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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种高速低噪声大面阵CCD成像系统及成像方法-CN201610570188.2有效
发明人：江宝坦;邱跃洪;潘志斌;王海;肖茂森;水泳 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所;西安交通大学
申请日： 2016-07-19 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：本发明提供一种高速低噪声大面阵CCD成像系统，包括相机头、CCD芯片和CCD控制器；还包括设置于相机头内部的电路PCB板，所述CCD芯片焊接在该电路PCB板上；所述电路PCB板与CCD控制器连接；由于CCD通过电路板直接与外部控制器连接，提高了信号的完整性设计，在提高CCD象元输出频率的同时又不会引入电路系统各种串扰噪声，能够实现高速低噪声的天文观测成像。
一种高速噪声大面 ccd 成像系统方法

[发明专利]反射率的测量方法、装置、可移动平台和计算机可读介质-CN201980039191.3在审
发明人：张晓鹤;水泳 -专利权人：深圳市大疆创新科技有限公司
申请日： 2019-11-25 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G01S7/48 文献下载
摘要：一种反射率的测量方法、装置(1000)、可移动平台(1100)和计算机可读存储介质，方法包括：向被测物发射光脉冲信号；接收光脉冲信号对应的反射脉冲信号；对反射脉冲信号进行采样得到采样结果；基于采样结果确定反射脉冲信号的特征值，基于发射光脉冲信号的探测装置的预设响应函数计算与特征值对应的脉冲能量值，并基于脉冲能量值计算被测物的反射率。根据实施例的反射率的测量方法、装置(1000)、可移动平台(1100)和计算机可读存储介质在基于发射光脉冲信号的探测装置的预设响应函数计算接收到的反射脉冲信号的脉冲能量值，并基于脉冲能量值计算被测物的反射率，能够高效地得到准确的反射率测量结果。
反射率测量方法装置移动平台计算机可读介质

[发明专利]标定板、测试角分辨率的方法、装置及计算机存储介质-CN201980039525.7在审
发明人：卢栋;水泳;董帅 -专利权人：深圳市大疆创新科技有限公司
申请日： 2019-10-31 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G01S7/497 文献下载
摘要：一种标定板、测试角分辨率的方法、装置及计算机存储介质。其中，测试角分辨率的方法包括：获取扫描系统向标定板进行扫描之后的点云数据，其中，标定板上包括至少一个方向上的至少一个标记物(S10)；根据点云数据，确定扫描系统在所述至少一个方向上的角分辨率(S20)。该方法使用包括至少一个方向的至少一个标记物的标定板来测试扫描系统的角分辨率，该方案简单具有通用性和普适性，并且能够得到准确的角分辨率，进而能够为扫描系统的物体检测、目标追踪等提供可靠的物体参数。
标定测试分辨率方法装置计算机存储介质

[发明专利]激光测距机的量程的测量方法及系统和存储介质-CN201980029551.1在审
发明人：李涛;水泳;陈涵;王闯 -专利权人：深圳市大疆创新科技有限公司
申请日： 2019-09-30 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01S7/497 文献下载
摘要：一种测量方法和测量系统(100)。测量方法包括激光测距机(10)向预定距离处的标定靶标(200)发射激光；激光测距机(10)接收回光并将接收到的实际回光转换为实际电信号；根据实际电信号与电信号阈值计算探测概率；及根据预定距离、第一光辐射能量、和第二光辐射能量获取最大量程。
激光测距量程测量方法系统存储介质

[实用新型]一种用于虚光轴和结构靠面的高精度角度测量系统-CN201721142630.8有效
发明人：王海;水泳;江宝坦;陆卫国;肖茂森 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2017-09-07 - 公布日： 2018-04-06 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种用于虚光轴和结构靠面的高精度角度测量系统，能够实现对反光面和非反光面角度的高精度测量。该高精度角度测量系统包括标定装置、测角仪和转台；其中标定装置包括基准平面镜、靠面平面镜和标定座；所述基准平面镜、靠面平面镜通过各自的调节架分别安装于标定座的两个垂直邻接的第一立面、第二立面，标定座还具有与第一立面、第二立面均垂直邻接的第三面，该第三面中部设置有通光孔；在角度测量时所述第一立面作为标定座的底面平放于转台上，基准平面镜作为待测设备的安装底面，靠面平面镜用于引出待测设备结构靠面的法线方向，待测设备的输出光轴通过所述通光孔被测量。
一种用于光轴结构高精度角度测量系统

[实用新型]一种高速低噪声大面阵CCD成像系统-CN201620762285.7有效
发明人：江宝坦;邱跃洪;潘志斌;王海;肖茂森;水泳 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所;西安交通大学
申请日： 2016-07-19 - 公布日： 2017-02-08 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：本实用新型提供一种高速低噪声大面阵CCD成像系统，包括相机头、CCD芯片和CCD控制器；还包括设置于相机头内部的电路PCB板，所述CCD芯片焊接在该电路PCB板上；所述电路PCB板与CCD控制器连接；由于CCD通过电路板直接与外部控制器连接，提高了信号的完整性设计，在提高CCD象元输出频率的同时又不会引入电路系统各种串扰噪声，能够实现高速低噪声的天文观测成像。
一种高速噪声大面 ccd 成像系统

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