薄膜的测量方法,通过计算理论光谱与量测光谱的峰位相关性,将峰位相关性最高的点对应的理论光谱所对应的厚度作为测量厚度,即本申请中对超厚薄膜进行测量时,相对于传统椭圆偏振法采用的内差法或者均方根偏差计算获得薄膜厚度的方法,通过理论光谱与量测光谱的峰位相关性而非特定波长上理论光谱与量测光谱光强的差值权重来作为厚度测量的依据,从而实现对超厚薄膜的厚度测量,并可以获得可靠的测量结果。
  • 厚薄测量方法测量装置
  • [发明专利]基于扫描电子显微镜测量侧壁倾斜角的方法-CN201711140470.8有效
  • 屠礼明;周毅;邓常敏;张伟;刘公才 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2017-11-16 - 2020-09-11 - G01C9/00
  • 本发明公开了一种基于扫描电子显微镜测量侧壁倾斜角的方法,属于半导体技术领域。所述方法包括:将电子束沿竖直方向倾斜第一角度入射沟道,通过扫描电子显微镜拍摄沟道图片得到第一图片,分析第一图片得到第一角度与预测量的侧壁倾斜角之间的第一关系表达式;将电子束沿竖直方向倾斜第二角度入射沟道,第二角度与第一角度不等,通过扫描电子显微镜拍摄沟道图片得到第二图片,分析第二图片得到第二角度与预测量的侧壁倾斜角之间的第二关系表达式;根据第一关系表达式和第二关系表达式推算出预测量的侧壁倾斜角的大小。本发明中,不仅实现了侧壁倾斜角快速的在线无损测量,而且能够节约时间和成本,缩短研发周期,从而满足大规模的生产要求。
  • 基于扫描电子显微镜测量侧壁倾斜角方法
  • [发明专利]一种用于道路路口预警的检测装置及检测方法-CN202010270341.6在审
  • 邓常敏;焦梓诺;花娇娇 - 图达通智能科技(苏州)有限公司
  • 2020-04-08 - 2020-07-31 - G08G1/04
  • 本发明提出一种用于道路路口预警的检测装置和检测方法。该装置包括:至少一个道路信息采集设备、至少一个路测终端系统、终端数据库,所述道路信息采集设备包含激光雷达,配置于路口的GPS模块,其电性连接至所述路测终端系统,以将预设监控区域内检测的信息传输至路测终端系统,所述路测终端系统包括路测单元、边缘计算模块,所述边缘计算模块电性连接路测单元,其基于所述道路信息采集设备传输的信息及交通信号的信息判断所述监控区域内是否有异常,如有异常则将异常的信息传输至路测单元,所述路测单元接收并响应所述信息进行广播。解决当前路口交通车辆无法自动获取且提前获知行人闯红灯的信息的问题,应用可大大降低交通事故率。
  • 一种用于道路路口预警检测装置方法
  • [发明专利]一种存储介质厚度的测量方法和装置-CN201710774186.X有效
  • 邓常敏;芈健;周毅;张硕;陈子琪 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2017-08-31 - 2019-11-19 - G01B11/06
  • 本申请实施例公开了一种存储介质厚度的测量方法,该方法包括:获取实际测量光谱,所述实际测量光谱为待测量存储介质经实际光源照射后采集到的光谱;根据所述实际测量光谱,从预先建立的样本光谱库中找到第一目标样本光谱,其中,所述样本光谱库包括不同样本存储介质对应的样本光谱,所述第一目标样本光谱与所述实际测量光谱之间的回归拟合优度最高;根据所述第一目标样本光谱对应的样本存储介质的厚度值,确定所述待测量存储介质的厚度值。可见,本申请可以免去了在获取到实际测量光谱后,还需要针对该待测量存储介质进行建模、赋值以及回归拟合计算,从而缩短了存储介质厚度的测量时间,进而也减短了存储介质的出厂周期。
  • 一种存储介质厚度测量方法装置

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