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[发明专利]气体分析仪和多重反射单元-CN202180087592.3在审
发明人： 武田直希;东亮一;李波;大登正敬 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：本发明提供一种气体分析仪，该气体分析仪对样品气体中包含的测定对象成分的浓度进行测定，包括：供光入射的入射窗；中央镜；与中央镜相对地配置的两个以上反射镜；折返镜，该折返镜相对于中央镜配置在与入射窗相反的一侧；以及出射窗，该出射窗相对于中央镜配置在与入射窗相同的一侧，折返镜使将入射到入射窗的光折返从而返回到出射窗。
气体分析多重反射单元

[发明专利]产生源分析装置以及产生源分析系统-CN201810117262.4有效
发明人： 武田直希;李波;长谷川祥树;小泉和裕;川村雄 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2018-02-06 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：本发明提供一种能高精度地分析与产生源有关的信息的分析装置。提供一种产生源分析装置，包括：对多个测定对象成分各自的浓度获取测定地点处的时间序列的测定值的测定值获取部；对于至少一组测定对象成分计算时间序列的测定值的相关值的相关计算部；以及基于相关计算部算出的相关值来对与至少一个测定对象成分的产生源有关的信息进行分析的产生源分析部。
生源分析装置以及系统

[发明专利]气体分析仪-CN202110841890.9在审
发明人： 武田直希;东亮一;李波 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2021-07-26 - 公布日： 2022-03-04 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：希望气体分析仪能高精度地测定气体浓度。测定样品气体中包含的测定对象成分的浓度的气体分析仪包括：射出包含测定对象成分的吸收波长的光的光源部；密封样品气体的气室；获取通过气室后的光的发射光谱的光接收元件；处理光接收元件的光接收信号并对测定对象成分的浓度进行测定的信号处理电路；以及配置在从光源部到光接收元件的光路中并调整光的发射光谱的每一个波长的特性的调整部。
气体分析

[发明专利]产生源分析装置及产生源分析方法-CN201710281182.8有效
发明人： 武田直希;长谷川祥树;小泉和裕;李波 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2017-04-26 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：分析以气体形态排出的对象成分的产生源。提供一种产生源分析装置，其包含获取含对象成分的气体的浓度测定值和与气体关联而产生的粒子成分的浓度测定值的获取部以及根据气体的浓度测定值与粒子成分的浓度测定值来分析从测定地点到对象成分产生源的距离的分析部。获取部可获取生成粒子成分的原料即前驱气体的浓度测定值与由前驱气体产生的二次生成粒子成分的浓度测定值。
生源分析装置方法

[发明专利]微粒子组成分析装置-CN201610592004.2有效
发明人： 武田直希;小泉和裕;浅野贵正;长谷川祥树 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2016-07-26 - 公布日： 2021-04-06 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：虽然希望对作为测定对象的气体试料中包含的微粒子的组成和浓度进行测定，但存在由于分析装置的例如捕捉微粒子的捕捉体上吸附的气体试料以外的物质的影响而无法准确测定的问题。本发明的微粒子组成分析装置对气体试料中包含的微粒子的组成进行分析，包括：气体分析器；以及将试料气体和比较气体依次导入气体分析器的控制部，该试料气体是由于对气体试料照射激光而生成的微粒子而产生的。
微粒子组成分析装置

[发明专利]粒子检测装置-CN201610405269.7有效
发明人：田原雅哉;武田直希;小泉和裕;平山纪友 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2016-06-08 - 公布日： 2020-05-15 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：提供一种不失去单一粒子中的散射光与白炽光的同一性、并且不会过大评价粒子数的粒子检测装置。构成本发明的粒子检测装置的信号处理部(105)的特征在于，具有：第一峰值保持电路(3)，其保持从散射光检测部(1)获取到的散射光强度的峰值；第二峰值保持电路(4)，其保持从白炽光检测部(2)获取到的白炽光强度的峰值；以及阈值比较电路(7)，其将来自第一峰值保持电路的信号值与阈值进行比较，在信号值超过阈值时向第二峰值保持电路发送复位信号。
粒子检测装置

[发明专利]粒子成分分析装置及其使用方法以及粒子复合分析装置-CN201710176345.6在审
发明人：长谷川祥树;武田直希;小泉和裕;浅野贵正 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2017-03-23 - 公布日： 2017-10-20 - 主分类号： G01N1/22 文献下载
摘要：本发明提供粒子成分分析装置、粒子复合分析装置及粒子成分分析装置的使用方法。通过对捕获体照射能量线，使捕获体的温度上升。由此，粒子从捕获体脱离。在对从捕获体脱离的粒子进行分析时，在不控制捕获体的温度的情况下，捕获体的温度发生变化而难以将测定条件保持为恒定。粒子成分分析装置具有捕获体，其捕获成为测定对象的气溶胶中的粒子；能量线照射部，其向被捕获体捕获的粒子照射能量线；分析器，其基于通过能量线的照射而从捕获体脱离的粒子的脱离成分对粒子的成分和每种成分的量中的至少一项进行分析，捕获体具有温度测定部，粒子成分分析装置还具备控制部，控制部基于通过温度测定部测得的捕获体的温度对能量线照射部的输出进行控制。
粒子成分分析装置及其使用方法以及复合

[发明专利]粒子分析装置-CN201611062425.0在审
发明人：长谷川祥树;武田直希;小泉和裕;浅野贵正 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2016-11-28 - 公布日： 2017-08-04 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：本发明提供一种搭载粒子测量部和成分分析部的粒子分析装置，可在防止检测灵敏度降低的同时，扩大测量范围。该粒子分析装置包括粒子测量部，其基于试样气体中粒子所散射的激光，测量所述试样气体中的粒子的数量或者浓度；成分分析部，其测量试样气体中不同成分的粒子的含量；流路，其一端和试样气体源连接，在另一端侧的分支点，分为第1流路和第2流路，第1流路将试样气体导入粒子测量部，第2流路将试样气体导入成分分析部；第1调整部，其设置在所述第1流路，利用稀释气体稀释试样气体，通过将稀释后的试样气体导入粒子测量部，来调整粒子测量部的测量范围；以及第2调整部，其设置在第2流路，对将试样气体导入成分分析部的导入时间进行调整。
粒子分析装置

[发明专利]激光式气体分析装置-CN201610929693.1在审
发明人：东亮一;小泉和裕;武田直希;平山纪友 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2016-11-23 - 公布日： 2017-06-20 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：过去的激光分析仪需要在烟道的侧壁设置2处开口。如对已有的烟道附加设置激光分析仪，则要在烟道侧壁大费周章地进行安装加工。激光式气体分析装置具备照射部，其从烟道的侧壁的外部通过设置于侧壁的开口部向侧壁的与开口部相向的内表面照射激光；受光部，其接收由内表面反射的激光；计算部，其根据照射部输出的激光的强度以及受光部接收的激光的强度，计算通过烟道的对象气体的浓度。
激光气体分析装置

[发明专利]放射线检测装置及放射剂量测量处理方法-CN201480048230.3有效
发明人：小泉和裕;松田干彦;浅野贵正;武田直希 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2014-08-04 - 公布日： 2017-06-13 - 主分类号： G01T1/17 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种放射线检测装置、放射剂量测量处理方法、以及放射剂量测量处理程序，即使利用受光面积较小且光检测灵敏度较低的简易受光元件也能提高光检测灵敏度，从而能提高放射线检测灵敏度。为此，采用如下结构，具备放射线检测部(2)，该放射线检测部(2)根据所入射的放射线(R)的能量生成放射线检测信号；随机共振部(7)，该随机共振部(7)使放射线检测部(2)所生成的放射线检测信号产生随机共振现象来对所述放射线检测信号进行波形恢复，并输出由此获得的波形恢复信号；以及运算部(8)，该运算部(8)基于随机共振部(7)所生成的波形恢复信号测量放射剂量。
放射线检测装置放射剂量测量处理方法以及程序

[发明专利]捕集器更换机构及颗粒组成分析装置-CN201610929695.0在审
发明人： 武田直希;长谷川祥树;小泉和裕;浅野贵正 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2016-10-31 - 公布日： 2017-06-09 - 主分类号： G01N1/22 文献下载
摘要：在颗粒组成分析装置中，存在以下课题，即一旦在更换时将减压室开放到大气压力下，则要再次对整个减压室实施抽真空，花费时间使其恢复到减压状态，测定的空载时间会延长。一种捕集器更换机构，其具有杆，其保持用来捕捉颗粒的捕集器；以及连接部，其具有与设置捕集器的减压空间连接的辅助空间的至少一部分，通过使杆移动，能够在保持减压空间的减压状态的状况下，使捕集器从减压空间退避至辅助空间侧，而在大气压中开放。
捕集器更换机构颗粒组成分析装置

[发明专利]粒子测量装置-CN201610140671.7在审
发明人： 武田直希;小泉和裕;浅野贵正;长谷川祥树 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2016-03-11 - 公布日： 2017-01-11 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：提供一种能够通过更简便的装置结构来探测在粒子的测量中使用的谐振激光的振荡模式及其变化的粒子测量装置。该粒子测量装置具备：光谐振器，其使激光在两个相向的反射镜之间往复，来形成使该激光的能量放大而得到的谐振激光；粒子输送单元，其以使作为测定对象的气溶胶的粒子横穿所述谐振激光的光路的方式输送该粒子；散射光接收单元，其接收在所述气溶胶的粒子被所述谐振激光照射时产生的散射光；以及处理装置，其接收由所述散射光接收单元接收光而得到的受光信号，其中，所述处理装置构成为：基于所述受光信号来输出受光脉冲，导出所述受光脉冲中的在时间上相邻的受光脉冲的脉冲间时宽。
粒子测量装置

[发明专利]粒子复合分析装置的校正方法以及粒子复合分析装置-CN201610140820.X在审
发明人：长谷川祥树;小泉和裕;浅野贵正;武田直希 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2016-03-11 - 公布日： 2017-01-04 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：提供一种粒子复合分析装置的校正方法以及粒子复合分析装置，在适于多方面地分析测定对象粒子的粒子复合分析装置中能简便且准确地进行为了维持、提高装置的可靠度而需定期进行的装置的校正操作。在该粒子复合分析装置中，具备粒子测量装置和粒子成分分析装置，向粒子测量装置和粒子成分分析装置导入至少已知数量、大小及成分的校正粒子来进行分析，基于由粒子测量装置测定出的校正粒子的数量和大小对粒子测量装置的灵敏度进行校正，基于由粒子成分分析装置测定出的校正粒子的成分量对粒子成分分析装置的灵敏度进行校正。另外，基于粒子成分分析装置的捕捉体上的校正粒子的捕捉状态对导入到粒子成分分析装置的粒子相对于捕捉体的照射轴进行校正。
粒子复合分析装置校正方法以及

[发明专利]粒子束形成装置-CN201380051775.5在审
发明人： 武田直希;田原雅哉;小泉和裕;平山纪友;竹川畅之;宫川拓真 -专利权人：富士电机株式会社;国立大学法人东京大学
申请日： 2013-10-17 - 公布日： 2015-06-24 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：本发明提供一种能够形成粒子束，并对形成的粒子束的空间分布进行评价且控制的粒子束形成装置。一种粒子束形成装置，其从粒子分散于气体的粒子源形成线状或者圆锥状的粒子束，其具有减压容器(12)、粒子束生成装置(3)及粒子束评价装置，其中，所述减压容器(12)的内部被减压；所述粒子束生成装置(3)的一端配置在减压容器(12)外，另一端配置在减压容器(12)内，获取减压容器(12)外的粒子源(2)，将粒子束导入减压容器(12)内；所述粒子束评价装置对减压容器(12)内的粒子束的空间分布进行评价。优选地，该粒子束评价装置具备光照射装置、散射光检测装置(14)及信号处理装置(15)，其中，所述光照射装置对粒子束照射光；所述散射光检测装置(14)检测向粒子束照射的光与粒子接触而产生的散射光；所述信号处理装置(15)对散射光检测装置(14)输出的与该散射光的强度及/或频率相对应的信号进行记录并处理。
粒子束形成装置

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