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[发明专利]用于检查锂二次电池的方法-CN202180054863.5在审
发明人： 洪昇均;李钟明 -专利权人：株式会社LG新能源
申请日： 2021-07-19 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： H01M10/42 文献下载
摘要：本发明涉及一种检查锂二次电池的方法，该方法可以通过针对每个划分的区域以及每个区域中出现的缺陷类型执行人工神经网络的学习来提高检查结果的可靠性、准确度和再现性。
用于检查二次电池方法

[发明专利]电池单元外观检查系统-CN202280003319.2在审
发明人：李银珪;洪昇均;李钟明 -专利权人：株式会社LG新能源
申请日： 2022-01-05 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： H01M10/42 文献下载
摘要：本发明涉及一种电池单元外观检查系统，包括：托盘，待检查的电池单元以多排布置装设在该托盘上；第一拍摄单元，其用于在所述托盘上水平移动的同时拍摄装设在托盘上的电池单元的上表面的外观；至少一个穿梭器，被拍摄了所述上表面的外观的电池单元装设在该穿梭器上；转移单元，其将所述电池单元从托盘转移到穿梭器；第二拍摄单元，其用于拍摄转移到所述穿梭器的电池单元的侧表面和下表面的外观；以及检查单元，其检查拍摄的图像以确定所述电池单元的外观是否有缺陷，其中，所述第二拍摄单元同时拍摄所述电池单元的所述侧表面和所述下表面，以便在一个图像中同时显示所述电池单元的所述侧表面和所述下表面的外观。
电池单元外观检查系统

[发明专利]电池固定夹具以及具有该电池固定夹具的弱焊接检查装置-CN202210055044.9在审
发明人：李银珪;林在垣;洪昇均;李钟明 -专利权人：株式会社LG新能源
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：电池固定夹具及具有该电池固定夹具的弱焊接检查装置。本技术的电池固定夹具是一种检查电池接头和电池罐的焊接强度的微电阻测量仪器的电池夹具，包括：电池固定保持器，电池固定在电池固定保持器处；固定构件，连接到微电阻测量仪器的下探针固定到固定构件，固定构件支承电池固定保持器；及可移动构件，连接到微电阻测量仪器的上探针固定在可移动构件处且可移动构件设置在电池固定保持器上方，以相对于电池固定保持器垂直地移动。当上探针的端部因可移动构件向下移动而与焊接有电池接头的电池罐的内表面和外表面中的一个接触时，下探针的与上探针的端部面对的端部与电池罐的内表面和外表面中的另一个接触，由此测量电池接头焊接部分的微电阻。
电池固定夹具以及具有焊接检查装置

[发明专利]缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法-CN201810169803.8有效
发明人： 洪昇均;李银珪;加集功士 -专利权人：住友化学株式会社;东友精细化工有限公司
申请日： 2018-02-28 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01N21/89 文献下载
摘要：本发明涉及缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。印刷装置(50)在搬运长条带状的膜(F105)的期间，在膜(F105)的沿着端缘部的记录区域(S)进行印刷，其中，印刷装置具备：印刷头(13a)，其对膜(F105)进行印刷；蛇行检测部(53)，其检测膜(F105)的蛇行；头操作部(51)，其对印刷头(13a)进行操作而使该印刷头沿与膜(F105)的搬运方向交叉的方向移动，与蛇行检测部(53)检测到的膜(F105)的蛇行相应地，头操作部(51)使印刷头(13a)移动至与记录区域(S)对置的位置。
缺陷检查系统制造装置方法印刷

[发明专利]触摸面板检查装置和方法-CN201510644460.2有效
发明人： 洪昇均;金东均 -专利权人：东友精细化工有限公司
申请日： 2015-10-08 - 公布日： 2020-05-15 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开触摸面板检查装置和方法。根据本发明的一实施例的触摸面板检查装置，包括：图像获得部，其中，获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片(glass sheet)作为一个整体区域摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像；区域设定部，其中，接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元(cell‑to‑cell)比较区域的输入；和缺陷检测部，其中，在上述图像中进行用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素的第1图像检查和用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域的第2图像检查中的至少一个，检测上述玻璃片上的缺陷。
触摸面板检查装置方法

[发明专利]缺陷检测系统和方法-CN201510690667.3在审
发明人：李银珪;严东桓;洪昇均;朴宰贤 -专利权人：东友精细化工有限公司
申请日： 2015-10-22 - 公布日： 2016-05-04 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开缺陷检测系统和方法。根据本发明的一个实施例的缺陷检测系统，作为用于检测光透射率比光反射率低的检查对象体上的缺陷的系统，包含：对上述检查对象体照射光的光源；在上述光源与上述检查对象体之间配置的光屏蔽掩模；和接收从上述检查对象体反射的光而捕捉上述检查对象体的图像的摄像设备。
缺陷检测系统方法

[发明专利]薄膜成品率预测系统及方法-CN201210260972.5有效
发明人： 洪昇均;朴宰贤;尹永根 -专利权人：东友精细化工有限公司
申请日： 2012-07-25 - 公布日： 2013-01-30 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种薄膜成品率预测系统以及方法，其用于对在制造光学薄膜时产生的缺陷进行检测以算出产品的预期成品率。本发明涉及的成品率预测系统包含：第一检查部，其在光学薄膜的制造工序中，对执行特定步骤中的光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第一缺陷数据；第二检查部，其对执行区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤中的所述光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第二缺陷数据；数据合并部，其合并所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据；以及成品率预测部，其根据由所述数据合并部合并得到的缺陷数据，算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品率。
薄膜成品率预测系统方法