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[发明专利]包括薄膜晶体管和有机光电二极管的图像传感器阵列器件-CN202080030106.X在审
发明人：诺米·巴洛;大卫·布朗雄;费日春 -专利权人：爱色乐居
申请日： 2020-02-18 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： H01L27/30 文献下载
摘要：本发明涉及一种图像传感器阵列光电器件，该光电器件包括薄膜晶体管Ts和结合了在外围区ZP中包括薄膜晶体管TG的行驱动电路20的有机检测器。设置了在拓扑级201中、由薄膜晶体管上方的介电层105支撑的光屏蔽件，该光屏蔽件是用于阵列区域10中的每个像素的单独的屏蔽件LSi,j以及用于驱动电路的所有晶体管TG的覆盖屏蔽件LSGOA。外围区域中的覆盖屏蔽件LSGOA还通过以直接接触进行覆盖用作互连结构，用于利用偏置电压Vbias偏置有源区的有机光电二极管的上电极E2。在有源区中，上电极E2的级203通过有机有源结构OST与像素电极E1的级201分离。在外围区域中，这两个拓扑级201和203彼此直接形成，而没有插入件。
包括薄膜晶体管有机光电二极管图像传感器阵列器件

[发明专利]具有降低奇偶效应的矩阵检测器-CN202080021523.8在审
发明人：大卫·布朗雄;费日春 -专利权人：爱色乐居
申请日： 2020-02-06 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： H04N5/376 文献下载
摘要：本发明涉及一种矩阵检测器，包括：‑在矩阵中按照行(L)和列布置的一组像素，每个像素(P)适合于根据物理现象生成信号，‑信号发生器(GSI)，其被配置为生成彼此相对相移的两个时钟信号(CK1、CK2)，‑对行寻址的设备，包括移位寄存器(SR)，所述移位寄存器(SR)包括按级联布置的多个级(ET)，每个级(ET)能够从一级到另一级交替接收来自两个时钟信号(CK1、CK2)中的一个时钟信号，并且能够发送中间输出信号(OUTn)，所述中间输出信号能够假定高电平(Von)和低电平(Voff)，分别能够激活和停用行中的像素，特征在于，信号发生器(GSI)还被配置为生成第三时钟信号(CK3)，寻址设备还包括多个隔离电路(ISL)，每个隔离电路(ISL)连接在每个级(ET)和矩阵的对应行(LI)之间，并且被配置为接收第三时钟信号(CK3)，隔离电路(ISL)被配置为发送选择信号(OUT_LINE_n)，所述选择信号在中间输出信号(OUTn)和第三时钟信号处于高电平(Von)时选择矩阵的对应行。
具有降低奇偶效应矩阵检测器

[发明专利]用于像素阵列的片上测试的电路和方法-CN201510634790.3有效
发明人： 费日春;S·米尔;J·莫罗 -专利权人：意法半导体（格勒诺布尔2）公司
申请日： 2015-09-29 - 公布日： 2019-04-19 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：提供了用于像素阵列的片上测试的电路和方法。通过将信号跃迁施加到控制接线，并且基于在控制接线上检测到的电压信号来检测控制接线上的信号跃迁的至少一部分的持续时间，执行对图像传感器的像素阵列的控制接线的测试。基于检测到的持续时间与阈值的比较，指示控制接线中的电故障。
用于像素阵列测试电路方法

[实用新型]用于像素阵列的片上测试的电路和系统-CN201520765285.8有效
发明人： 费日春;S·米尔;J·莫罗 -专利权人：意法半导体（格勒诺布尔2）公司
申请日： 2015-09-29 - 公布日： 2016-04-13 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：为了检测图像传感器的像素阵列中的非灾难性故障，提供了用于像素阵列的片上测试的电路和方法。电路包括：控制电路，被配置为向图像传感器的像素阵列的控制接线施加信号跃迁；以及故障检测电路，耦合到控制接线，并且被配置为：确定控制接线上的信号跃迁的至少一部分的持续时间；并且基于检测到的持续时间来检测控制接线中的电故障。本公开还提供了系统。即使当图像传感器的控制接线中的电故障不立即导致接线的灾难性故障时，本文描述的实施例也可以检测到这种故障。
用于像素阵列测试电路系统