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- [实用新型]一种多晶元减薄工艺处理系统-CN202121523398.9有效
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耿林茹;高伦
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河北光森电子科技有限公司
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2021-07-06
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2022-01-25
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B24B7/22
- 本实用新型涉及晶元生产技术领域,尤其是一种多晶元减薄工艺处理系统,包括机架、多轴研磨机器人和研磨工位,机架内固定有调节电机,调节电机的输出端固定有调节环,研磨工位包括第一工件座、第二工件座和第三工件座,第一工件座、第二工件座和第三工件座的外壁均设有限位环,机架、第二工件座和第三工件座的内壁均设有限位槽,第一工件座、第二工件座和第三工件座的底部分别设有第一调节座、第二调节座和第三调节座,本实用新型可适配不同型号尺寸晶元的减薄作业,相比与传统的晶云减薄机,可实现一机多用,调节便捷,工作效率高,适配性强,具有市场前景,适合推广。
- 一种多晶元减薄工艺处理系统
- [实用新型]一种芯片老化测试装置-CN202121550815.9有效
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耿林茹;李娜
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河北光森电子科技有限公司
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2021-07-08
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2021-12-14
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G01R31/28
- 本实用新型涉及芯片测试技术领域,尤其是一种芯片老化测试装置,包括芯片检测端子、传送带和旋转气缸,旋转气缸固定在传送带机架一侧,旋转气缸的顶部固定有支架,支架的两端对称固定有两个伸缩气缸,伸缩气缸的输出端固定有夹持气缸,芯片检测端子固定在夹持气缸的底部,夹持气缸设有两个相对位移的输出端,夹持气缸的输出端固定有移动拨块,传送带上等距均分固定设有若干夹持工装,夹持工装上以可拆卸的方式安装内置芯片的芯片载盒,本实用新型自动化程度高,能对测试的芯片进行合格和不合格的有效分类分离,可连续测试,自动卸料,工作效率高,具有市场前景,适合推广。
- 一种芯片老化测试装置
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