专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]抗菌医疗设备及其生产方法-CN201080022051.4有效
  • 相泽守;干川智之;石井贤;船尾阳生 - 学校法人明治大学;学校法人庆应义墪
  • 2010-05-19 - 2012-04-25 - A61L27/00
  • 本发明的目的是提供一种抗菌医疗设备,该抗菌医疗设备在体内具有足够的抗菌活性,并与活组织具有极好的相容性,而且还能够长时期保持抗菌活性,且具有高安全性。该抗菌医疗设备的特征在于磷酸肌醇键合于医疗设备的Ca化合物,所述医疗设备的表面至少涂有Ca化合物层或者所述医疗设备包含Ca化合物。如上面所述的抗菌医疗设备,其中银离子键合于磷酸肌醇。提供一种用于生产抗菌医疗设备的方法,该方法包括使其表面至少涂有Ca化合物层的医疗设备或者包含Ca化合物的医疗设备接触磷酸肌醇水溶液,以获得其中磷酸肌醇键合于Ca化合物的抗菌医疗设备。用于生产抗菌医疗设备的方法,其中磷酸肌醇键合于Ca化合物,然后使Ca化合物接触含有银离子的水溶液,以获得其中银离子键合于磷酸肌醇的抗菌医疗设备。
  • 抗菌医疗设备及其生产方法
  • [发明专利]生产装置的异常停止避免方法和异常停止避免系统-CN02160295.6有效
  • 石井贤;中尾隆;牛久幸广;佐俣秀一 - 株式会社东芝
  • 2002-08-30 - 2003-05-21 - F02M3/09
  • 提供进行正确故障时间的预测,可进行安全低成本的维护的异常停止避免系统。包含反应室(521);将反应室(521)置于减压状态的真空泵(18,19);向反应室(521)导入气体的气体供给控制系统(51);测定真空泵(18,19)的特征量的时间系列数据的特征量传感器(31~37);实时控制反应室(521)、真空泵(18,19)和气体供给控制系统(51)的实时控制器(531);通过对时间系列数据的第一实时解析取得第一故障诊断数据,通过对第一故障诊断数据的第二实时解析取得第二故障诊断数据,由此预测故障的故障实时判定模块(533)。判断为异常停止的情况下,由气体供给控制系统(51)向反应室(521)导入清洁(purge)用气体。
  • 生产装置异常停止避免方法系统
  • [发明专利]生产装置的故障诊断方法和故障诊断系统-CN02154759.9无效
  • 中尾隆;牛久幸广;佐俣秀一;赤堀浩史;石井贤 - 株式会社东芝
  • 2002-08-30 - 2003-05-07 - G06F17/00
  • 生产装置的故障诊断方法和故障诊断系统,可在制造多品种工业制品的情况下自动应对进行故障诊断。包括被诊断生产装置5;测定被诊断生产装置5的特征量的特征量传感器32~37;驱动控制被诊断生产装置5的实时控制控制器531;根据特征量传感器32~37的输出进行故障实时判定的模块533;将参照生产装置的特征量的数据作为装置信息数据库记录的装置信息存储装置103;包含驱动控制被诊断生产装置5的制造过程序列的方法和负荷试验序列的方法的过程管理信息数据库并向实时控制控制器531输出方法的过程管理信息存储装置102。
  • 生产装置故障诊断方法系统
  • [发明专利]半导体制造装置的寿命诊断方法-CN02147030.8无效
  • 佐俣秀一;牛久幸广;石井贤;中尾隆 - 株式会社东芝
  • 2002-08-30 - 2003-03-19 - H01L21/205
  • 提供一种不受半导钵制造中涉及的处理条件的变动和电源变动以及机械误差影响的半导体制造装置的寿命诊断方法。该方法包括(1)测定半导体制造装置没有恶化时的特征量的基准时间系列数据(步骤S11);(2)从基准时间系列数据求出基准自共分数函数(步骤S12);(3)从该基准自共分数函数提取处理条件的变动和电源引起的基准变动,求出该基准变动的周期(步骤S13);(4)在成为半导体制造装置的评价对象的序列中,测定特征量的诊断用时间系列数据(步骤S14);(5)从该诊断用时间系列数据求出诊断用自共分数函数(步骤S15);(6)使用比基准变动周期短的周期成分从该诊断用自共分散函数决定半导体制造装置的寿命(步骤S16)。
  • 半导体制造装置寿命诊断方法

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