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[发明专利]一种固态存储AI协处理器和固态存储系统-CN202210062548.3在审
发明人： 潘玉茜;陈毅成;肖军 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2022-01-19 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种固态存储AI协处理器和固态存储系统，涉及固态存储技术领域。其中，固态存储AI协处理器包括通过数据总线相连接的中央处理器、存储器、加密协处理器、AI协处理器、固件保护协处理器和通信接口，其中，中央处理器用于执行与固态存储功能相关的各项指令；存储器用于存储数据；加密协处理器用于对存储器中的数据进行加密和解密以及对访问者的身份进行验证；AI协处理器用于对外接的闪存芯片进行耐久性检测和寿命预测，以及提供硬件加速功能；固件保护协处理器用于保护固件不被恶意篡改并对固件进行修复。上述固态存储AI协处理器可以极大的提高固态存储器的闪存管理功能，从而有效的提升固态存储器的读写性能。
一种固态存储 ai 处理器存储系统

[发明专利]闪存芯片的可靠性测试方法、装置、存储介质及设备-CN202210151700.5在审
发明人：张婵婵;张浩明;潘玉茜;熊建林 -专利权人：武汉置富半导体技术有限公司
申请日： 2022-02-18 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种闪存芯片的可靠性测试方法、装置、存储介质及计算机设备，涉及存储器测试技术领域。其中方法包括：将待测闪存芯片的测试温度调整为预定温度，并利用第一测试图样对待测闪存芯片进行第一运行次数的闪存操作；对待测闪存芯片进行烘焙处理，并在烘焙完成后利用第二测试图样对待测闪存芯片进行第二运行次数的闪存操作，其中，第二测试图样与第一测试图样为不相同的测试图样；采集待测闪存芯片在当前状态下的多个特征量；将待测闪存芯片在当前状态下的多个特征量与多个参考特征量进行一一比对，得到待测闪存芯片的可靠性测试结果。上述方法可以提高闪存芯片可靠性测试的准确性。
闪存芯片可靠性测试方法装置存储介质设备

[发明专利]一种闪存存储器数据保持能力的测试方法及装置-CN202210062545.X在审
发明人：刘政林;潘玉茜;张婵婵;张浩明 -专利权人：武汉置富半导体技术有限公司
申请日： 2022-01-19 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请公开了一种闪存存储器数据保持能力的测试方法及装置、存储介质、计算机设备，该方法包括：从待测试闪存存储器中确定待测试存储单元，并对待测试存储单元进行擦除‑编程操作；当擦除‑编程操作的操作次数达到预设操作次数阈值时，对待测试闪存存储器进行断电处理；当断电时间达到第一时长时，恢复供电，对待测试存储单元进行擦除‑编程‑读取操作；再次对待测试闪存存储器进行断电处理，并在断电后对待测试闪存存储器进行变温处理操作；当变温处理操作结束后，对待测试存储单元进行读取操作，并基于读取结果，确定待测试闪存存储器的数据保持能力。本申请能够充分考虑闪存存储器的自恢复效应，使得闪存存储器数据保持能力的测试准确度更高。
一种闪存存储器数据保持能力测试方法装置

[发明专利]一种基于动态规划的存储单元可靠性等级确定方法及装置-CN202210151702.4在审
发明人：张婵婵;潘玉茜;张浩明;刘政林 -专利权人：武汉置富半导体技术有限公司
申请日： 2022-02-18 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于动态规划的存储单元可靠性等级确定方法及装置、存储介质、计算机设备，该方法包括：通过代理器确定存储系统中每个存储单元对应的初始状态，其中，所述存储系统包括至少一个所述存储单元；基于每个所述存储单元对应的所述初始状态，通过所述代理器确定每个所述存储单元对应的至少一个目标状态，以及与每个所述目标状态对应的目标可靠性动作，其中，存储单元在每个所述目标状态对应的所述目标可靠性动作下奖励最大；基于每个所述存储单元对应的所述目标可靠性动作，通过代理器确定每个所述存储单元对应的可靠性等级。本申请实施例通过利用动态规划方法，可以方便、准确地确定存储单元的可靠性，提升存储单元可靠性确定的效率。
一种基于动态规划存储单元可靠性等级确定方法装置

[发明专利]一种闪存颗粒的筛选方法和装置-CN202210153065.4在审
发明人：熊建林;张浩明;王龙;潘玉茜 -专利权人：武汉置富半导体技术有限公司
申请日： 2022-02-18 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本申请公开了一种闪存颗粒筛选方法和装置，其中方法包括：对各待测试的目标闪存颗粒进行第一预设温度测试和第二预设温度测试，获取各待测试闪存颗粒在第一预设温度下的各筛选参数的第一参数值，以及获取各目标闪存颗粒在第二预设温度下各筛选参数的第二参数值；基于各筛选参数以及筛选参数与评分权重值的对应关系，匹配获得与各筛选参数对应的评分权重值；至少基于各待测试闪存颗粒的各筛选参数的第一参数值、各筛选参数的第二参数值以及各所述筛选参数的评分权重值，计算获得各所述筛选参数的筛选评分值；基于各闪存颗粒的各筛选参数的筛选评分值，对各闪存颗粒进行筛选，以获得筛选结果。本申请中的闪存颗粒的筛选方法可以使筛选结果更加准确。
一种闪存颗粒筛选方法装置

[发明专利]基于智能体的闪存可靠性动态侦测方法、系统及电子设备-CN202210061216.3在审
发明人：刘政林;潘玉茜;张婵婵;张浩明 -专利权人：武汉置富半导体技术有限公司
申请日： 2022-01-19 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于智能体的闪存可靠性侦测方法、系统及电子设备，其方法包括：获取目标闪存存储单元的状态，根据状态为目标闪存存储单元分配目标智能体；由目标智能体确定目标闪存存储单元的实际可执行动作，将目标闪存存储单元执行实际可执行动作后的可靠性作为实际可靠性结果；由目标智能体基于状态‑动作映射权值确定目标闪存存储单元的侦测执行动作，将目标闪存存储单元执行侦测执行动作后的可靠性作为侦测可靠性结果；根据实际可靠性结果与侦测可靠性结果，确定相符程度的评估结果；将评估结果发送至目标智能体以使目标智能体更新并保存状态‑动作映射权值。本申请动态优化智能体可靠性侦测策略，适用不同存储介质，保障数据存储完整性。
基于智能闪存可靠性动态侦测方法系统电子设备

[发明专利]存储成品的可靠性评价方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310147769.5在审
发明人： 潘玉茜;张浩明;蔡康伟;周全元;肖军 -专利权人：武汉置富半导体技术有限公司
申请日： 2023-02-21 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请公开了一种存储成品的可靠性评价方法、装置、电子设备及存储介质，涉及闪存技术领域，解决了目前存在重复的编程和擦除操作使得闪存芯片氧化层变薄以及阈值电压偏移，造成固态硬盘的可靠性难以评价的问题。该方法包括：响应于闪存测试请求，生成闪存测试指令文件，将闪存测试指令文件发送至闪存测试请求指示的存储成品；接收测试数据集，采用预设筛选模型对测试数据集进行处理，得到可靠性数据；获取多个可靠性评价，将可靠性数据与每个可靠性评价对应的数值区间进行比对，确定目标可靠性评价并输出。
存储成品可靠性评价方法装置电子设备介质

[发明专利]一种面向长时间存储的闪存可靠性测试、预测方法-CN202310182421.X在审
发明人：刘政林;潘玉茜;于润泽;汪钊旭 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2023-02-28 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向长时间存储的闪存可靠性测试、预测方法。本发明提供的面向长时间存储的闪存可靠性测试方法，基于3D NAND闪存可靠性机制设计能够更好地模拟闪存芯片在长时间存储场景下的可靠性下降过程，考虑自修复效应与阈值电压抖动对测试结果的影响，由于闪存芯片在短时间内错误数的波动较大，因此将其静置预设时间，从而提高测试结果的精度，使测试结果更贴近芯片的实际可靠性。本发明提供的面向长时间存储的闪存可靠性预测方法，以相同制造工艺为基准，在制造工艺相同的多个不同型号芯片测试数据的基础上建立可靠性预测模型，模型具有更好的泛化能力，从而实现对相同制造工艺下的闪存芯片的可靠性预测。
一种面向长时间存储闪存可靠性测试预测方法

[发明专利]一种闪存可靠性特征参数预测方法及系统-CN202211414356.0在审
发明人：刘政林;潘玉茜;于润泽;黎振豪;汪钊旭 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：本发明公开了一种闪存可靠性特征参数预测方法及系统，属于存储器技术领域。方法包括：S1，在不同目标操作下，分别计算各闪存芯片样本的可靠性特征参数在执行该目标操作前后的变化量，再根据其分布划分动作；S2，接收使用待测闪存芯片的存储系统发送的闪存可靠性状态；S3，基于当前的预测策略，预测所述闪存可靠性状态对应的动作；S4，比较上一轮预测动作与实际动作，得到回报值，并基于所述回报值更新所述预测策略；其中，所述实际动作与所述存储系统执行所述待执行操作后得到的可靠性特征参数的变化量对应；S5，重复执行S2至S4，直至达到停止条件。从而，本发明不需要庞大的训练数据预先训练就能够进行闪存可靠性特征参数预测。
一种闪存可靠性特征参数预测方法系统

[发明专利]一种基于寿命预测的存储系统损耗均衡方法及装置-CN201910950724.5有效
发明人：刘政林;潘玉茜;王志强;齐明阳 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2019-10-08 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G06F12/02 文献下载
摘要：本发明公开一种基于寿命预测的存储系统损耗均衡方法及装置，包括：对存储系统的各个存储单元进行寿命预测，预测得到各个存储单元的剩余使用次数；当存储单元进行一次读或写操作后，其剩余使用次数减1；确定各个单元的剩余使用次数中的最大值和最小值，将最大值减最小值得到最大差值；若剩余使用次数的最大差值大于预设损耗均衡阈值，则将剩余使用次数最大值对应存储单元中的数据拷贝到剩余使用次数最小值对应的存储单元；并将剩余使用次数最大值对应存储单元中的数据擦除，并将该剩余使用次数最大值对应存储单元用于热数据存储，对存储系统进行损耗均衡。本发明真实反映存储单元可使用状态，提高存储单元后期的利用率，延长存储系统的使用寿命。
一种基于寿命预测存储系统损耗均衡方法装置

[发明专利]一种基于数学模型的闪存分类方法及装置-CN202110170491.4有效
发明人：刘政林;林羽盛;潘玉茜;张浩明 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2021-02-08 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G11C16/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于数学模型的闪存分类方法及装置，该方法包括：获取目标闪存Tm次编程/擦除操作后的特征量；对所述特征量进行运算，得到特征量运算数据集合；基于特征量运算数据或所述特征量和特征量运算数据的组合构建表征闪存可靠性的数学模型；获取待分类闪存的特征量；将所述待分类闪存的特征量输入所述数学模型，得到所述待分类闪存的闪存可靠性数据，根据所述闪存可靠性数据来判断闪存可靠性等级，从而根据所述闪存可靠性等级来对所述待分类闪存进行分类。本发明能够根据闪存的可靠性等级对闪存进行分类，可以帮助使用者提前了解闪存的耗损程度，能够根据不同的使用场景选取相应等级的闪存，进而及时调整闪存的存储策略。
一种基于数学模型闪存分类方法装置

[发明专利]一种参数可配置的动态BCH纠错方法及装置-CN201810125124.0有效
发明人：刘政林;王宇;潘玉茜;李四林 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2018-02-07 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种参数可配置的动态BCH纠错方法及装置，其中方法包括，根据Flash页容量大小、冗余区空间以及错误率要求，选择合适的纠错码码长分组方案；根据Flash的比特错误率变化曲线设置与短码方案和长码方案的级别相对应的纠错能力调整阈值；Flash系统固件实时获取P/E周期数，并根据所述P/E周期数与所述纠错能力调整阈值的大小，选取合适的纠错模式级别，以实现BCH纠错参数的动态配置。区别于一种固定参数的BCH纠错方案，参数可配的BCH纠错模块可以适用于多种页容量大小的Flash芯片，因此不必在更换Flash的同时再去设计相应的纠错模块，提高整个Flash控制器的兼容性。同时固件可根据不同Page具体的P/E周期数，结合其实际出错比例，在保证可靠性的前提下尽可能提高Flash读写性能。
一种参数配置动态 bch 纠错方法装置

[发明专利]一种自适应的存储设备损耗均衡方法及系统-CN201911027908.0有效
发明人：刘政林;潘玉茜;李腾飞;林羽盛 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2019-10-28 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种自适应的存储装置损耗均衡方法及装置，属于计算机技术领域，包括：(1)通过存储单元质量模型对非易失性存储器质量评估，并建立质量评估表；(2)若质量评估表中质量最优的存储单元与质量最劣的存储单元之间的量化质量差满足阈值条件，重新设置存储单元使用优先级；(3)接收数据命令后，采用使用优先级最高的存储单元擦写，并更新存储单元对应的质量评估表和特征数据；(4)满足预设条件的存储单元，将特征数据输入存储单元质量模型更新存储单元对应的质量评估表；不满足预设条件的存储单元，转至步骤(2)；(5)直至存储设备正常使用。本发明充分考虑了存储单元的擦写次数，延长了存储设备可靠工作的时间。
一种自适应存储设备损耗均衡方法系统

[发明专利]存储介质可靠性等级判断方法及系统、存储介质、设备-CN202110066056.7有效
发明人： 潘玉茜;张浩明;刘政林 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2021-01-19 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于强化学习的存储介质可靠性等级判断方法及系统、存储介质、计算设备，该方法包括：获取存储系统中至少一存储单元的系统存储状态，将系统存储状态传输至代理器，由代理器基于系统存储状态确定存储单元对应的可靠性等级判断动作；通过存储系统对可靠性等级判断动作进行准确度评估得到评估结果，根据评估结果生成评估反馈参数；将评估反馈参数传输至代理器，基于评估反馈参数优化更新代理器。基于本发明提供的方案，能够根据实际运行环境进行动态优化，适用于不同类型的存储介质，且不需要通过预先测试获取存储介质可靠性与特征参数之间的关系。
存储介质可靠性等级判断方法系统设备

[发明专利]一种闪存的有效性预测方法、装置及存储介质-CN202110377729.0在审
发明人：刘政林;潘玉茜;张浩明 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2021-04-08 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请公开了一种闪存的有效性预测方法、装置及存储介质，其中方法包括：基于预定的擦除次数间隔，利用若干检测模型对待检测的闪存芯片进行若干次可靠性等级检测，获得若干初始检测结果；基于各所述初始检测结果确定所述闪存芯片为有效状态或确定所述闪存芯片为非有效状态。本申请通过以预定擦除次数间隔执行预测，并且通过采用多模型、多次预测的方式来获得若干初始检测结果，然后综合各初始检测结果来最终确定闪存芯片为有效状态或者为非有效状态，提高预测的准确度，有效降低因为闪存芯片数据失效导致的数据安全隐患。
一种闪存有效性预测方法装置存储介质

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