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[发明专利]一种铁氧体上化学镀镍的方法-CN201911250155.X有效
发明人：梁迪飞;周丽波;李维佳;袁玉灵 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2019-12-09 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： C23C18/18 文献下载
摘要：本发明提供一种铁氧体上化学镀镍的方法，属于表面处理技术领域。本发明方法不需要使用额外的催化剂，以氢气氛活化后的铁氧体的表面的铁原子为催化中心来催化化学镀镍，该方法有利于提高催化剂和镍镀层与铁氧体间的结合力；并且该方法不仅节省了以贵金属为代表的催化剂，而且避免了铁氧体与镍镀层之间引入其他金属杂质。
一种铁氧体化学方法

[发明专利]一种厚膜材料磁导率的测量夹具-CN201910593433.5有效
发明人：梁迪飞;袁玉灵;李维佳;陈良;谢建良;邓龙江 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2019-07-03 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01R33/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种厚膜材料磁导率的测量夹具，属于电子材料测量领域，包括由由金属壁构成的回字形金属腔3、同轴线4、金属导带5，所述同轴线4位于金属腔3的一侧壁中，包括同轴线外导体6和同轴线内导体7，所述金属导带5设置于金属腔3中心位置，其一端与同轴线内导体7相连，另一端与金属腔3另一侧壁接触，待测材料8放置于金属导带5正上方或正下方的金属腔3内。本发明提供的测量夹具可以直接将材料进行电磁参数测试，避免了对材料的破坏，打破了材料测试要压环的局限。
一种材料磁导率测量夹具

[实用新型]一种厚膜材料介电常数的测量夹具-CN202021135578.5有效
发明人：李维佳;陈慧;袁玉灵;谢海岩 -专利权人：成都佳驰电子科技有限公司
申请日： 2020-06-18 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种厚膜材料介电常数的测量夹具，它包括一回字形金属腔体，通过贯穿所述回字形金属腔体一端的金属壁插接有一同轴线，在所述同轴线上连接有金属导带，且所述金属导带悬空于所述回字形金属腔体内；待测材料插入到所述金属导带正上方或者正下方的回字形金属腔体内完成介电常数的测量。本实用新型可以直接对材料进行介电常数测试，避免了对材料的破坏，打破了测量时待测材料需要压制圆片的局限，且测量频率范围为0.5‑3GHz，提高了测量频率，使厚膜介电常数的测量更加方便。
一种材料介电常数测量夹具

[发明专利]一种厚膜材料介电常数的测量方法-CN202010559503.8在审
发明人：李维佳;王慧;庞超;袁玉灵;谢海岩 -专利权人：成都佳驰电子科技有限公司
申请日： 2020-06-18 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种厚膜材料介电常数的测量方法，所述测量方法包括：测量未加待测材料时测量夹具的输入反射系数的值；测量加入待测材料时测量夹具的输入反射系数S11的值；根据所述输入反射系数和所述输入反射系数S11的值计算得到待测材料介电常数的实部值和虚部值，进而得到待测材料的介电常数。本发明的优点在于：通过设计定制的测量夹具进行测量，测试效率快、准确率高；且可以直接对材料进行介电常数测试，避免了对材料的破坏，打破了测量时待测材料需要压制圆片的局限，且测量频率范围为0.5‑3GHz，提高了测量频率，使厚膜介电常数的测量更加方便。
一种材料介电常数测量方法

[发明专利]一种P波段表面波吸收材料及其制备方法-CN201810749850.X在审
发明人：梁迪飞;刘天民;李维佳;陈良;陈海燕;邓龙江;袁玉灵;周丽波 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2018-07-10 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： C01G53/00 文献下载
摘要：一种P波段表面波吸收材料及其制备方法，属于电子材料制备技术领域。所述吸收材料为NiCuZn铁氧体复合材料，结构式为Zn_xNi_yCu_1‑x‑_yFe_2‑aO_4‑1.5a，其中，0.45≤x≤0.65，0.1≤y≤0.4，0≤a≤0.04。本发明提供的P波段表面波吸收材料在600M～800M频率范围内，磁导率实部在3～10之间，磁导率虚部在3～12之间，介电常数实部在3～12之间，介电常数虚部在0.1～1之间，可实现对600M～800M频率范围内表面波的良好吸收，且具有良好的抗氧化性能。
吸收材料表面波介电常数制备铁氧体复合材料制备技术领域磁导率实部磁导率虚部抗氧化性能电子材料实部虚部吸收