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- [发明专利]晶圆测试方法-CN202310686132.3有效
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王朋;梁君丽;王柏翔;杨锃
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合肥晶合集成电路股份有限公司
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2023-06-12
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2023-09-08
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H01L21/66
- 本发明提供了一种晶圆测试方法，提供一晶圆，放置于承载台上，晶圆具有匹配信息；提供电磁波发射器和电磁传感器，电磁波发射器和电磁传感器均位于承载台的上方，电磁波发射器发射电磁波投射于晶圆的表面和承载台的表面，电磁传感器接收晶圆的表面和承载台的表面反射的电磁波以形成晶圆的厚度信号，以及利用晶圆的厚度信号获得晶圆的厚度值；根据晶圆的厚度值及匹配信息获得晶圆的针压量，实现根据晶圆的厚度值自动分配针压量；然后探针机获取晶圆的针压量，并根据晶圆的针压量对晶圆进行测试，自动分配晶圆的针压量能够有效降低晶圆测试异常的可能性，并且提高测试效率。
- 测试方法
- [实用新型]一种细胞培养皿叠落架-CN202223499001.4有效
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季科研;樊立洁;王柏翔
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浙江大学医学院附属口腔医院
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2022-12-27
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2023-07-14
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C12M1/00
- 本实用新型公开了一种细胞培养皿叠落架，包括壳体，所述壳体顶部的中端固定安装有伺服电机，所述伺服电机的输出端固定连接有螺纹杆，所述壳体中端的内表面开设有升降槽，所述升降槽内腔的底部活动连接有升降块，所述升降块与螺纹杆螺纹连接，所述升降块的左右两侧均固定连接有升降托板。本实用新型通过外置控制器开启伺服电机工作，伺服电机带动螺纹杆转动，螺纹杆带动升降块在升降槽的内腔向上运动，升降块带动升降托板向上运动，升降托板带动滑块在限位槽的内腔向上运动，滑块通过连接杆带动盖板向上运动，达到了自动化程度高的目的，解决了现有的叠落架不具备自动化程度高的功能，导致满足不了人们使用需求的问题。
- 一种细胞培养皿叠落架
- [实用新型]一种垃圾焚烧烟气处理装置-CN202320327313.2有效
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王柏翔;孙松山;黄宗芬;孙杰
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山东泰翔环保工程有限公司
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2023-02-27
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2023-06-16
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B01D46/48
- 本实用新型公开了一种垃圾焚烧烟气处理装置，包括底板，所述底板的顶部设置有处理装置，所述底板顶部的前侧与后侧均固定连接有支架，所述支架远离底板的一侧延伸至处理装置的外侧并与处理装置活动连接，所述底板的顶部固定连接有弹板，所述弹板远离底板的一侧与处理装置的底部接触，所述弹板具有弹性，所述处理装置的正面与背面均固定连接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的输出端与底板的顶部接触，所述电动伸缩杆的输出端通过销轴活动连接有滚轮，所述滚轮的外表面与底板的顶部接触。本实用新型能够提高烟气处理装置的结构功能性，防止大量焚烧灰尘粘黏在处理装置的内部，防止处理装置受到堵塞，便于用户进行清理。
- 一种垃圾焚烧烟气处理装置
- [实用新型]一种垃圾焚烧炉用静电除尘器-CN202320327314.7有效
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孙松山;王柏翔;孙杰
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山东泰翔环保工程有限公司
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2023-02-27
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2023-06-16
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B03C3/76
- 本实用新型公开了一种垃圾焚烧炉用静电除尘器，包括静电除尘组件，均连通在静电除尘组件底部两侧的出灰斗组件，所述出灰斗组件的内侧固定连接有横板，所述横板的底部固定连接有撞盒，所述撞盒内腔的顶部固定连接有马达，所述马达的输出端固定连接有蜗杆，所述撞盒内腔背面的两侧均通过轴承活动连接有蜗轮，所述蜗轮的内侧与蜗杆啮合，所述蜗轮正面的外侧固定连接有转销，所述转销的表面套接有竖框，所述竖框的顶部与底部均与撞盒的内壁滑动连接，所述竖框的外侧固定连接有撞板。本实用新型静电除尘器改变了传统出灰不彻底的现象，采用了撞板进行震荡灰尘的方式，就不会让灰尘吸附在出灰斗的内壁上，也不会导致出灰不彻底。
- 一种垃圾焚烧静电除尘器
- [发明专利]影像感测器-CN202211369884.9在审
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郭信宏;张育淇;涂宗儒;吴庆强;王柏翔
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采钰科技股份有限公司
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2022-11-03
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2023-05-19
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H01L27/146
- 本发明提供一种影像感测器，该影像感测器包含第一像素阵列。第一像素阵列包含多个光电二极管以及多面体结构。多面体结构位于光电二极管上方。多面体结构配置以将入射光区分为多个光束。多个光束分别聚焦于光电二极管。多面体结构包含底面、顶面以及至少一个侧面。底面位于侧面与光电二极管之间，且多面体结构的垂直投影与光电二极管重叠。多面体结构配置以将入射光区分为多个朝向光电二极管的光束。除此之外，光束的数量可取决于多面体结构的侧面的数量。光束聚焦的位置可取决于多面体结构的顶面的面积、多面体结构的高度或者多面体结构的折射率。如此一来，光束的聚焦位置可根据光电二极管的位置而定位。因此，可提升光电二极管的表现。
- 影像感测器
- [发明专利]WAT测试机台的参数确定方法-CN202310056384.8有效
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王桃环;梁君丽;王柏翔;杨锃
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合肥晶合集成电路股份有限公司
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2023-01-19
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2023-05-12
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G01R31/28
- 本申请提供了一种WAT测试机台的参数确定方法。该方法包括：分别用目标测试机台和标准测试机台对同一个测试片的预定区域进行多次测试，分别得到多个第一数据组和多个第二数据组；获取参考深度参数和预备深度参数；在预备深度参数与参考深度参数的差值不在第一预定范围内的情况下，将参考深度参数设置为目标测试机台的目标深度参数，且调整目标测试机台的测试台高度，使得目标深度参数的大小与测试台高度的变化量的和/或差等于预备深度参数的大小。该方法在预备深度参数和参考深度参数有差异时，调整目标机台的测试台高度来弥补差异，解决了现有技术中无法在保证探针与测试片之间良好的接触质量的情况下统一所有WAT机台的深度参数的问题。
- wat测试机台参数确定方法
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