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[发明专利]一种多通道获取温补晶振补偿参数方法、系统及电路-CN202310980297.1在审
发明人： 邓宏民;刘峰;许家群;候锦雄 -专利权人：广东惠伦晶体科技股份有限公司
申请日： 2023-08-04 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： H03L1/02 文献下载
摘要：本发明属于石英晶体振荡器技术领域，尤其涉及一种多通道获取温补晶振补偿参数方法、系统及电路，其特征在于，包括以下步骤：上位机初始化，控制上位机向若干个温补晶振写入初始温度补偿参数，获取若干个温补晶振的初始频率信号；根据预设温度范围调整温箱温度，获取不同温度下温补晶振的反馈频率信号，并根据反馈频率信号写入当前温度补偿参数；根据上位机在不同温度下分别获取相应的反馈频率信号，建立温度与反馈频率信号之间的对应关系，得到最佳温度补偿参数；该方法操作步骤简单，获取温度补偿参数耗时短，获取到的温度补偿参数精准度高，泛用性强，显著地降低了生产成本。
一种通道获取温补晶振补偿参数方法系统电路

[发明专利]一种晶体与钟振兼容测试方法及系统-CN202310990516.4在审
发明人： 邓宏民;王同强;许家群;候锦雄 -专利权人：广东惠伦晶体科技股份有限公司
申请日： 2023-08-07 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明属于石英晶体振荡器技术领域，尤其涉及一种晶体与钟振兼容测试方法及系统，包括以下步骤：获取待测物，判断待测物的类型为晶体或钟振，根据待测物的类型选择晶体测试模块或钟振测试模块；若待测物为晶体，控制待测晶体上料并将待测晶体翻转至测试点位，由晶体测试模块测量待测晶体，获取待测晶体的晶体测量信息，根据晶体测量信息对已检测晶体进行摆盘；若待测物为钟振，控制待测钟振上料并将待测钟振翻转至测试点位，由钟振测试模块测量待测钟振，获取待测钟振的钟振测量信息，根据钟振测量信息对已检测钟振进行摆盘；实现一台测试设备能够同时测试晶体和钟振，有效提高晶体和钟振的生产效率，节约设备成本。
一种晶体兼容测试方法系统

[发明专利]一种差分晶振测试电路及装置-CN202310466709.X在审
发明人： 邓宏民;许家群;候锦雄 -专利权人：广东惠伦晶体科技股份有限公司
申请日： 2023-04-26 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明属于石英晶体振荡器技术领域，尤其涉及一种差分晶振测试电路及装置，包括供电电路，所述供电电路包括供电座，所述供电电路用于为差分晶振测试电路供电；双通道缓冲器，所述双通道缓冲器与所述供电电路连接，所述双通道缓冲器用于连接差分晶振；输出电路，所述输出电路分别与所述供电电路和所述双通道缓冲器连接，所述输出电路包括连接电路、频率输出电路、波形输出电路和信号选择电路，所述连接电路与所述双通道缓冲器连接，所述频率输出电路、所述波形输出电路和所述信号选择电路分别与所述连接电路连接，能够有效提高兼容性，提高测试效率，满足用户测试需求。
种差分晶振测试电路装置

[发明专利]一种新型钟振固定座结构-CN202310371608.4在审
发明人： 邓宏民;许家群;候锦雄 -专利权人：广东惠伦晶体科技股份有限公司
申请日： 2023-04-07 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明属于石英晶体振荡器技术领域，尤其涉及一种新型钟振固定座结构，包括固定座和金属块，所述固定座设有一矩形凹槽，所述矩形凹槽的两侧分别设有两个导向凹槽，多个所述金属块分别容置于所述导向凹槽内，所述金属块的侧部设有一金属弹性件，所述金属弹性件向外延伸至所述矩形凹槽内，所述金属块的顶部向所述导向凹槽外部延伸且高于所述固定座；实现了钟振在新型钟振固定座上同时进行钟振信号测试和边缘接触点测试，无需使钟振在钟振测信号测试完成后移栽至另一测试装置中进行边缘接触点测试，显著缩短了钟振测试的周期时长，简化了钟振测试所需的装置，减少物料损耗，提高了测试装置的可靠性的同时提高了钟振的生产效率。
一种新型固定结构

[发明专利]一种钟振测试装置及电路-CN202310042170.5在审
发明人： 邓宏民;许家群;徐雅 -专利权人：广东惠伦晶体科技股份有限公司
申请日： 2023-01-12 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01R23/02 文献下载
摘要：本发明属于石英晶体振荡器技术领域，尤其涉及一种钟振测试装置及电路，包括钟振电路板、探针固定座和防带料装置，所述探针固定座与所述钟振电路板固定连接，所述钟振电路板固定于所述防带料装置；所述防带料装置包括防带料座、设置于所述防带料座内的活动垫片和设置于所述活动垫片与所述防带料座之间的弹性件，所述钟振电路板固定于所述防带料座的上端，所述防带料座的下端设置有限位卡槽，所述活动垫片穿过所述限位卡槽向所述防带料座的外部延伸，所述钟振电路板上固定有测试探针，所述测试探针依次贯穿探针固定座和所述防带料座并延伸至所述活动垫片，由此能够有效避免出现带料的现象，有效提高测试效率与生产效率。
一种测试装置电路

[发明专利]一种可频率校准的温补晶振测试方法、电路及系统-CN202211734403.X在审
发明人： 邓宏民;许家群;彭英铭 -专利权人：广东惠伦晶体科技股份有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01R23/02 文献下载
摘要：本发明属于晶体振荡器技术领域，尤其涉及一种可频率校准的温补晶振测试方法、电路及系统，包括：测试板模块，所述测试板模块用于连接待测试温补晶振，读取待测试温补晶振的频率信号；温度补偿参数计算模块，所述温度补偿参数计算模块用于根据读取的温补晶振的频率信号，计算温补晶振的偏移频率，判断该温补晶振的偏移频率是否处于预设偏移频率的范围内，若是，则不需要频率校准；若否，则返还温度补偿参数值，重新计算待测试温补晶振的频率信号；对温补晶振的频率进行校准处理，从而将该修正后的温度补偿参数重写写入至温补晶振的芯片内，有效防止温补晶振在回流焊工序后出现频率漂移无法处理的现象，提高温补晶振产品的生产良率。
一种频率校准温补晶振测试方法电路系统

[发明专利]一种可验证TSX热敏晶体升温特性的装置及电路-CN202211734727.3在审
发明人： 邓宏民;伍仁耀;彭英铭 -专利权人：广东惠伦晶体科技股份有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01K7/22 文献下载
摘要：本发明属于晶体振荡器技术领域，尤其涉及一种可验证TSX热敏晶体升温特性的装置及电路，包括相互连接的热敏晶体器件和温度传导测试电路板，所述热敏晶体器件包括器件基座、第一热敏电阻和第二热敏电阻，所述器件基座设有器件安装槽，一基座上盖固定于所述基座的顶端形成密闭腔体，所述第一热敏电阻固定于所述器件安装槽，所述第一热敏电阻容置于所述密闭腔体内，所述第二热敏电阻紧贴固定于所述器件基座的底部，由此获取热敏晶体器件的真实温度变化，防止TSX热敏晶体在频率输出时产生温度漂移的现象，保证了TSX热敏晶体的质量，提高产品的良品率，提高了用户的使用体验。
一种验证 tsx 热敏晶体升温特性装置电路

[实用新型]一种晶振芯片的测试系统-CN202220427969.7有效
发明人： 邓宏民;罗益 -专利权人：惠伦晶体（重庆）科技有限公司
申请日： 2022-03-01 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种晶振芯片的测试系统，包括输入设备、测试设备和输出设备，测试设备分别与输入设备、输出设备连接；输入设备包括用于输入测试指令的输入模块；测试设备包括信号转换模块和芯片测试模块，信号转换模块分别与输入模块、芯片测试模块连接，信号转换模块接收测试指令并将测试指令转换为测试信号，芯片测试模块接收测试信号，芯片测试模块对待测试晶振进行测试，并接收待测试晶振所返回的反馈信号；输出设备，包括处理器，处理器与芯片测试模块连接，处理器接收反馈信号；本实用新型通过在测试系统中设置信号转换模块的方式，解决了现有技术中在特定场景下晶振测试设备不变携带等问题。
一种芯片测试系统

[实用新型]一种晶振芯片的刻录装置-CN202220441105.0有效
发明人： 邓宏民;罗益 -专利权人：惠伦晶体（重庆）科技有限公司
申请日： 2022-03-01 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G06F8/61 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种晶振芯片的刻录装置，包括电路板；信号转换模块，设置在所述电路板上；晶振底座，设置在所述电路板上，与所述信号转换模块连接，用于固定待刻录的晶振并实现所述晶振与所述信号转换模块的连接；电源模块，设置在所述电路板上，所述电源模块与所述信号转换模块连接，所述电源模块通过所述晶振底座与所述晶振连接；集线器，所述集线器分别与所述电源模块、所述信号转换模块连接，晶振芯片的刻录装置通过所述集线器与外部设备连接；本实用新型通过在晶振芯片刻录装置的电路板中设置信号准换模块的方式，解决了现有技术中晶振芯片刻录过程复杂以及在特定场合下自动化晶振刻录装置不便携带等问题。
一种芯片刻录装置

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