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[发明专利]一种评估单片机中非易失性存储器数据残留的装置-CN201910850863.0有效
发明人：曾慧中;肖化宇;葛宛兵;杨潇;张万里 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2019-09-10 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明属于信息安全技术领域，涉及非易失性存储器的安全存储，具体涉及一种评估单片机中非易失性存储器数据残留的装置。本发明先通过SEM断面扫描的方获取了待测非易失性存储器的物理结构和使用材料，根据扫描得到的物理结构参数和使用材料对应的半导体特性参数，仿真得到浮栅电荷Q与阈值电压Vth的关系；然后通过芯片复位中断，并用掉电法获取阈值电压，获得在单片机中非易失性存储单元擦写过程中，阈值电压随时间的变化关系；最后利用之前获取的擦写过程中阈值电压随时间的变化关系，使用电荷注入和掉电的方法，结合浮栅电荷Q与阈值电压Vth的关系，获得一条浮栅上注入电荷与残留电荷之和Q0+Qr与擦除次数N的关系曲线。
一种评估单片机非易失性存储器数据残留装置

[发明专利]一种激光干涉式压电力显微镜的铁电畴极化方向判别方法-CN201810126877.3有效
发明人：曾慧中;葛宛兵;张佳玉;何月;张万里 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2018-02-08 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： G01Q60/00 文献下载
摘要：本发明提供的一种激光干涉式压电力显微镜的铁电畴极化方向判别方法，属于材料测试技术领域。本发明通过设定探针悬臂与样品的夹角，仅需一次测量，分析一组幅度图和相位图，即可准确判别样品的铁电畴面内极化与面外极化的方向，进而得到实际的极化分布。同时，由于激光干涉式压电力显微镜的便利性，使得该方法可以在超高真空、超低温度下进行测试，拓展了铁电材料的研究范围。
一种激光干涉压电显微镜铁电畴极化方向判别方法