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- [发明专利]高精度V-I源表-CN202211225383.3在审
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曹勋;贺江云;潘朝松
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苏州联讯仪器有限公司
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2021-12-29
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2023-06-30
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G01R19/25
- 本发明公开一种高精度V‑I源表，包括：减法器、电压电流调节模块、模式切换模块和电压电流检测模块，将变量e(k)、e(k‑1)和参数Kp、Ki、Kd同时代入到公式（1）中，计算出电压目标值对应的DAC芯片电压设定值u(k)，并输出到后级对DAC芯片电压设定值进行更新；步骤1‑3、如果e(k)0且|e(k)|Δe(k)，则重复上述步骤1‑1、步骤1‑2、步骤1‑3，循环迭代，直到当前时刻电压测量值V(k)与电压目标值V0近似相等，即|e(k)|≤Δe(k)，此时电压测量值为电压目标值对应的电压设定值u(k)。本发明V‑I输出精度高，输出调节响应速度快的优点，也具有根据负载的动态变化功能。
- 高精度源表
- [发明专利]一种提高采样保持器增益范围的装置、方法-CN202210181600.7有效
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陈晓东;廉哲
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苏州联讯仪器有限公司
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2022-02-25
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2023-03-10
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H03M1/06
- 本申请公开了一种提高采样保持器增益范围的装置、方法，涉及电子信息技术领域。装置包括可变增益放大器和静态误差偏置补偿放大电路。该电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一放大器。第一电阻的第一端作为第一输入端与采样芯片第一端连接，第二电阻的第一端作为第二输入端与采样芯片第二端连接，第一放大器的输出端作为输出端用于输出得到的输出电压。该电路能够得到输出电压，且实现调整输出电压处于最大增益范围内，避免通过软件进行平衡补偿降低增益范围，使得信噪比降低的情况。因为该电路由第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一放大器构成，避免了使用采样分辨率高的ADC模数转换器，器件成本较高的情况。
- 一种提高采样保持增益范围装置方法
- [发明专利]激光器芯片用测试探针台-CN202210371465.2在审
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黄建军;吴永红;赵山;胡海洋
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苏州联讯仪器有限公司
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2021-08-09
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2023-02-17
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G01R31/28
- 本发明公开一种激光器芯片用测试探针台，包括本体、位于本体下方的支撑板、用于与待测试芯片接触的探针和动点接触探头支撑板位于动点接触探头与转接座之间区域安装有一挂杆，一升降杆位于本体的导向通道内，所述第二弹性件两端分别连接到所述挂杆上和升降杆下端，一旋转杆下端与升降杆的上端连接，用于驱动升降杆在竖直方向上移动，所述导向通道与升降杆接触的表面设置有两对定位销和供定位销嵌入的定位线凹槽，且2个定位销之间、2个定位线凹槽之间呈对称设置，所述定位销位于升降杆的侧表面，所述定位线凹槽位于导向通道的内壁上。本发明解决了由于探针台的疲劳性导致的长期使用过程中测试数据不稳定、不一致的问题。
- 激光器芯片测试探针
- [发明专利]光通讯芯片测试用上下料模组-CN202111302182.4有效
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黄建军;吴永红;赵山;胡海洋
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苏州联讯仪器有限公司
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2021-11-04
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2023-02-14
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B65G47/91
- 本发明公开一种光通讯芯片测试用上下料模组，其固定座的上方设置有夹持条、弧形齿条，此夹持条的前端与所述吸嘴杆上端夹持连接，夹持条的后端与弧形齿条通过一连杆连接，所述弧形齿条与第一电机输出轴上的齿轮啮合连接，且此弧形齿条的圆心与吸嘴杆的轴心重叠；一左弹簧两端分别连接夹持条、固定座上部各自的左侧面，一右弹簧两端分别连接夹持条、固定座下部各自的右侧面，所述左弹簧与夹持条连接的一端高于其另一端，左弹簧一端靠近弧形齿条并位于弧形齿条的下方，另一端连接到夹持条远离弧形齿条的一端。本发明在实现大范围且正反双向动态调整芯片的角度的同时，提高了对角度进行计算、调整的精度以及在长时间高频使用后保持精度的稳定性。
- 通讯芯片测试用上模组
- [发明专利]用于发光器件的高效测试设备-CN202210313127.3在审
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黄建军;吴永红;赵山;胡海洋
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苏州联讯仪器有限公司
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2021-07-28
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2023-02-03
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G01R31/28
- 本发明公开一种用于发光器件的高效测试设备，包括：测试探针组件，所述测试探针组件包括：与驱动支架连接的本体、支撑板、用于与待测试芯片接触的探针和动点接触探头，所述支撑板一端安装有一悬臂，另一端安装有所述动点接触探头，所述本体下端面一侧设置有一位于动点接触探头上部并与其对应的静点接触探头，所述悬臂远离支撑板一端固定有一安装有所述探针的探针座，当探针与待测试芯片接触时，所述动点接触探头随支撑板转动远离静点接触探头，动、静点接触探头由相互接触的初始状态变为相互分离状态，所述探针与支撑板的夹角为60°。本发明提高了检测数据的稳定性、重复性、可比较性和一致性。
- 用于发光器件高效测试设备
- [发明专利]一种采样保持前端装置及采样保持器-CN202211310129.3在审
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廉哲;陈晓东;胡海洋
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苏州联讯仪器有限公司
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2022-10-25
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2023-01-17
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G01R13/02
- 本发明公开了一种采样保持前端装置及采样示波器，涉及采样示波器设计领域，包括第一级采样保持器、第二级采样保持器至第N级采样保持器以及采样时钟信号生成模块，采样时钟信号生成模块的第一个输出端至第N个输出端输出的采样时钟信号的频率依次降低，因此第一级采样保持器利用频率较高的采样时钟信号对第一级采样保持器的输入端输入的射频信号进行采样能够保证采样保持前端装置的SFDR和THD指标；第N级采样保持器使用的采样时钟信号的频率较低，因此第N级采样保持器输出的信号也即采样保持前端装置的输出信号的频率也比较低，进而不需要使用高带宽的中频处理模块，有利于降低成本和系统噪声。
- 一种采样保持前端装置
- [发明专利]芯片可靠性测试用老化设备-CN201910937449.3有效
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罗跃浩;黄建军;胡海洋
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苏州联讯仪器有限公司
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2019-09-30
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2022-12-27
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G01R1/04
- 本发明公开一种芯片可靠性测试用老化设备，包括安装在箱体中的芯片夹具、测试板、驱动电路板和电池，所述箱体中安装有一隔板，此隔板将箱体内的空间分隔成一测试腔和驱动腔，所述测试板的空腔中安装有一与夹具槽对应的散热板，所述加热板置于散热板上；所述驱动电路板两侧均安装有一散热片，此散热片与驱动电路板之间垫有一散热软垫，所述驱动电路板、散热软垫和散热片通过一支架安装在箱体底面；位于驱动腔侧的箱体上安装有若干个排风扇，所述箱体上还开有与排风扇对应的进风孔。本发明该老化设备不仅解决了老化测试过程中，热量累积引起测试温度波动，造成测试精度不佳的问题，还解决了测试过程产生的高温影响到电子元器件正常使用的问题。
- 芯片可靠性测试老化设备
- [实用新型]用于芯片测试的探针安装座-CN202221261966.7有效
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黄建军;吴永红;赵山;胡海洋
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苏州联讯仪器有限公司
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2022-05-24
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2022-12-27
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G01R1/04
- 本实用新型公开一种用于芯片测试的探针安装座，包括：座体和安装于座体上的探针，所述座体一端的上表面开有一通孔，倾斜设置的所述通孔的上端位于通孔的下端与座体另一端之间，一簧片的连接部与座体另一端的上表面固定连接，延伸至通孔上方的所述簧片的主体部上开设有一位于其连接部与通孔之间的安装通孔，当所述簧片的主体部向上折弯时，所述安装通孔远离连接部的一端与倾斜的通孔共线且下端自通孔内穿出的所述探针的上端穿入安装通孔内。本实用新型既便于对探针的安装和对探针进行精确的单向调节，又可保证测试时探针与芯片之间作用力的稳定性与一致性，提高测试结果的精度和一致性、可比性、重复性。
- 用于芯片测试探针安装
- [实用新型]探针调节支架-CN202221270014.1有效
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黄建军;吴永红;赵山;胡海洋
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苏州联讯仪器有限公司
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2022-05-24
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2022-12-27
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G01R1/04
- 本实用新型公开一种探针调节支架，包括：本体、位于本体下方的悬板和安装于悬板一端的探针座，探针座上安装有用于与待测试芯片电接触的探针，本体与悬板之间通过一竖直设置的弹性件连接，探针座一端的上表面开有一通孔，倾斜设置的通孔的上端位于通孔的下端与探针座另一端之间，一簧片的连接部与探针座另一端的上表面固定连接，延伸至通孔上方的簧片的主体部上开设有一位于其连接部与通孔之间的安装通孔，当簧片的主体部向上折弯时，安装通孔远离连接部的一端与倾斜的通孔共线且下端自通孔内穿出的探针的上端穿入安装通孔内。本实用新型既可以在未安装探针时遮蔽、保护通孔，又便于对探针的安装与精确、单向调节。
- 探针调节支架
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