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[发明专利]光学测量装置及光学测量方法-CN201811194957.9有效
发明人：梶井阳介;的场贤一;近藤智则 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-10-15 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明提供一种光学测量装置及光学测量方法，可容易地去除在对象物的一部分中所测量的距离中可能产生的噪声。光学测量装置(100)具备：光源(10)，发出光；光接收部(40)，检测由对象物(TA)反射的反射光的光接收量；测量部(51)，根据反射光的光接收量，测量从光学测量装置(100)至对象物(TA)为止的距离；以及检测部(52)，检测反射光的每单位时间的光接收量小于阀值的对象物(TA)的一部分。
光学测量装置测量方法

[发明专利]位移测量装置、测量系统及位移测量方法-CN201810151188.8有效
发明人： 近藤智则;铃木祐太;的场贤一;金谷义宏 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-02-13 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明获得一种能够精度良好地测量到测量对象面的距离的位移测量装置、测量系统及位移测量方法。本发明的位移测量装置包括：投光部，产生光；传感器头，对测量对象物照射光，且接收所照射的光中在测量对象物的测量对象面反射的光；以及控制部，基于传感器头所接收的光，算出表示与测量对象面之间的距离的值。控制部是以所算出的值包含在预先设定的数值范围内为条件，将所算出的值作为表示到测量对象面的距离的值进行处理，且基于所算出的值，重新设定数值范围。
位移测量装置系统测量方法

[发明专利]光学测量装置及光学测量方法-CN201980057874.1有效
发明人：梶井阳介;近藤智则 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-12-26 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种光学测量装置及光学测量方法，可在不针对每个测量条件设定阈值的情况下判定在测量值中可能产生的噪声的有无。一种光学测量装置(100)，基于由对象物(TA)反射的反射光的光接收量来获得测量值，且包括：设定部(52)，基于与光学测量装置(100)的光量相关的特性信息，设定相对于反射光的每单位时间的光接收量的阈值；以及判定部(53)，基于阈值来判定测量值的噪声的有无。
光学测量装置测量方法

[发明专利]光学测量装置以及光学测量方法-CN201910030710.1有效
发明人：髙嶋润;近藤智则 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-01-14 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种能够减小所测量的距离的误差的光学测量装置以及光学测量方法。光学测量装置(100)包括：光源(10)，发出光；传感头(30)，将经对象物(TA)反射的反射光聚光；光接收部(40)，构成为多个像素各自可检测光接收量，且针对所聚光的反射光而获得每个像素的光接收量分布信号；测量部(51)，基于光接收量分布信号而测量光学测量装置(100)到对象物(TA)的距离；以及修正部(52)，基于光接收量分布信号的波形中的规定特性值而修正所测量的测量距离。
光学测量装置以及测量方法

[发明专利]测量系统以及测量方法-CN201811501835.X有效
发明人：铃木祐太;椹木洋;近藤智则 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-12-10 - 公布日： 2021-04-20 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种测量系统与方法，其可提高测量周期及测量值的发送周期的设定自由度且具有高精度。测量系统(1)包括：控制装置(100)；以及测量装置(300)，以第1周期(Tb)来对测量对象进行测量，且将通过测量装置而获得的测量值发送至控制装置(100)。测量装置(300)使用以比第1周期(Tb)长的第2周期(Ta)而发送的帧(#K1、#K2、#K3)，将待发送的测量值、与包含待发送的测量值的个数信息的附加信息发送至控制装置(100)。控制装置(100)使用附加信息，生成将多个测量值按照时间序列排列而成的时间序列数据。
测量系统以及测量方法

[发明专利]移位测量装置、测量系统及移位测量方法-CN201810151233.X有效
发明人： 近藤智则;铃木祐太;的场贤一 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-02-13 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种能够高精度地测量至测量对象面的距离的移位测量装置、测量系统及移位测量方法。本发明的移位测量装置具备：投光部，产生光；传感器头，对测定值与实际移位成为非线形的测量对象物，以在测量对象物的测量对象面形成焦点的方式照射光，且接收所照射的所述光中在所述测量对象面反射的光；存储部，存储着将传感器头与测量对象面之间的距离设为变量的函数；以及控制部，基于由传感器头所接收到的光的波长而算出距离。控制部将传感器头与测量对象物的测量对象面之间的距离设为变量的值，算出函数的值。控制部使用算出的函数的值，对算出的距离进行校正。
移位测量装置系统测量方法

[发明专利]光学测量装置-CN201710036547.0有效
发明人：岛田浩二;近藤智则 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-01-18 - 公布日： 2020-11-10 - 主分类号： G05B19/05 文献下载
摘要：光学测量装置(3)，其构成为具有使主站装置以及从站装置之间的时刻同步的同步功能且可与工业网络连接。光学测量装置(3)包括：接口部(31)，其接收从主站装置以一定的通信周期发送到工业网络的同步信号；测量部(32)，其根据测量周期进行光学测量。测量部(32)根据由接口部(31)进行的同步信号的接收，使测量时刻与通信周期同步。
光学测量装置

[发明专利]光学传感器以及光学传感器的异常检测方法-CN201810594215.9有效
发明人：蓬郷典大;近藤智则;古川慎也 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-06-11 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种无须设置传感器等附加检测机构便能够检测接合异常的光学传感器及光学传感器的异常检测方法。光学传感器包括：光源装置，产生向对象物照射的光；受光部，接收来自对象物的反射光；分支部，将与光源装置光学耦合的第1光纤及与受光部光学耦合的第2光纤熔接并与朝向对象物的第3光纤的一端接合；以及处理部，以从第3光纤的另一端在无反射的状态下由受光部所检测出的受光量作为基准检测量，基于受光部中检测出的受光量相对于基准受光量的增量是否处于预定范围内，来判断第3光纤与分支部的接合部有无接合异常。
光学传感器以及异常检测方法

[发明专利]测量系统、控制装置及测量方法-CN201711370635.0有效
发明人：铃木祐太;椹木洋;近藤智则;金谷义宏 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-12-18 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种测量系统、控制装置及测量方法，能够高精度地生成表示测量对象的形状的信息。驱动装置将表示测量对象的位置的信息、与来自计时器的时刻信息相关联，并作为第1信息而输出，所述来自计时器的时刻信息表示获取表示所述位置的信息的时机。测量装置将通过对测量对象进行测量而获取的测量信息、与表示获取所述测量信息的时机的来自计时器的时刻信息相关联，并作为第2信息而输出。测量系统包括信息生成部件，所述信息生成部件基于一个或多个第1信息，算出与第2信息中所含的时刻信息相关联的位置，并且基于与共用的时刻信息相关联的、所算出的位置与测量信息的组合，生成表示测量对象的形状的信息。
测量系统控制装置测量方法

[发明专利]光学式位移传感器以及具备此光学式位移传感器的系统-CN201711162785.2有效
发明人： 近藤智则 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-11-20 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种能够根据用户的用途来设定最佳曝光时机的光学式位移传感器以及具备此光学式位移传感器的系统。光学式位移传感器(3)具备：投光部(33)，对工件(51)进行投光；受光部(34)，接收来自工件(51)的反射光而生成受光数据；处理部(32)，基于受光数据来算出工件(51)的位移量；输入部(35)，接收时间同步信号；以及输出部(36)，输出由处理部(32)所算出的位移量。处理部(32)响应由输入部(35)所接收的时间同步信号，对曝光时间进行控制，所述曝光时间是由投光部(33)对工件(51)进行投光的时间、与受光部(34)接收反射光的时间的重合而定。系统(100)具备光学式位移传感器(3)、及产生时间同步信号的控制设备(1)。
光学位移传感器以及具备系统

[发明专利]光学计测装置-CN201710472648.2有效
发明人：金谷义宏;近藤智则;铃木祐太 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-06-20 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：光学计测装置(3)具有：接口部(31)，其构成为接收从主装置(1)以固定的通信周期发送到工业网络(2)的同步信号，并且与同步信号同步地输出光学计测装置(3)的测定结果(测定值)和同步监视信号；以及计测部(32)，其构成为以相对于通信周期独立的测定周期执行光学测定而生成测定结果，并且生成同步监视信号。计测部(32)与开始测定后接口部(31)接收同步信号同步地，将同步监视信号设定为接通状态，在从接口部(31)输出测定结果的情况下，与接口部(31)接收同步信号同步地，将同步监视信号设定为断开状态。
光学装置

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