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- [发明专利]测量装置与测量方法-CN201280058941.X有效
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玉田作哉
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索尼公司
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2012-10-29
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2014-07-30
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G01N21/65
- 为了提供了一种利用时间分解测量能够高灵敏度地测量分子振动的弛豫时间的测量装置和测量方法。这个测量装置设置具有:光源单元,用于发出脉冲激光,该脉冲激光用作用于激发测量样品中的预定分子振动的泵浦光和斯托克斯光以及与泵浦光或斯托克斯光具有相同波长的探测光,通过预定的参考频率调制该探测光的强度;脉冲控制单元,用于产生由所述光源单元所生成的探测光的时间延迟,并且在其上将泵浦光、斯托克斯光和时间延迟的探测光引导至测量样品;以及检测单元,用于检测透过测量样品的透射光或来自测量样品的反射光。利用测量样品的时间分解受激拉曼增益光谱或时间分解受激拉曼损耗光谱来测量测量样品中的分子振动的弛豫时间。
- 测量装置测量方法
- [发明专利]光记录介质主盘曝光装置及光记录介质主盘曝光方法-CN200380100142.5无效
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玉田作哉
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索尼株式会社
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2003-10-14
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2005-10-19
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G11B7/125
- 本发明公开了一种光记录介质主盘曝光装置,包括根据记录信息调制曝光光源(1)发出的光强度的调制组件(3);和聚焦光学系统(9),该系统用于将经由调制组件(3)调制的光聚焦在光记录介质主盘(11)上的光致抗蚀剂(12)上,从而根据记录信息构图曝光光致抗蚀剂(12)。曝光光源(1)由重复频率处于一倍至二十倍于所述记录信息时钟频率范围内的整数倍的超短波脉冲激光器组成。该光记录介质主盘装置包括外同步机构,以改变该超短波脉冲激光器的谐振腔长度,将超短波脉冲激光器的重复频率锁模成与时钟频率同步,使超短波脉冲激光器发射出脉冲,从而高精度地形成微凹坑。
- 记录介质曝光装置方法
- [发明专利]光记录和重放方法及光记录媒体-CN03800136.5无效
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佐飞裕一;岩村贵;小山田光明;玉田作哉
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索尼公司
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2003-01-22
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2004-05-19
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G11B7/0045
- 本发明提供一种光记录媒体,其中层叠有两或三层信息记录层,且对应于距光记录媒体入射侧有一定距离的信息记录层,仍能有效地完成光的入射和光的返回,具有满意的记录和重放信息的特性;同时提供一种光记录和重放方法,用于至少记录或重放光记录媒体的信息。所述光记录媒体(10)包括在一光记录媒体的光入射侧主平面和另一对面侧的主平面之间的多个信息记录层(21)(22),最靠近另一侧主平面的第一信息记录层(21)为相位调制型的信息记录层,另外的信息记录层(22)为反射调制型的信息记录层。由第一信息记录层(21)完成相位调制型信息的记录或重放,且由其它信息记录层(22)完成反射调制型信息的记录或重放。
- 记录重放方法媒体
- [发明专利]光记录介质,再现装置,以及记录再现装置-CN01125192.1无效
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玉田作哉
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索尼株式会社
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2001-05-16
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2002-04-03
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G11B7/24
- 一种光学记录介质,它具有一个包含发光层(3)和记录层(2)的叠层结构部分(4)。光发射层(3)由受再现激光激励发射荧光的发光材料构成,而记录层(2)是由一种至少其折射率或吸收率相对于由记录光所致发光层发出光是可变的材料制成。记录层(2)设置在比发光层(3)更靠近引入再现激光的一侧。于是,在照射再现激光时,通过改变折射率或吸收率而记录在记录层上的记录信息,作为发光层(3)所发出光的光强改变,而从记录层中读取出来。此光学记录介质可以成为产生高信噪比再现信号的光学存储器。
- 记录介质再现装置以及
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